美國國家儀器有限公司（National Instruments,，簡稱NI）擴展其PXI平臺的功能，通過新發(fā)布的每個引腳參數(shù)測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊（SMU）用于半導體的特性描述和生產測試,。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU,， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本,，縮短測試時間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性,。
　
　　使用NI PXIe-6556高速數(shù)字I / O模塊,，工程師可以產生和獲得一個高達200 MHz的數(shù)字波形或在同一針腳上，以 1% 誤差率執(zhí)行 DC 參數(shù)測量,，從而簡化布線,，減少測試時間和提高直流參數(shù)測試儀的測量密度。此外,，其內置的時序校準功能可自動調整時序,，幫助工程師們消除不同連線與線路長度所造成的時序偏移，,。NI PXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NI SMU切換,，工程師可基于硬件或軟件觸發(fā)器，進而觸發(fā)參數(shù)測量,。
　
　　NI PXIe-4140/41 SMU模塊可用于PXI Express插槽,，提供多達4個SMU的通道，而4U的單一PXI機箱可提供多達68個SMU的通道,以輕松應對高針數(shù)設備的測試,。高達每秒600,000樣本的采樣率,，工程師們可以大大減少測量時間，或獲取設備重要的瞬態(tài)特性,。此外,，NI PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術，工程師們可根據任何給定的負載自定義調整SMU輸出,，以實現(xiàn)最大的穩(wěn)定性和最小的瞬態(tài)倍,。傳統(tǒng)SMU技術無法提供此功能。
 　
　　結合使用NI LabVIEW系統(tǒng)設計軟件,，這些新PPMU和SMU模塊為半導體測試提供了模塊化的軟件定義測量方式,，從而提高質量，降低成本并減少整個測試驗證,，特性研究和生產的時間,。 LabVIEW具有靈活性編程語言與先進的工程工具的力量，使工程師能夠滿足特定,、定制化的要求,。
　
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