集成電路檢測器 ICS 105 同 ICR 型號的近場微探頭組合使用,，可對集成電路（ICS 105 GND 組套）和小型組件（ICS 105 UH 組套）進行高頻近場測量。通過對集成電路的近場分析,，能夠在高頻環(huán)境下對集成電路的內(nèi)部過程有準(zhǔn)確了解,。集成電路的干擾發(fā)射問題將通過測量予以分析,，找出集成電路中產(chǎn)生干擾發(fā)射的部位,。

圖 1 近場微探頭 ICRHH 150-27 是一款帶有水平測量線圈的探頭，用于磁場測量,。測量分辨率為   50 μm,，測量范圍為 1.5 GHz 至 6 GHz。

    除了朗格爾電磁兼容技術(shù)有限公司的 ICR 型號近場微探頭之外,，還可借助探頭支架 SH 01 將手持式探頭或場源置入到 ICS 105 之中（圖 2）,。

    使用不同的 ICR 近場微探頭，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)分別對磁場或電場進行測量,，測量結(jié)果通過軟件 CS-Scanner 在電腦上顯示,。此外，ICR 近場微探頭可通過旋轉(zhuǎn)軸自動旋轉(zhuǎn) 360°,，以確定磁場的確切方向,。借助視頻顯微鏡，可方便近場微探頭在測量目標(biāo)上的精確定位,。ICS 105 檢測器的最小步進值為 10μm,，可實現(xiàn)極高分辨率的測量（圖 1）。

    ICR 型近場微探頭適用于 1.5 MHz 至 6 GHz 頻率范圍內(nèi)的測量,，可達到的測量分辨率約為 50μm,。用于磁場測量的近場微探頭可提供兩種不同的基本規(guī)格。ICR HV 近場微探頭帶有垂直測量線圈,，ICR HH 近場微探頭帶有水平測量線圈,。ICR E 近場微探頭的探針頭包括一個水平電極，用于電場測量,。

    不同類型的近場微探頭配置齊全,，確保在完成各類眾多實際測量任務(wù)時能夠選取最佳的探頭型號。

使用近場微探頭可以進行下列測量：

    - 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) IEC61967-3 進行集成電路表面掃描

    - 集成電路容量掃描

    - 針腳掃描

在測量過程中,，只在相應(yīng)測量目標(biāo)上方移動數(shù)個 μm,，確保精準(zhǔn)的近場數(shù)據(jù)采集。近場微探頭的外殼中內(nèi)置前置放大器,，通過 Bias-Tee 偏置器供電,。

圖 2 ICS 105 是一款桌上設(shè)備。緊湊的尺寸（350 x   400 x 420）mm和輕巧的重量（23 kg）令其能夠方便安放在開發(fā)人員的工作臺上,。

    集成電路檢測器 ICS 105 通過 USB 接口連接至電腦，通過朗格爾電磁兼容技術(shù)有限公司的軟件 ChipScan-Scanner（CS-Scanner,，芯片掃描器）進行控制（圖 3）,。可以通過軟件控制實現(xiàn)近場微探頭的移動以及復(fù)雜測量流程的編程,。

圖 3 測量時 ICS 105 同頻譜分析儀和電腦相連,。通過測量與分析軟件   CS-Scanner 對 ICS 105 進行控制,，對測量結(jié)果予以記錄。

    由朗格爾電磁兼容技術(shù)有限公司研制的軟件 CS-Scanner 可實現(xiàn)對頻譜分析儀中的測量數(shù)據(jù)進行讀出,、進行圖像顯示（2D 或 3D,，圖 4）、對測量數(shù)據(jù)的保存和輸出（CSV 文件格式）,。頻譜分析儀上的最重要設(shè)置也可通過軟件進行（圖 5 ）,。

圖 4 軟件 ChipScan-Scanner 生成 3D 容積掃描

圖 5 軟件 CS-Scanner 的操作界面。右側(cè)為用于所連接頻譜分析儀的操作面板,。左上方為測量圖表和跟蹤管理器,，對所有已進行的測量予以記錄。

輔以控制與分析軟件 ChipScan-Scanner 的集成電路檢測器 ICS 105

    - 通過電腦/筆記本進行控制

    - 零點位置,、近場微探頭手動或基于腳本的移動

    - 從頻譜分析儀中讀出數(shù)據(jù)

    - 測量數(shù)據(jù)的 2D 或 3D 圖形顯示

    - 輸出成 csv 文件或圖形文件

    - 在集成電路上進行的自動測量：

    - 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) IEC61967-3 進行集成電路表面掃描

    - 集成電路容量掃描

    - 針腳掃描