《電子技術(shù)應(yīng)用》
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Giga ADC 介紹及雜散分析

2014-01-22
作者:Anjin Du
來(lái)源:China Telecom Application Team

摘要

    Giga ADC 是TI 推出的采樣率大于1GHz 的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換產(chǎn)品系列,,主要應(yīng)用于微波通信衛(wèi)星通信以及儀器儀表。本文介紹了Giga ADC 的主要架構(gòu)以及ADC 輸出雜散的成因分析,,以及優(yōu)化性能的主要措施,。

1,、Giga ADC 架構(gòu)及TI Giga ADC

1.1  Giga ADC 架構(gòu)演進(jìn)

    Giga ADC 目前已經(jīng)廣泛的應(yīng)用于數(shù)據(jù)采集,、儀器儀表、雷達(dá)和衛(wèi)星通信系統(tǒng),;隨著采樣速率和精度的進(jìn)一步提高,,越來(lái)越多的無(wú)線通信廠商開始考慮使用Giga ADC 實(shí)現(xiàn)真正的軟件無(wú)線電。軟件無(wú)線電不僅可以簡(jiǎn)化接收通道設(shè)計(jì),,同時(shí)可以方便不同平臺(tái)的移植和升級(jí),,從而降低開發(fā)成本和周期。

Figure 1 列出了在使用各種采樣架構(gòu)下,,采樣精度和采樣速率之間關(guān)系,。隨著技術(shù)和工藝的發(fā)展,各種架構(gòu)可以支持的采速率在不斷的提升,,但就目前的水平來(lái)看,,要實(shí)現(xiàn)1Gpbs 以上的采樣率,必須采用Flash 或者折疊(Folding)架構(gòu),。

這主要是因?yàn)樵谄渌軜?gòu)中,,都采用了反饋環(huán)路,;這些反饋環(huán)路的傳輸延時(shí)限制了ADC 速率的進(jìn)一步提升。例如在pipeline 中,,每一級(jí)都有一個(gè)DAC,用于把本級(jí)的數(shù)據(jù)輸出轉(zhuǎn)換成模擬信號(hào),,反饋給本級(jí)的模擬輸入,,取差以后放大輸出給下一級(jí)。類似的限制也存在于Subranging 或者multi-step 架構(gòu)中,,都需要一個(gè)反饋環(huán)路輔助判決,。

另一方面,雖然目前業(yè)界最快的ADC 架構(gòu)是Flash 架構(gòu),,但一個(gè)N bit 的flash ADC 需要2N-1 個(gè)比較器,,當(dāng)N>= 8 時(shí),比較器的數(shù)量將會(huì)非常龐大,;而且隨著轉(zhuǎn)換精度的增加,,后端的譯碼邏輯也會(huì)變得異常復(fù)雜;這些都會(huì)對(duì)芯片的體積和功耗造成很大的影響,。

所以在TI 的Giga ADC 中,,采用了折中的折疊(folding)架構(gòu)。事實(shí)上,,折疊是和flash 類似的架構(gòu),,不同的是,在折疊架構(gòu)中,,輸入信號(hào)分別通過(guò)了粗分ADC 和折疊電路+細(xì)分ADC,;折疊電路的理想傳輸特性為三角狀循環(huán)的折疊信號(hào)。以一個(gè)8bit ADC 為例,,粗分ADC 輸出3bit,,細(xì)分ADC 輸出5bit。如Figure 2 和Figure 3 所示,,折疊電路共折疊了8 次,,將滿量程的輸入范圍等分為8 段,分別對(duì)應(yīng)3 位粗分ADC 轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的高位bit(MSB),;同時(shí)對(duì)上述折疊電路輸出信號(hào)進(jìn)行5 位細(xì)化轉(zhuǎn)換得到低位bit(LSB),;最后高、低位數(shù)字碼合起來(lái)組成8 位的數(shù)字輸出,。

對(duì)于一個(gè)8bit ADC,,采用折疊電路架構(gòu)所需要的比較器個(gè)數(shù)為(m = 3,n = 5),;如果采用flash 架構(gòu),,則需要比較器的個(gè)數(shù)為,。顯而易見,采用折疊架構(gòu)大大降低了比較器的個(gè)數(shù),。

1.2 TI Giga ADC 產(chǎn)品介紹

TI 在過(guò)去的十年當(dāng)中,,利用創(chuàng)新的ADC 架構(gòu)和工藝技術(shù),不斷的刷新業(yè)界Giga ADC 的采樣速率和轉(zhuǎn)換精度,,最新的產(chǎn)品已經(jīng)可以達(dá)到5Gbps @ 7.6bit(LM97600)和4Gpbs @ 12bit(ADC12D2000RF),。Figure 4 是目前TI 全系列的Giga ADC 產(chǎn)品:

2TI Giga ADC 架構(gòu)介紹

本章節(jié)中將詳細(xì)討論Giga ADC 的各個(gè)功能模塊,。在實(shí)際應(yīng)用中,,設(shè)計(jì)者一般都會(huì)采用Folding + interpolation + calibration 的架構(gòu),用于進(jìn)一步簡(jiǎn)化設(shè)計(jì),,降低功耗和提高精度,。

上圖是一個(gè)典型的folding-interpolation 架構(gòu)的Giga ADC 框圖。在這類ADC 中,,為了解決模擬輸入端的匹配誤差和輸入偏置誤差,,集成了一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)源,在不需要外部輸入的情況下,,實(shí)現(xiàn)芯片的前臺(tái)校準(zhǔn),,使芯片達(dá)到最大性能。除此之外,,還包括輸入的buffer,,采保電路,foldinginterpolation 電路以及比較器,、encoder 和LVDS 輸出電路,。

2.1 Input mux

在Figure 5 中可以看到,為了盡可能的把輸入鏈路上所有器件包含到校準(zhǔn)環(huán)路中,,校準(zhǔn)信號(hào)的輸入開關(guān)加在了輸入電路的最F 前端,。這對(duì)開關(guān)電路的線性和帶寬提出了很高的要求。在TI 的Giga ADC電路中,,采用了constant Vgst NMOS pass-gate 電路,,這種電路不僅寬頻帶內(nèi)導(dǎo)通電阻穩(wěn)定不變,失真小,,而且功耗低,。

電路校準(zhǔn)只在器件上電或者器件工作溫度發(fā)生明顯變化的時(shí)候才會(huì)發(fā)起,輸入校準(zhǔn)開關(guān)也只在這個(gè)時(shí)候才會(huì)導(dǎo)通,。

2.2 Interleaved T/H

在高速ADC 設(shè)計(jì)中,,為了達(dá)到更高的采樣速率,采用了interleaved 的架構(gòu),即一個(gè)模擬輸入,,輸入到兩個(gè)相同的ADC 中,,但這兩個(gè)ADC 的采樣速率相同,相位相反,;最后芯片的數(shù)字部分把兩路ADC 的輸出信號(hào)重新整合,,達(dá)到了相對(duì)于每路ADC 兩倍的采樣速率。將采樣保持電路放在第一級(jí)buffer 之后,,主要是因?yàn)檫@一級(jí)buffer 降低了輸入信號(hào)的負(fù)載和kickback 噪聲,,方便寬帶匹配;同時(shí)降低了采保電路的工作頻率,,使得采保電路和第二級(jí)buffer 的設(shè)計(jì)和功耗大大簡(jiǎn)化。

需要注意的是,,在interleaved 架構(gòu)中,,兩路采樣保持電路和buffer 的偏置和增益誤差,以及兩路采樣時(shí)鐘之間的相位誤差,,都會(huì)給整個(gè)ADC 系統(tǒng)SNR 帶來(lái)很大的影響,。在設(shè)計(jì)中,兩路電路采用了完全鏡像的設(shè)計(jì),,同時(shí)兩路電路都在校準(zhǔn)環(huán)路里,,有效的降低了這些誤差帶來(lái)的性能惡化。

2.3 Preamplifier

預(yù)放大電路處于采保電路之后,,比較器之前,,包括第二級(jí)輸入buffer,折疊內(nèi)插電路等,。預(yù)放大電路的主要功能包括:輸入信號(hào)的放大,,以降低電路偏置誤差對(duì)性能的影響;輸入信號(hào)的折疊處理,,將輸入信號(hào)通過(guò)折疊電路分成若干部分,,從而降低比較器的個(gè)數(shù);通過(guò)內(nèi)插電路增加信號(hào)過(guò)零點(diǎn),,減少折疊電路模塊,。

2.3.1 第二級(jí)輸入buffer

第二級(jí)輸入buffer 的主要作用就是要把采保電路輸出的偽差分信號(hào)通過(guò)差分放大器轉(zhuǎn)換成真正的差分信號(hào),以達(dá)到更好的電源抑制比和方便后級(jí)處理,。第二級(jí)buffer 輸出的差分信號(hào)分成兩路,,一路輸出給粗分轉(zhuǎn)換電路,用于判決輸入信號(hào)處于那一個(gè)折疊區(qū),;一路輸出給細(xì)分轉(zhuǎn)換電路,,輸出具體的轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。

2.3.2 折疊電路

Figure 8 為一種實(shí)際折疊電路及其直流傳輸特性。Figure 8(a)中,,輸入信號(hào)Vin 和5 個(gè)量化參考電平Va ,、Vb 、Vc ,、Vd 和Vf ,;5 個(gè)源極耦合對(duì)的漏極交替連接,通過(guò)負(fù)載電阻R1 和R2 的I/V變換,,形成一對(duì)5 倍折疊(折疊率F = 5)的差分折疊信號(hào)Vo + 與Vo - ,,如Figure 8(b)所示。Figure 8(b)中,,直流傳輸特性上差分輸出為零的點(diǎn)稱為過(guò)零點(diǎn),。可見,,除了過(guò)零點(diǎn)附近,,實(shí)際折疊電路的傳輸特性存在著一定的非線性區(qū)域。為解決非線性區(qū)域上輸入信號(hào)的量化問(wèn)題,,可采用兩個(gè)具有一定相位差的折疊信號(hào),,如Figure 9 所示。它們之間的相位差保證了各自的非線性區(qū)域相互錯(cuò)開,。

當(dāng)一個(gè)折疊輸出信號(hào)不是在線性區(qū)域范圍內(nèi)時(shí),,另一個(gè)折疊輸出信號(hào)恰好在線性區(qū)域內(nèi),反之亦然,。這種方法可以推廣到相位差更小的一組折疊信號(hào)的情況,,以減小非線性區(qū)域的影響。直至,,相鄰折疊信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)只相距一個(gè)量化單位(LSB)時(shí),,每個(gè)與折疊電路連接的比較器只需檢出過(guò)零點(diǎn)。此時(shí),,折疊結(jié)構(gòu)ADC 不再要求折疊信號(hào)的線性區(qū)域范圍,,只要求過(guò)零點(diǎn)的精度。

在折疊電路設(shè)計(jì)中,,一級(jí)折疊電路折疊率不宜過(guò)高,,這主要是因?yàn)椋绻患?jí)折疊率過(guò)高,,那么這么多輸出通過(guò)長(zhǎng)的走線連接到一起輸出給下一級(jí)比較器,,寄生電容對(duì)于后級(jí)的影響變得不可忽略。在TI 的Giga ADC 中,,一般采用多級(jí)折疊電路級(jí)連的方式,,例如,,如果要實(shí)現(xiàn)一個(gè)折疊率為9 的電路,采用了兩級(jí)折疊級(jí)連,,每級(jí)的折疊率是3 ,,如figure10 所示。

2.3.3 內(nèi)插電路

直接利用折疊電路來(lái)產(chǎn)生所有2N個(gè)過(guò)零點(diǎn),,ADC 的功耗與輸入電容都很大,。通常的解決辦法是采用折疊-內(nèi)插結(jié)構(gòu),如Figure11 所示,。每?jī)蓚€(gè)折疊電路的輸出之間連接一個(gè)插值電阻串,,利用插值電阻的分壓作用得到兩個(gè)折疊電壓信號(hào)之間的插值電壓。每個(gè)插值節(jié)點(diǎn)作為輸出,,插值的數(shù)目稱為內(nèi)插率I,;Figure11 是當(dāng)I=4 的內(nèi)插結(jié)果,兩側(cè)為原始的由折疊電路產(chǎn)生的折疊信號(hào),,夾在其間的3個(gè)信號(hào)是被節(jié)省的,、由內(nèi)插電路產(chǎn)生的折疊信號(hào)。這樣,,通過(guò)4 倍的內(nèi)插,每4 個(gè)折疊信號(hào)可以節(jié)省3 個(gè)折疊電路,。

通過(guò)折疊內(nèi)插電路的波形如下圖所示:

2.3.4 平均電路

前面提到,,影響電路精度的主要誤差是差分信號(hào)的偏置誤差。降低差分電路的偏置誤差可以增加晶體管的面積,。但由于在折疊電路中,,偏置誤差不僅僅來(lái)自于差分電路,折疊電路中其它飽和支路的輸出電流也增加了整個(gè)電路的偏置誤差,,簡(jiǎn)單的增加電路晶體管面積并不能有效的降低誤差,。由于各個(gè)放大電路的偏置誤差是不相關(guān)的,這里采用了迭代的技術(shù),,使某一輸出節(jié)點(diǎn)的偏置誤差不僅僅取決于本身放大電路,,還和相鄰其它并行放大電路輸出有關(guān),偏置誤差通過(guò)放大電路輸出的迭代而隨機(jī)化,,降低了整個(gè)電路的偏置誤差,。

2.4 校準(zhǔn)電路

前面提到的各種設(shè)計(jì)電路有效的提高了ADC 的線性性能和帶寬,但在TI Giga ADC,,仍然集成了校準(zhǔn)電路,,用以進(jìn)一步優(yōu)化ADC 的性能。這部分校準(zhǔn)電路包括27 個(gè)高精度校準(zhǔn)電壓,,采用輪詢的方式依次輸入到輸入級(jí)的開關(guān),,并根據(jù)校準(zhǔn)信號(hào)的輸出結(jié)果通過(guò)DAC 調(diào)整預(yù)放大電路的偏置電流,達(dá)到校準(zhǔn)修正的結(jié)果。

通過(guò)Figure5 可以看到,,輸入級(jí)的MUX 開關(guān),,采保電路,輸入buffer 的偏置誤差以及折疊電路的偏置誤差等包括在校準(zhǔn)環(huán)路里,,通過(guò)校準(zhǔn)不僅僅提高了放大電路的線性,,而且提高了系統(tǒng)在interleave 模式下兩路ADC 之間的一致性,改善了系統(tǒng)的雜散性能,。

3,、Giga ADC 雜散的分析

ADC 應(yīng)用中,輸出的雜散信號(hào)決定了ADC 的動(dòng)態(tài)范圍,。在傳統(tǒng)的流水線ADC 中,,起決定作用的主要是諧波雜散,即輸入信號(hào)的二次,、三次或更高次諧波混疊進(jìn)入第一個(gè)Nyquist 區(qū),。除此以外,GigaADC 的interleave 架構(gòu)帶來(lái)了其它雜散,。如前文說(shuō)提到的,,為了達(dá)到更高的采樣速率,每路ADC 實(shí)際包括兩個(gè)子ADC,,這兩個(gè)子ADC 工作在interleave 模式下,。在這種情況下,兩路子ADC 之間的失配將會(huì)產(chǎn)生新的雜散信號(hào),??傮w來(lái)說(shuō),Giga ADC 的雜散主要分為三類雜散信號(hào):1)interleave 雜散,;2) 固定頻點(diǎn)雜散,;3)和輸入信號(hào)相關(guān)的雜散。

3.1 Interleave 相關(guān)的雜散

Interleave 模式,,如Figure7 所示,,就是相同的輸入信號(hào),輸入到兩個(gè)(或N 個(gè))采樣率相同,,但采樣時(shí)鐘相位相反(或相差2π/N)的ADC 中,,從而達(dá)到采樣率增倍的目的。但由于兩路ADC 不可能完全一致,,存在一些失配,,從而導(dǎo)致了一些輸出雜散的生成。這些失配包括偏置誤差,、增益誤差以及采樣時(shí)鐘的相位誤差,。

這里假定:

N:一路ADC 中包含的子ADC 個(gè)數(shù)

Fin:輸入有用信號(hào)

Fnoise:輸出的雜散信號(hào)

Fs:ADC 采樣時(shí)鐘

3.1.1 輸入偏置誤差

假定ADC 其它參數(shù)都是理想的,,只考慮輸入偏置誤差。通過(guò)數(shù)學(xué)分析可以得到,,輸入偏置誤差帶來(lái)的雜散主要分布在

從Figure13 可以看出,,輸入偏置誤差帶來(lái)的雜散和輸入信號(hào)的幅度和頻率沒(méi)有關(guān)系,從頻域上看,,均勻的分布在第一Nyquist 區(qū),。由輸入偏置帶來(lái)的雜散固定的分布在公式一給出的各個(gè)頻點(diǎn)。

3.1.2 輸入增益誤差

假定輸入電路除增益誤差以外,,其它參數(shù)都是理想的,,可以看出當(dāng)輸入信號(hào)幅度增大時(shí),增益誤差也隨之變大,。輸出的誤差信號(hào)類似于輸入信號(hào)的一個(gè)調(diào)幅輸出,,可以得到,增益誤差導(dǎo)致的雜散信號(hào)出現(xiàn)位置如下:

從分析可以看出,,由于增益誤差導(dǎo)致的輸出雜散幅度和輸入信號(hào)的頻率無(wú)關(guān),,但和輸入信號(hào)的幅度有關(guān),輸入信號(hào)幅度變大時(shí),,雜散幅度增加,;反之亦然。

3.1.3 采樣時(shí)鐘的相位誤差

如果兩個(gè)或多個(gè)采樣時(shí)鐘之間存在相位誤差(skew),,同樣會(huì)帶來(lái)雜散,。由于相位誤差帶來(lái)的誤差最大出現(xiàn)在輸入信號(hào)壓擺率最大的地方,即過(guò)零點(diǎn),,即這類雜散類似于輸入信號(hào)的調(diào)頻輸出。雜散信號(hào)出現(xiàn)的位置在:

采樣時(shí)鐘的相位誤差和輸入增益誤差帶來(lái)的雜散位置相同,,但相位誤差輸出的雜散和輸入頻率有關(guān),,當(dāng)輸入頻率越高,誤差越大,;而偏置誤差和增益誤差帶來(lái)的雜散和輸入頻率無(wú)關(guān),。

3.2 固定頻點(diǎn)雜散

相對(duì)于interleave 雜散,固定頻點(diǎn)雜散和輸入信號(hào)的頻點(diǎn)無(wú)關(guān),,主要取決與系統(tǒng)時(shí)鐘,,ADC 及子ADC的采樣時(shí)鐘,數(shù)據(jù)輸出的隨路時(shí)鐘以及系統(tǒng)中其他時(shí)鐘源的耦合干擾,。固定頻點(diǎn)雜散因?yàn)槲恢霉潭?,?yīng)用中很容易預(yù)判這些雜散,從而在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中規(guī)避這些雜散存在的頻點(diǎn),。

3.2.1 采樣時(shí)鐘雜散

如Figure 16 所示,,當(dāng)四個(gè)ADC 工作在interleave 模式下,,四個(gè)ADC 的采樣率都是Fclk,但相位相差90 度,,這樣整個(gè)ADC 通道的實(shí)際采樣率為4*Fclk,;輸出的頻譜中,在Fclk 頻點(diǎn)處有一個(gè)固定的采樣時(shí)鐘雜散,。這個(gè)主要是時(shí)鐘的泄露,,采樣時(shí)鐘從芯片內(nèi)部或板上耦合到數(shù)據(jù)的輸出。

3.2.2 數(shù)據(jù)輸出的隨路時(shí)鐘

在Giga ADC 中,,數(shù)據(jù)的輸出是并行LVDS 總線,;同時(shí)這些總線可以1:2 Demux 或者Non-demux;在Non-demux,,數(shù)據(jù)速率和采樣速率是一致的,;在Demux 模式下,數(shù)據(jù)速率降低一倍,,但數(shù)據(jù)總線增加一倍,。同時(shí),Giga ADC 數(shù)據(jù)輸出的隨路時(shí)鐘可以是DDR 或SDR,,如下圖所示,。在Demux 和DDR 同時(shí)使能的情況下,隨路時(shí)鐘DCLK 只是采樣時(shí)鐘的1/4,,這個(gè)時(shí)鐘雜散可能出現(xiàn)在Fs/4 的地方,。

 

3.3 和輸入相關(guān)的雜散

前面提到,和輸入相關(guān)的雜散主要是輸入信號(hào)的奇偶次諧波混疊進(jìn)入ADC 的第一Nyquist 區(qū),。這類雜散主要通過(guò)外部的抗混疊濾波器加以濾除以及信號(hào)輸入端的匹配,,差分兩端的平衡來(lái)優(yōu)化。這類雜散在傳統(tǒng)的ADC 中已經(jīng)討論很多,,這里就不再贅述,。

3.4 雜散信號(hào)的優(yōu)化

為了達(dá)到最佳的輸出雜散性能,在Giga ADC,,主要采用了校準(zhǔn)環(huán)路,,來(lái)優(yōu)化輸入電路的偏置誤差、增益誤差,。如下圖所示,,在校準(zhǔn)前后,ADC 的性能可以優(yōu)化10dBc 以上,。

同時(shí),,當(dāng)Giga ADC 工作在DES mode,兩路采樣時(shí)鐘間的skew對(duì)于Fs/2- fin 的雜散非常重要,;芯片提供了兩路采樣時(shí)鐘的skew調(diào)整功能,,可以通過(guò)寄存器的配置來(lái)降低Fs/2 – fin 的雜散,,如下圖所示。

除此之外,,ADC 的外部輸入電路設(shè)計(jì)也需要盡量?jī)?yōu)化,,確保兩路差分電路的平衡一致,阻抗的匹配,。Giga ADC 提供了DESI,,DESQ,DESIQ,,DESCLKIQ 等幾種DES 模式下輸入結(jié)構(gòu),;綜合輸入平坦度,插入損耗和最終的ADC 性能測(cè)試結(jié)果,,DESIQ 模式的性能最佳,,并且推薦采用多層Balun 和以下的輸入電路。

4,、結(jié)論

本文主要介紹了TI Giga ADC 采用的架構(gòu),,通過(guò)這一先進(jìn)的架構(gòu),TI 實(shí)現(xiàn)了業(yè)界最高采樣率的12bit/10bit ADC,并被廣泛使用到了衛(wèi)星,、雷達(dá),、微波等通信領(lǐng)域。同時(shí)本文也分析介紹了Giga ADC 中的輸出雜散的形成原因,,以及相應(yīng)的優(yōu)化措施,。

5、參考資料

[1] ADC08D1520 Datasheet

[2] “Explicit Analysis of Channel Mismatch Effects in Time-Interleaved ADC Systems”, Naoki Kurosawa, etc. 2001, IEEE

[3] “A 1.8-V 1.6-GSample/s 8-b Self-Calibrating Folding ADC With 7.26 ENOB at Nyquist Frequency”, Robert C. Taft, etc. 2004, IEEE

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