《電子技術(shù)應(yīng)用》
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使用LabVIEW和FPGA來創(chuàng)建一個(gè)自動(dòng)化的微控制器測試系統(tǒng)
摘要: 使用NI公司產(chǎn)品來創(chuàng)造一個(gè)非人工測試平臺,,該平臺具有直觀用戶界面和綜合的測試案例。
Abstract:
Key words :

對于之前的應(yīng)用程序測試平臺,我們使用公司內(nèi)部開發(fā)的控制器板,,但該板需要一套單獨(dú)的兼容工具鏈來下載這些應(yīng)用程序。此外,,我們還很難對這些工具鏈的用戶界面進(jìn)行導(dǎo)航,,不得不使用額外的測試和測量設(shè)備。

有了虛擬儀器,,我們可以使用同一套軟件和模塊化硬件執(zhí)行以下測試:

  • 測試常見的協(xié)議(SPI, ASC, I2C)
  • 測試PWM,ICU
  • 測試模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器
  • 測試控制器區(qū)域網(wǎng)絡(luò)(CAN)
  • 測試時(shí)鐘和門控
  • 測試多模塊同時(shí)運(yùn)行系統(tǒng)

對于需要測試的應(yīng)用來說,,使用FPGA的可重編程功能,它和LabVIEW之間的自動(dòng)化接口 以及CAN分析儀功能,,我們可以很容易地開發(fā)我們的系統(tǒng),。

在整個(gè)框架上,我們節(jié)省了大量的時(shí)間和成本,。在此之前,,對于微控制器的每個(gè)模塊/外設(shè),測試十至二十個(gè)案例我們需要花費(fèi)四至五個(gè)小時(shí),。使用我們所創(chuàng)建的基于NI 產(chǎn)品的系統(tǒng),,相同的一組測試執(zhí)行時(shí)間在十到十五分鐘內(nèi),而且測試質(zhì)量顯著地提高,。

我們需要合適的測試平臺應(yīng)用程序以測試微控制器的不同外設(shè),。比如,為了測試SPI接口,,我們需要建立SPI主機(jī)或者從機(jī)作為測試平臺,。我們使用LabVIEW FPGA VIs(CAN接口的CAN VI)來創(chuàng)建每個(gè)測試平臺??蚣軆?nèi)測試案例構(gòu)造則是指各自的VI,。

在框架中,我們可以創(chuàng)建一個(gè)LabVIEW對象以獲取VI引用,,對于每個(gè)測試案例的需求,,都為用戶配置了輸入控件和顯示控件。執(zhí)行自動(dòng)化框架中的測試案例,,需要調(diào)用特定的VI,,配置該VI,最后運(yùn)行它,。

該框架無需用戶參與就可以執(zhí)行測試,。比如,,測量PWM信號的解決方案如下:VI測量占空比和信號頻率,然后將其保存到Excel文件中,。

另一種解決方案涉及從SPI主機(jī)接收數(shù)據(jù),。作為從機(jī)SPI 的VI 可以從主機(jī)測試設(shè)備(DUT)中接收數(shù)據(jù)。SPI從機(jī)工作在不同的波特率和變化的數(shù)據(jù)比特下,。用戶可以配置VI,而其運(yùn)行取決于測試設(shè)備(DUT)的主SPI的配置,。

然而,還有一種解決方案涉及產(chǎn)生所需的脈沖個(gè)數(shù)以測試捕獲和計(jì)數(shù)模塊,。VI可以產(chǎn)生在上升沿或者下降沿觸發(fā)的脈沖,。在VI 運(yùn)行時(shí),用戶可以配置VI以產(chǎn)生所需個(gè)數(shù)的脈沖,。

結(jié)論

使用NI公司的產(chǎn)品,,我們可以使用一套軟硬件解決方案,輕而易舉地測試不同的微控制器外設(shè),。我們使用NI的產(chǎn)品,,通過向自動(dòng)化框架提供易用的接口,使我們的測試系統(tǒng)自動(dòng)化,,這樣節(jié)省了大量的精力和成本,。

Author Information:
Zalman Rafael
Infineon Technologies
Kalyani Platina, 3rd floor, Block I #6 & 24, EPIP Zone Phase II Whitefield,
Bangalore
India
[email protected]

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