IEEE 1687 標準（即 Internal JTAG,，或簡稱為 IJTAG）正在改變企業(yè)對互操作性的思維方式,。例如,，IJTAG 互操作性在芯片級和電路板級都極具價值,，因為可重復(fù)利用嵌入式儀器知識產(chǎn)權(quán) (IP),。而且,，當(dāng)芯片級和板級 IJTAG 工具具有雙向或正反互操作性時,，流程中的所有工具都會變得比自身更強大,。這稱之為協(xié)同作用的力量,。

       將板級和芯片級 IJTAG 工具交互應(yīng)用到復(fù)雜的系統(tǒng)設(shè)計意味著借助高級診斷來驗證設(shè)計,，從而使設(shè)計師可以快速地在芯片或電路板上找出問題的根源。

IJTAG 的儀器網(wǎng)絡(luò)

       IJTAG 標準的開發(fā)始于數(shù)年前,，因為工程師需要一種更好的方法來接入,、管理和控制嵌入硅中的儀器。那時,，越來越多的儀器被集成到復(fù)雜的片上系統(tǒng) (SoC) 和其他不太復(fù)雜的設(shè)備,。這些嵌入式儀器過去是現(xiàn)在仍然是用來表征和驗證芯片功能性的最有效方法。

遺憾的是,，許多這樣的儀器不能相互通信,。根據(jù) IP 來源地，每臺儀器可能具有自己的接入方法,。此外,，最缺失的是可移植性。如果沒有為新的芯片重新設(shè)計 IP，則無法輕松地在其他芯片設(shè)計中重新部署儀器 IP,。換言之,，嵌入式儀器難以供工程師使用。

       通過指定片上網(wǎng)絡(luò),，IJTAG 標準可解決上述問題和其他問題,，該標準的儀器連接語言 (ICL) 對此作了說明。此外,，IJTAG 還為儀器 IP 和操作儀器語言（即程序描述語言 (PDL))定義了標準化接口,。IJTAG 的上述方面簡化并改進了工程師應(yīng)用嵌入式儀器的方式，并確保儀器本身以及與每個 IJTAG 儀器相關(guān)的操作矢量的可移植性,，因此又為工程師節(jié)省了寶貴的時間,。

為什么互操作性如此重要

       芯片級 IJTAG 工具之間的互操作性（例如 Mentor Tessent IJTAG 解決方案提供的工具以及應(yīng)用于 ASSET ScanWorks 啟用的電路板的工具）遠不止提供一種便利的方式在工具之間傳輸數(shù)據(jù)。雙級雙向互操作性對芯片和電路板工程師而言是強大的優(yōu)勢,，原因如下,。第一，確?？稍?a class="innerlink" href="http://forexkbc.com/tags/電路板設(shè)計" title="電路板設(shè)計" target="_blank">電路板設(shè)計中重新利用為驗證或測試芯片設(shè)計而開發(fā)的儀器 IP,，從而降低成本并加快產(chǎn)品上市時間。第二,，芯片和電路板工具之間的雙向反饋回路意味著整個工具流程現(xiàn)在具有高級診斷能力,，從而隔離芯片或電路板設(shè)計問題的根源。換句話說,，該 IJTAG 工具流程可避免基于猜測來確定是芯片還是電路板存在問題,。

圖 1. IJTAG 工具流程從在芯片插入儀器擴展到電路板裝配，并包括用于啟用高級診斷的反饋路徑,。

       該流程始于可插入和驗證芯片 IJTAG 和 JTAG 資源的可測試性設(shè)計 (DFT) 自動化工具,。JTAG 是必要的，因為芯片的 JTAG 測試接入端口 (TAP) 將用于接入 IJTAG 儀器片上網(wǎng)絡(luò),。IJTAG 并不只限定于作為其接入方法的 JTAG,，但目前 JTAG 是唯一受批準的 IJTAG 標準支持的機制。未來,，IJTAG 標準還會增加其他接入方法,。

DFT 自動化流程支持自動插入設(shè)計的 RTL 或門級網(wǎng)表。插入的 IJTAG 資源包括嵌入式儀器和分層接入網(wǎng)絡(luò)（支持從通用芯片級接入點接入任何儀器）,。DFT 工具還支持重定向以及合并多個 IP 塊的 PDL 命令,。重定向到芯片引腳的命令可轉(zhuǎn)換為自動測試設(shè)備 (ATE) 測試向量格式或 Verilog 進行仿真驗證。還可通過交互式調(diào)試工具（例如 Tessent SiliconInsight ）接入芯片級 PDL 測試向量,。

       在完成插入和仿真驗證之后,，通常在現(xiàn)場可編程門陣列 (FPGA) 上部署芯片設(shè)計,，以便在硬件中仿真和測試硅。再次應(yīng)用在模擬階段之前生成的測試來驗證將變成片上 IJTAG 網(wǎng)絡(luò)（如 ICL 中所述）以及儀器特定操作流程（如 PDL 中所述）的內(nèi)容的完整性,。之后,，在 ATE 系統(tǒng)中進行典型的硅測試和驗證。

仿真,、ATE 測試和驗證階段對 DFT 和 ATE 工具之間的互操作性至關(guān)重要,。ATE 工具可以使用通過 DFT 工具插入的相同儀器來驗證、測試和調(diào)試電路板設(shè)計,。此外,，工具之間的互操作性可將 ATE 工具在流程后半部分捕獲的板級數(shù)據(jù)較早地在硅模擬和驗證階段反饋到 DFT 工具。

       如果 SoC 沒有在板級經(jīng)過全面測試和驗證,，則根本無法得到充分的驗證,。通過板級 ATE 工具發(fā)現(xiàn)的問題可以追溯至芯片，也可歸因于電路板設(shè)計缺陷,。這種板級反饋的巨大優(yōu)勢是隔離芯片或電路板設(shè)計中的問題，從而使芯片和電路板工程師避免相互指責(zé),。反饋回路使芯片設(shè)計師可在批量生產(chǎn)芯片之前糾正缺陷,。當(dāng)然，也可以糾正板級缺陷,。

       該 IJTAG 流程在電路板制造過程中完結(jié),，即 ATE 系統(tǒng)能夠利用 SoC 中的 IJTAG 儀器在裝配線上驗證和測試電路板。

協(xié)同互操作性

       芯片級和板級 IJTAG 工具協(xié)同工作的能力可提高整個 IJTAG 流程（從芯片設(shè)計驗證一直到系統(tǒng)制造過程中的板級測試）的有效性,。通過這種互操作性啟用的雙向反饋回路（正向和反向）對快速識別和隔離設(shè)計問題根源至關(guān)重要,，從而及時向市場交付新系統(tǒng)。