Part13中講到了常用的軌至軌運放是采用NMOS與PMOS差分輸入級相并聯(lián)的方法。這一方法巧妙的解決了輸入信號達不到兩個電源軌的問題,。在當今軌至軌輸入的運放中得到廣泛的應用,。

       但是這種并聯(lián)差分輸入級的運放有一個先天的問題就是輸入失調(diào)電壓交越問題。如下圖所示,，為并聯(lián)差分輸入結構的運放的輸入前級,。

         下圖是這種運放的輸入失調(diào)電壓可以看出。隨著共模電壓的升高PMOS在2V（用于舉例的值）左右將關閉,，而NMOS即將打開,，就在這個節(jié)骨眼上。運放的輸入失調(diào)電壓變生了跳變,。這個可以理解,，兩組不同結構的輸入級的輸入失調(diào)電壓是不同的，在交接棒時,，這個失調(diào)電壓也完成了交接棒,。對于直流信號這個問題會引起誤差突變，對于正弦交流信號,，這個問題會引起信號的失真,。在交越點引入一個小小的臺階。

        為了解決這個問題,，TI公司設計了兩種領先的差分輸入級,。第一種結構如下圖。PMOS差分輸入級能達到負電源軌,，而達不到正電源軌,，總是差這么1V左右夠不著。我們把輸入級的電源在內(nèi)部提高1.8V,。水漲船高,，這樣的輸入級就能達到運放的正電源軌。由于只有一組差分輸入級，并不會存在輸入失調(diào)電壓交越的問題,。

        這一技術在TI的單電源運放OPAl365上得到應用,。如下圖,。

        到這并沒有結束,，另一種技術在TI的單電源軌至軌運放中得到應用。這就是自調(diào)零技術,。下圖使用了自調(diào)零技術（MOSFET Zero Drift）前后,。輸入失調(diào)電壓跳變就非常小了。

        這一技術在TI的OPA333運放中得到應用,，下表是OPA333的Vcm輸入電壓范圍,。