《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 測試測量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > PXI平臺在電子制造業(yè)的應(yīng)用方案
PXI平臺在電子制造業(yè)的應(yīng)用方案
摘要: 隨著技術(shù)的演進(jìn)及市場需求的改變,,電子制造及測試的方式也隨之變化。二十一世紀(jì)人們對產(chǎn)品技術(shù)的提升,、產(chǎn)品生命周期的縮短及價(jià)格的壓力讓電子制造業(yè)者開始把目光轉(zhuǎn)向了PXI平臺,。
關(guān)鍵詞: 自動測試系統(tǒng) PXI平臺
Abstract:
Key words :

    隨著技術(shù)的演進(jìn)及市場需求的改變,,電子制造及測試的方式也隨之變化。二十一世紀(jì)人們對產(chǎn)品技術(shù)的提升,、產(chǎn)品生命周期的縮短及價(jià)格的壓力讓電子制造業(yè)者開始把目光轉(zhuǎn)向了PXI平臺,。和傳統(tǒng)的基于PC,GPIB或VXI的測試平臺相比,,PXI平臺更具競爭力,。
  生產(chǎn)測試平臺的需求

 

  當(dāng)需要構(gòu)建新的測試平臺時,人們的選擇往往集中在以下因素:

  1,、系統(tǒng)空間對于大量電子制造商或代工廠來說,,在有限的空間內(nèi)達(dá)成更高的產(chǎn)能是一個非常重要的問題。因而,,測試平臺占用的空間越小越好,。下表是一個VXI與PXI平臺功能密度的比較。

  系統(tǒng)所需空間所能提供的槽數(shù)功能密度VXI,,C-size 9U 12 1.3 PXI 9U 13-19 1.4-2.1 PXI 5U 6-17 1.2-3.2

  表1模組平臺功能密度的比較

  從中我們可以看出,,和VXI相比,PXI系統(tǒng)組態(tài)功能密度比更高,,這就意味著在提供同樣功能的測試系統(tǒng)時,,PXI平臺所占的空間更小,。

  2、測試治具對于模塊類產(chǎn)品的生產(chǎn)測試,,測試治具會是選擇平臺時會考慮的另一個重要因素,。對于測試治具來說,人們要求它具有可靠的機(jī)械接口及接頭,,同時要求接收器與工具間接頭能夠多樣化,。而對與測試平臺來說,人們則要求測試系統(tǒng)平臺與測試工具間的兼容性和整體性,。

  3,、系統(tǒng)控制器系統(tǒng)控制器有外接式和嵌入式兩種選擇。使用外接式系統(tǒng)控制器可以節(jié)省主機(jī)插槽數(shù)量,,提供更多的外設(shè)插槽給儀器設(shè)備或切換器使用,,同時簡化與計(jì)算機(jī)外設(shè)設(shè)備的聯(lián)機(jī)管理,另外價(jià)格低廉且系統(tǒng)功能容易升級,,但是需要PCI bus的延伸套件,。采用嵌入式控制器則不需要另外一臺主機(jī)作為控制用,最大的好處就是節(jié)省空間,。

  4,、儀器與信號切換器儀器的模塊化、高密度整合性及高速數(shù)據(jù)傳輸速度等特性都是系統(tǒng)設(shè)計(jì)者必須考慮的因素,。如果在系統(tǒng)中,,信號切換器的需求相當(dāng)可觀時,如何選擇合適的平臺規(guī)格將會影響使用者的系統(tǒng)尺寸及價(jià)格,。

  凌華科技解決方案依靠在PXI/cPCI領(lǐng)域的領(lǐng)先優(yōu)勢和完整的產(chǎn)品線,凌華科技可以提供比較完整的解決方案:

  硬件架構(gòu):系統(tǒng)平臺采用凌華3U或者6U PXI機(jī)箱,;系統(tǒng)控制器可以采用嵌入式控制器,,也可以采用凌華工控機(jī)作為擴(kuò)展用主機(jī),利用PCI/PXI- 8570總線擴(kuò)展卡擴(kuò)展至PXI平臺,;信號切換部分可以使用凌華科技的各種通用繼電器模塊或是第三方提供的各種切換模塊(涵蓋從低頻到RF的數(shù)百種切換模塊),;模擬量/數(shù)字量輸入/輸出部份可以采用凌華提供的各種采集模塊和計(jì)數(shù)器模塊;另外凌華科技還可以提供包括數(shù)字存儲示波器模塊,、任意波形發(fā)生器模塊,、 6位半數(shù)字萬用表模塊,滿足各種不同的測試需求,。如果需要的話,,還可以通過PXI接口的GPIB模塊,連接到其它外部GPIB設(shè)備,?! ?/span>

  軟件驅(qū)動程序:凌華產(chǎn)品提供的驅(qū)動程序可以很好地支持VB/VC/LabVIEW等多種驅(qū)動程序,。

  測試治具:測試治具一般由廠商的測試部門自行實(shí)現(xiàn),基于PXI的模塊大量采用通用的SCSI接口,,便于廠商自行開發(fā)外部接口,,完成PXI測試平臺與測試治具的連接。

  系統(tǒng)評價(jià)結(jié)合了開放而高性能的PCI總線,、CompactPCI強(qiáng)健的機(jī)械性能及高密度整合的優(yōu)勢,,基于PXI的測試系統(tǒng)具有占用空間小、高速,、兼容性強(qiáng),、成本低等諸多優(yōu)點(diǎn)。對大量生產(chǎn)的電子制造測試系統(tǒng)而言,,PXI平臺無疑是一個極具競爭力的新選擇,。

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載,。