Advantest 集團（東京證券交易所：6857；紐約證券交易所：ATE）旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴展、高性價比的測試機臺系列,，可用來測試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構的芯片,。
　
　　Smart Scale 系列是具備先進通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測試機臺，與惠瑞捷久經大生產考驗的 V93000 平臺完全相容,。智能測試意味著每個通道卡具有獨立的時鐘域，通過匹配受測器件的準確數據率要求，實現全面的測試覆蓋率,。配合電源調制、抖動注入和協(xié)議通訊等其他重要特性,，系統(tǒng)級壓力測試如今可在 ATE 層執(zhí)行,，提高了故障模型覆蓋范圍。
　
　　“憑借我們創(chuàng)新的 V93000 Smart Scale系列的測試系統(tǒng)和通道卡,，惠瑞捷在智能測試解決方法方面取得領先,，這些方法提供了定制的解決方案，可以為客戶降低測試成本,。”Advantest 集團旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng) (SOC) 測試部執(zhí)行副總裁)表示,。
　
　　四個等級的 Smart Scale 測試機臺（A類、C類,、S類 和 L類）分別有不同的測試頭尺寸,，使惠瑞捷可為每個客戶提供最高效的特定應用解決方案。
　
　　Wagner 補充道：“由于每個等級的測試機臺彼此完全相容,，當芯片的產量在設備生命周期內變更時,，用戶可快速輕松地把半導體器件從一個等級移至另一等級的Smart Scale機臺。目前沒有其他自動測試設備供應商有能力生產具有此功能的機臺,。”
　
　　惠瑞捷的獨特技術提高了并行測試的能力,，并帶來了行業(yè)內第一個針對晶圓測試的全性能的解決方案,可以滿足高階的片上系統(tǒng) (SOC)器件,、系統(tǒng)級封裝 (SiP)器件和晶圓級芯片尺寸封裝 (WLCSPs) 的重要性能的測試需求。
　
　　V93000 Smart Scale 測試機臺推出同時,，惠瑞捷還發(fā)布了三款新的數字通道卡,。
　
　　新的Pin Scale 1600 數字卡和Pin Scale 1600-ME（存儲器仿真）卡為每個數字通道提供了行業(yè)最廣泛的能力范圍。除了提供從DC 到每秒 1.6 千兆比特（Gbps,，早期系列的雙倍速率）的數據率范圍,，這些卡還達到了先前通道卡密度的兩倍或四倍。高度集成,、小外型封裝的新卡具有惠瑞捷 clock-domain-per-pin™,、protocol-engine-per-pin™、PRBS per pin 和 SmartLoop™ 等測試能力,，可滿足對稱高速接口的測試要求,。此外，這些卡具有精確 DC 能力,，并可執(zhí)行高效的多路并行異步測試以及并發(fā)測試,。
　
　　惠瑞捷的新款 Pin Scale 9G 卡使實速測試具備了經濟性。它將高達 8 Gbps 的數據率和與Pin Scale 1600同樣的per pin通用性相結合,，盡量提高通道使用率,，并盡量減少閑置資源。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的雙向功能,，以及單端和差分模式,。還可執(zhí)行有向量和無向量測試，滿足絕大多數測試需要,，包括面向設計驗證的并行 I/O 測試,，以及大批量生產中的串行物理層 (PHY) 測試。