文獻標(biāo)識碼: A
文章編號: 0258-7998(2013)07-0041-03
基準(zhǔn)電壓源是模擬集成電路中一個至關(guān)重要的模塊,,對系統(tǒng)性能至關(guān)重要?;鶞?zhǔn)電壓源不僅要求在電源電壓變化的情況下保持穩(wěn)定,,而且要求在溫度變化時能保持高精度和不因工藝而變化。通常經(jīng)過一階補償后,,帶隙基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)約為20 ppm/℃~30 ppm/℃,,但是還不能滿足高精度的要求,因此需要對三極管的基極-發(fā)射極電壓進行高階項溫度補償,。
基于分段線性補償原理,,本文提出的補償方法僅利用一股與溫度呈平方關(guān)系的電流,就同時實現(xiàn)了低溫和高溫段的補償,。
1 補償原理分析
傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)電壓源是利用三極管基極-發(fā)射極電壓VBE隨溫度下降與用正溫度系數(shù)電流流過電阻而轉(zhuǎn)換成的電壓疊加來進行一階補償?shù)腫1-3],。由于VBE與溫度為非線性關(guān)系[4-5],而且還包括高階項,,在低溫和高溫時表現(xiàn)更明顯,,因此需要加入其他補償。利用泰勒公式將VBE展開得到[4]:
2 整體電路結(jié)構(gòu)
完整的帶曲率校正的帶隙基準(zhǔn)電路圖如圖2所示,。MP8,、MP9、R7,、MN6,、MN7和R8構(gòu)成啟動電路。當(dāng)電路處于簡并狀態(tài)時,,MN6和MN7開通,MP9的柵極電位被拉低并且導(dǎo)通,,隨后MP8的柵極電位也被拉低,,MP8導(dǎo)通,電流注入Q4的基極,,整個電路啟動完成,,進入正常工作狀態(tài)?;鶞?zhǔn)電壓核心由Q0,、Q1,、Q4、Q5和R1~R4構(gòu)成,。Q3和Q2將Q0和Q1集電極鉗位在一個基極-發(fā)射極電位上,,避免因集電極電位不等而產(chǎn)生厄爾效應(yīng),使Q0和Q1的集電極電流不等,,這樣就省去了使用運算放大器來鉗位,,使得結(jié)構(gòu)簡單,功耗小,。
R1~R4的阻值相等,,根據(jù)電阻兩端的電位相等可以推出Q0和Q1 的集電極電流相等。忽略基極電流,,可以得出R0上的PTAT電流為:
式(7)中的第二項是一階項補償,,最后一項是對VBE的二次項補償。通過設(shè)置合適的R1,、R3得到最優(yōu)的溫度系數(shù),,調(diào)節(jié)IOUT進行二次補償就可以得到溫度系數(shù)很好的帶隙基準(zhǔn)電壓。
如果IOUT設(shè)置恰當(dāng),,就可以既補償高溫又可以補償?shù)蜏?。本設(shè)計中是通過設(shè)置合適的A、B點電壓來設(shè)置IOUT隨溫度變化曲線的中心線,,使得IOUT曲線中心軸正好是一階補償后的基準(zhǔn)電壓溫度曲線的中心軸,,這樣可以得到較好的補償。設(shè)計中利用基準(zhǔn)電壓的分壓設(shè)置A點的電壓,,由于經(jīng)過一階補償后的基準(zhǔn)電壓隨溫度的變化遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于VBE,,B點連接在三極管的基極,且VBE隨溫度增大而下降,,所以可認(rèn)為A點電壓相對于B點是近乎不變的,。設(shè)置A點的電壓在溫度小于T1(一階補償后基準(zhǔn)電壓零溫度系數(shù)的點)時小于VBE,此時MP0的電流大于MP2,,IOUT約等于MP0的漏極電流,,且隨著溫度偏離T1越大,IOUT就越大,;當(dāng)溫度大于T1后,,A點電壓大于B點電壓,IOUT約等于MP2的漏極電流,,且隨著溫度的增加而增大,,如圖3所示。這樣,帶隙基準(zhǔn)電壓源在低溫和高溫時都可以通過IOUT得到補償,,最優(yōu)化后可以得到很好的溫度系數(shù),。
反饋環(huán)路的設(shè)計由C0、R4,、R2和Q2,、Q4組成。當(dāng)基準(zhǔn)電壓Vref升高時,,Q4的基極電位上升,,從而Q2的基極電位也上升,這樣Q2的集電極電流就會增大,,將Q4的基極電位拉低,,Vref就會降低,最后達到穩(wěn)定,。C0用來設(shè)置環(huán)路的相位裕度,。
本設(shè)計的基準(zhǔn)電壓補償電路結(jié)構(gòu)簡單,對于A點的電位很容易獲取,,B點可以從任何帶三極管的基準(zhǔn)電路中得到,,即使是MOS管也可以,因為其閾值電壓也是隨溫度呈線性下降的[3],,而且可以根據(jù)電路應(yīng)用合理設(shè)置IOUT的中心軸,,來達到最好的補償效果。該結(jié)構(gòu)也可以很容易地移植到其他需要補償?shù)幕鶞?zhǔn)電路中,。
3 仿真結(jié)果與分析
本設(shè)計的帶隙基準(zhǔn)電壓電路采用0.5 μm BCD工藝,,用Cadence進行仿真。仿真溫度為-35 ℃~135 ℃,,電源電壓為5 V,。
圖3和圖4分別是一階補償后的帶隙基準(zhǔn)電壓的溫度特性和二階補償電流隨溫度變化的曲線。從圖3,、圖4可以看出,,一階補償后的帶隙基準(zhǔn)電壓在低溫段正溫度系數(shù)稍大,高溫段負(fù)溫度系數(shù)過大,;而二階補償電流IOUT是溫度的平方函數(shù),,低溫段負(fù)溫度系數(shù)大于正溫度系數(shù),高溫段正溫度系數(shù)大于負(fù)溫度系數(shù),,與一階補償后的基準(zhǔn)電壓溫度特性剛好相反,,且60 ℃時最小,兩頭較大,,偏離60 ℃越遠(yuǎn),,IOUT就越大??梢院芎玫靥岣呋鶞?zhǔn)電壓的低溫段和高溫段溫度特性,。
圖5是經(jīng)過二階補償后的帶隙基準(zhǔn)電壓源隨溫度的變化關(guān)系曲線圖。從圖中可以得知,,經(jīng)過二階補償后,,電壓基準(zhǔn)的溫度系數(shù)大大改善,溫度系數(shù)降至2.82 ppm/℃,。
本文利用分段線性補償和二階補償原理設(shè)計了一種結(jié)構(gòu)新穎的帶隙基準(zhǔn)電壓源,,其溫度系數(shù)特性好,易
于移植到其他電壓基準(zhǔn)電路中,,并且電源抑制比也符合設(shè)計要求,。仿真結(jié)果表明,溫度范圍在-35 ℃~135 ℃時,,溫度系數(shù)降至2.82 ppm/℃,。
參考文獻
[1] 畢查德·拉扎維.模擬CMOS集成電路設(shè)計[M].西安:西安交通大學(xué)出版社,2003:312-314.
[2] MEIJER G C M,,SCHMALE P C,,ZALINGE K V.A new curvature conrrected bandgap reference[J].IEEE J.Solid State Circuit,1982,,SC-17(11):1139-1143.
[3] SONG B S,,GRAY P R.A precision curvature-compensated CMOS bandgap reference[J].IEEE J.Solid State Circuit,1983,,18(6):634-643.
[4] LEUNG C Y,,LEUNG K N.Design of a 1.5 V high order curvature compensated COMS bandgap reference circuits and systems[C].ISCA′04,Proceeding of the 2004 Internationl Symposium,,2004.
[5] LEE I Y,,KIM G D,KIM W C.Exponential curvature compensated BiCMOS bandgap references[J].IEEE J.Solid State Circuit,,1994,,29(11):1396-1403.
[6] 張春茗,邵志標(biāo).高精度分段曲率校正CMOS帶隙基準(zhǔn)的設(shè)計[J].電子學(xué)報,,2007,,35(11):2193-2197.