文獻標識碼: A
文章編號: 0258-7998(2011)05-0045-04
聲源的指向性反映了聲源在不同方向上的聲輻射特性[1],。強指向性聲源具有指向性好,、聲束可控、傳播距離遠等特點,,在軍事,、商業(yè)、教育等領域具有廣闊的應用前景[2],。本文提出了一種基于硬件電路進一步增強聲源指向性的方法,。利用復雜可編程邏輯器件(CPLD),將相控技術引入到聲發(fā)射陣列,,通過揚聲器陣列前方的波陣面耦合,,進一步增強聲波在空氣中的相互疊加,用以提高聲源的指向性,。
1 系統(tǒng)原理
本系統(tǒng)以CPLD為控制核心,,通過控制輸入揚聲器陣列的信號相位(延時),實現(xiàn)揚聲器各陣元發(fā)射的聲波束在空間疊加合成,,從而形成聲束聚焦的效果[3],。如圖1所示,,如果各陣元的激勵時序是兩端陣元先激勵,逐漸向中間陣元加大延遲,,使得合成的波陣面指向一個曲率中心,,形成波束能夠在空間聚焦,以達到增強聲源指向性的目的,。
系統(tǒng)總體框圖如圖2所示,。聲發(fā)射陣列輸入語音信號,通過濾波和A/D采樣單元將該信號進行模數(shù)轉(zhuǎn)換,,同時按鍵顯示單元設定各陣元的延時參數(shù),,CPLD根據(jù)外部設定的延時值進行數(shù)據(jù)處理,經(jīng)由D/A轉(zhuǎn)換后的模擬信號通過功率放大器驅(qū)動揚聲器陣列向空氣中發(fā)射聲波,。
2 系統(tǒng)硬件設計
2.1 CPLD及存儲器接口設計
(1)CPLD EPM570簡介
系統(tǒng)采用Altera公司生產(chǎn)的CPLD中的EPM570作為核心控制芯片,。它屬于MAX II器件系列中的一員,采用基于成本優(yōu)化的六層金屬0.18 μm,、嵌入Flash工藝,,其功率只有以往MAX器件的1/10,而且成本降低一半,。MAX II器件在所有的CPLD系列中具有較低的單位I/O成本和較低的功耗,,能夠代替成本更高或功率更高的FPGA、ASSP和標準邏輯器件,??商峁?40~2 210個邏輯單元(LE)、多達272個I/O管腳,。
EPM570實現(xiàn)的功能是:實時時鐘產(chǎn)生100 kHz的信號作為MAX120的采樣時鐘,。每采樣一次,EPM570就把數(shù)據(jù)存儲在存儲器中,,并根據(jù)單片機送來的延時值找到相應的數(shù)據(jù)用于DA轉(zhuǎn)換,。其功能將依靠Verilog HDL語言編程下載到芯片中來實現(xiàn)。
(2)存儲器接口設計
存儲器選用靜態(tài)存儲器HM62256,,它具有32 kB空間,,采用0.8 μm的CMOS工藝,轉(zhuǎn)換速度為85 ns,。HM-62256管腳與CPLD直接連接,,完成數(shù)據(jù)的存儲與讀取。
2.2 放大濾波電路
聲發(fā)射陣列的輸入信號為模擬語音信號,,信號幅度較小且容易夾雜干擾信號,,所以需要對該信號進行處理。系統(tǒng)采用INA118對信號初步放大,,利用OPA606構建二階有源低通濾波器[4],。
2.3 A/D采樣電路
A/D采樣電路是將輸入的模擬信號轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字量,,以便后續(xù)模塊進行數(shù)字化處理。系統(tǒng)采用MAXIM公司的MAX120作為A/D采樣器件,,其轉(zhuǎn)換時間是1.6 μs,采樣率是500 kS/s,。采樣的數(shù)據(jù)依次循環(huán)存儲在存儲器中,,由CPLD根據(jù)設定的延時時間從相應的存儲單元調(diào)用數(shù)據(jù)交給DA轉(zhuǎn)換。圖3為放大濾波與A/D采樣電路原理圖,。
2.4 按鍵顯示電路
系統(tǒng)利用鍵盤按鍵實現(xiàn)現(xiàn)場調(diào)試和數(shù)據(jù)參數(shù)調(diào)整,。本系統(tǒng)設計4個按鈕來控制光標的左右移動和信號延時值的增減。LCD默認顯示第一路信號設定的初始值,,單片機通過控制LCD的讀/寫選擇端和數(shù)據(jù)/命令選擇端來顯示信號延時值,。
2.5 D/A轉(zhuǎn)換電路
系統(tǒng)采用National公司DAC0800實現(xiàn)數(shù)模轉(zhuǎn)換,將經(jīng)過延時處理的數(shù)字信號轉(zhuǎn)變成模擬信號,,并通過功率放大器驅(qū)動揚聲器陣列發(fā)聲,。
3 系統(tǒng)軟件設計
3.1 相控延時設計
對于聲發(fā)射陣列,相鄰兩列聲波的延時計算公式為t=d sinθ/c,,(d為揚聲器兩陣元間距,、θ為偏轉(zhuǎn)角度、c為聲速),,根據(jù)公式計算,,其延遲分辨率為10 μs即可。系統(tǒng)延時基于晶振時鐘計數(shù),,延時值為時鐘周期的整數(shù)倍,。以圖4為例可以說明相控發(fā)射延時(一個通道)的實現(xiàn)原理。
相控發(fā)射時CPLD的內(nèi)部為每個超聲通道提供了一個14 bit的延時計數(shù)器,、一個14 bit比較器,、一個14 bit的參數(shù)寄存器,用于暫存外部對CPLD寫入的參數(shù),。一次相控發(fā)射開始之前,,外部單片機控制端先后給CPLD內(nèi)的參數(shù)輸入寄存器設置各通道發(fā)射延時值。然后CPLD發(fā)出一個同步信號,,啟動CPLD內(nèi)各通道延時計數(shù)器開始計數(shù),。當各通道預定延時值計滿后,分別從參數(shù)輸入寄存器調(diào)出數(shù)據(jù)送給DA轉(zhuǎn)換,完成整個相控發(fā)射延時過程,。相控發(fā)射延時的仿真波形如圖5所示,。其部分代碼如下:
always @(posedge clk)
case(state)
5'd0:begin
if(!busy) state<=5'd1;
end
5'd1:begin
if(busy) state<=5'd2; //查詢120轉(zhuǎn)換結束信號
end
5'd2:begin
temp62256<=data120; //讀回數(shù)據(jù)存儲
address62256<=count_address; //給出存儲地址
state<=5'd3;
end
5'd3:begin
wr62256<=1'd0; //啟動62256的讀信號
state<=5'd4;
end
5'd4:begin
wr62256<=1'd1; //清除讀信號
address62256<=count_address-din1;
state<=5'd5;
end
5'd5:begin
rd62256<=1'd0;
state<=5'd6;
end
通過按鍵對各通道預設不同的值,就能分別控制各通道的起始時刻之間的延時值,,從而達到相控延時的目的,。
3.2 按鍵顯示設計
(1)LCD顯示設計
系統(tǒng)一上電即初始化,,LCD默認顯示第一路信號設定的初始值。當有按鍵輸入改變各路信號的延時值,,顯示程序通過控制LCD的讀/寫選擇端和數(shù)據(jù)/命令選擇端來顯示當前設定值,。圖6為顯示程序流程圖。
(2)鍵盤輸入設計
采用獨立式按鍵的鍵盤結構,。設計了7位顯示字符,,不同的位置表示不同的含義:第零位表示信號通道數(shù);第1位為空格位,,目的是將通道數(shù)和后面的延時值分開,;第2~6位是顯示延時值,最大顯示值為10000,。
4 測試及結果分析
將相控聲發(fā)射系統(tǒng)用于聲發(fā)射陣列,,以8陣元線性陣列為例,圖7為現(xiàn)場實驗圖,,揚聲器間距為13.6 cm,,輸入信號為600 Hz、1 000 Hz,、1 400 Hz,。為實現(xiàn)在距離陣列中心1.5 m處聚焦,陣列兩端的信號先發(fā)出,,陣列中心的信號后發(fā)出,。以聲陣列中心為圓心、1.5 m為半徑布置一個1/4圓弧,,在圓弧上0°,、2°、5°,、10°,、15°、20°,、35°,、40°、45°,、50°,、60°、70°,、80°,、85°(與陣列中心垂直的點標記為0°,記錄數(shù)據(jù)為CH0,,依次順延)放置傳感器并與揚聲器陣列等高,。表1為600 Hz測得的聲壓值,。
聲發(fā)射陣列輻射聲波在空氣傳播中會產(chǎn)生一定的指向性。添加相控系統(tǒng)后(如圖8所示),,在同等條件下陣列主波束中心聲波強度提高了1 dB,,旁瓣的聲波強度降低,波束角(-3 dB)由原來的8.1°減小為6.7°,,表明聲波能量更為集中,,主波束變得更加尖銳,旁瓣變小,,陣列指向性得到加強。如圖9所示,,將實驗結果測得各點的聲壓值進行歸一化處理,,更直觀地反映出相控后聲場指向性增強的變化。
本文設計的基于復雜可編程邏輯器件(CPLD)的相控聲發(fā)射系統(tǒng),,實現(xiàn)了對發(fā)聲陣列各陣元輸入信號的精確延時控制,。實驗結果表明將相控技術用于聲發(fā)射陣列,能夠增強聲發(fā)射陣列的指向性,。該系統(tǒng)對強指向性聲源的進一步研究具有一定的參考價值和應用前景,。
參考文獻
[1] RABIEI A E,M k.Study on fracture behavior of partied reinforced metal matrix composites by using acoustic emission source characterization[J].Materials science and Engineering,,2000,,293(1):81-87.
[2] OLSON H F.Acoustical engineering[M].Van Noslerm Company Princlon,1957.
[3] PAUL A M,,ANDERSON J W.Ultrasonic testing using phased arrays proceedings of 15th world conference on NDT[C].Rome Italy:2000.
[4] 王成華,,王友仁,胡志忠.現(xiàn)代電子技術基礎(模擬部分)[M].北京:北京航空航天大學出版社,,2005:154-158.