摘 要: 設(shè)計(jì)了一種基于電容倍增的無(wú)電容式LDO,,將電容倍增模塊嵌入到了誤差運(yùn)算放大器的第一級(jí),提升了系統(tǒng)的環(huán)路帶寬,,有良好的瞬態(tài)響應(yīng),。電路通過(guò)0.13 m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝仿真實(shí)現(xiàn),仿真結(jié)果顯示,,系統(tǒng)靜態(tài)功耗為42 W,,當(dāng)負(fù)載從0~50 mA變化時(shí),電壓最大波動(dòng)為87 mV,,建立時(shí)間為2.5 s,。
關(guān)鍵詞: LDO,;電容倍增;瞬態(tài)響應(yīng)
0 引言
作為電源管理芯片中重要的一員,,低壓差線性穩(wěn)壓器(Low-Dropout regulator,LDO)因其紋波低,、噪聲低,、體積小等優(yōu)點(diǎn)被廣泛應(yīng)用到各種便攜式電子產(chǎn)品(如手機(jī)、PDA等)中,。傳統(tǒng)的LDO利用片外大電容穩(wěn)定其輸出電壓,,但是不易于系統(tǒng)集成[1-3]。與傳統(tǒng)的LDO相比,,無(wú)電容式LDO不需要較大的片外電容,,易于系統(tǒng)集成,然而其穩(wěn)定性和瞬態(tài)響應(yīng)成為設(shè)計(jì)的難點(diǎn),。為了保證無(wú)電容式LDO的穩(wěn)定性,,通常利用米勒效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)極點(diǎn)分類(lèi),為了達(dá)到足夠的相位裕度,,通常需要采用較大的米勒補(bǔ)償電容,,消耗較大的芯片面積。參考文獻(xiàn)[4]提出了一種經(jīng)典的電容倍增技術(shù),,但是其電容倍增系數(shù)受到電流鏡電流之比的限制,;參考文獻(xiàn)[5]提出的電容倍增技術(shù)能提高電容倍增系數(shù),有效地減小所需補(bǔ)償電容的面積,,但由于誤差放大器輸出節(jié)點(diǎn)的非對(duì)稱(chēng)性,,為系統(tǒng)引入了失調(diào),影響了LDO的線性調(diào)整率,。
本文提出LDO結(jié)構(gòu),,將電容倍增技術(shù)嵌入到第一級(jí),使得第一級(jí)完全對(duì)稱(chēng),,且能提高環(huán)路帶寬,,提高了環(huán)路瞬態(tài)響應(yīng)速度,電路采用0.13 m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝仿真實(shí)現(xiàn),。
1 電容倍增技術(shù)
參考文獻(xiàn)[1]提出的電容倍增技術(shù)如圖1(a)所示,,該技術(shù)基于電流模式實(shí)現(xiàn),其原理為:采樣流過(guò)電容的電流,,通過(guò)電流鏡實(shí)現(xiàn)放大后再反饋到電容的另一端,,以實(shí)現(xiàn)電容倍增效果。其等效電容為(1+k),,其中k為電流鏡的放大系數(shù),。
參考文獻(xiàn)[2]采用的電容倍增技術(shù)如圖1(b)所示,,在M1的柵極和漏極之間插入了一個(gè)電阻Re,同樣能實(shí)現(xiàn)自偏置效果,,無(wú)需額外的偏置電路,。A點(diǎn)仍為低阻節(jié)點(diǎn),但是B點(diǎn)不再是低阻節(jié)點(diǎn),,因此流過(guò)Cm的電流通過(guò)Re和M1放大成電壓V1,,然后通過(guò)M2再次轉(zhuǎn)換成電流。其等效電容可表示為:
Ceq=(1+k)gm1RbCm(1)
從式(1)可以看出,,其等效電容與參考文獻(xiàn)[1]中提出的電容倍增技術(shù)相比,,提高了gm1Re倍,因此對(duì)于固定的負(fù)載電容,,所需要的片上補(bǔ)償電容大大減小,。
2 LDO電路設(shè)計(jì)
本文提出的LDO結(jié)構(gòu)如圖2所示,主要包括三部分,。第一級(jí)全對(duì)稱(chēng)的運(yùn)算放大器由M0~M8和電阻Re組成,,其中包括由M3、Re,、M5和M4,、Re、M6組成的電容倍增模塊,,該模塊嵌入第一級(jí),,與參考文獻(xiàn)[2]相比,功耗減小了,。同時(shí)第一級(jí)為完全對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu),,因此能減小失調(diào)。第二級(jí)運(yùn)算放大器由功率管Mp和采樣電阻組成,。第三部分為頻率補(bǔ)償部分,。Vref為帶隙基準(zhǔn)源產(chǎn)生的基準(zhǔn)電壓;Cm為米勒補(bǔ)償電容,;RL為負(fù)載電阻,;CL為負(fù)載電容,為100 pF,。
為了分析環(huán)路的穩(wěn)定性,,求出其傳輸函數(shù)為:
其中,gmi為Mi的跨導(dǎo),,R1為第一級(jí)輸出電阻,,Ro為第二級(jí)輸出阻抗,C1為第一級(jí)輸出電容,,其值分別為:
Ro=(R1+R1)//Rp//RL(3)
C1=Cgs_p+ApassCgd_p(4)
Adc和pd為運(yùn)算放大器的直流增益和主極點(diǎn),,分別為:
Adc=kgm1gmpR1Ro(5)
由式(7)可以看出,,本文提出的LDO結(jié)構(gòu)具有大的電容倍增系數(shù),同時(shí)與參考文獻(xiàn)[5]相比,,GBW提升了k倍,,因此具有更好的瞬態(tài)特性。
3 仿真實(shí)驗(yàn)
為了驗(yàn)證本文所提出的LDO的合理性,,對(duì)圖2所示的電路采用0.13 μm 標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝仿真驗(yàn)證,,當(dāng)工作溫度為25℃、輸入電壓為1.2 V,、輸出電壓為1 V,、負(fù)載電容為100 pF時(shí),,由于采用了本文提出的電容倍增技術(shù),,片上補(bǔ)償電容僅為0.8 pF??蛰d和負(fù)載為50 mA時(shí),,LDO環(huán)路頻率響應(yīng)曲線如圖3所示。
仿真結(jié)果顯示,,在0~50 mA全負(fù)載范圍內(nèi),,最小增益為45.66 dB,單位增益帶寬為570 kHz,,相位裕度為60°,,反饋環(huán)路具有很好的穩(wěn)定性。同時(shí)由于將電容倍增模塊嵌入到了誤差運(yùn)算放大器的第一級(jí),,因此提高了環(huán)路的單位增益帶寬,。
當(dāng)負(fù)載從空載跳到50 mA然后再跳回空載時(shí),系統(tǒng)的瞬態(tài)響應(yīng)如圖4所示,。仿真結(jié)果顯示,,上沖電壓為87 mV,調(diào)整時(shí)間為2.5 s,;下沖電壓為49 mV,,調(diào)整時(shí)間為2.0 s,由于系統(tǒng)單位增益帶寬得到了提升,,因此具有良好的瞬態(tài)響應(yīng)特性,。
4 結(jié)論
本文設(shè)計(jì)了一種新型的LDO,分析了電容倍增技術(shù)的原理,,且將電容倍增模塊嵌入到了誤差運(yùn)算放大器的第一級(jí),,提升了系統(tǒng)的環(huán)路帶寬,有良好的瞬態(tài)響應(yīng),。電路通過(guò)0.13 m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝仿真實(shí)現(xiàn),,結(jié)果顯示,,系統(tǒng)靜態(tài)功耗為42 W,當(dāng)負(fù)載在全負(fù)載范圍變化時(shí),,電壓波動(dòng)最大為87 mV,,建立時(shí)間為2.5 s,能夠滿足SoC系統(tǒng)中供電電源的要求,。
參考文獻(xiàn)
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