上一節(jié)講了運(yùn)放輸入偏置電流和輸入失調(diào)電流,。這一節(jié)給出輸入偏置電流測(cè)量方式,。 總體來說主要有兩種測(cè)試方法,， 一種是讓輸入偏置電流流入一個(gè)大的電阻,，從而形成一個(gè)失調(diào)電壓，然后放大失調(diào)電壓并進(jìn)行測(cè)量,，這樣就可以反算出輸入偏置,；另一種方法是讓輸入偏置電流流入一個(gè)電容,，用電容對(duì)這個(gè)電流進(jìn)行積分,，這樣只要測(cè)和電容上的電壓變化速率,，就可以計(jì)算出運(yùn)放的偏置電流。

先介紹第一種方法,，具體電路如下圖所示,，C1是超前補(bǔ)償電容以防止電路的振蕩，根據(jù)實(shí)際電路選擇,。OP2是測(cè)試輔助運(yùn)放,，需選低偏置電壓和低偏置電流的運(yùn)放。測(cè)試步驟和原理下面一步一步進(jìn)行推算,。

（1）首先測(cè)試運(yùn)放的失調(diào)電壓,。關(guān)閉S1和S2，測(cè)試出OP2運(yùn)放的輸出電壓記下Vout ,。則輸入失調(diào)電壓為：

（2）打開S2,待測(cè)運(yùn)放的Ib+流入R2,，會(huì)形成一個(gè)附加的失調(diào)電壓Vos1，測(cè)試出OP2運(yùn)放的輸出電壓記下Vout1,。則運(yùn)放同向輸入失調(diào)電壓為：

（2）關(guān)閉S2,，打開S1,待測(cè)運(yùn)放的Ib-流入R1，會(huì)形成一個(gè)附加的失調(diào)電壓Vos2,，測(cè)試出OP2運(yùn)放的輸出電壓記下Vout2,。則運(yùn)放反向輸入失調(diào)電壓為：

（4）運(yùn)放輸入偏置電流為

Ib=[(Ib+)+(Ib-)]/2

 運(yùn)放輸入失調(diào)電流為

Ios=(Ib+)-(Ib-)

這種測(cè)試方法有幾個(gè)缺點(diǎn)，一個(gè)是使用了很大的電阻R1和R2,，一般會(huì)是M歐級(jí),，這兩個(gè)電阻引入了很大的電壓噪聲。受到電阻R1和R2的阻值的限制,，難以測(cè)得FET輸入運(yùn)放的偏置電流,。

 第二種方法測(cè)試方法，是讓運(yùn)放的輸入偏置電流流入電容,，具體測(cè)試如下圖,。從圖中的公式很容易理解測(cè)試的原理，這個(gè)測(cè)試的關(guān)鍵,，是選取漏電流極小的電容,。

(1)打開S1，IB+流入電容C,，用示波器觀察Vo的變化,，結(jié)果如下圖，按上圖的方法就可以計(jì)算出IB+,。