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探秘DLP® NIRscan? Nano評(píng)估模塊

2016-09-08
作者:Pedro Gelabert,德州儀器(TI)

  作為工程師和開發(fā)人員,我們的工作就是找到一個(gè)將所有元件組合在一起的最佳方法,。不管是對(duì)于摩天大樓,、還是集成電路,內(nèi)部工程結(jié)構(gòu)都是決定是否能夠運(yùn)轉(zhuǎn)良好的關(guān)鍵之一,。但說(shuō)回來(lái),又有誰(shuí)不曾幻想做個(gè)“破壞王”,把東西都拆開來(lái)一探究竟呢,?我們最初的與工程設(shè)計(jì)有關(guān)的記憶大部分都來(lái)自小時(shí)候把看起來(lái)復(fù)雜——甚至是昂貴——的東西拆得七零八落。

  既然如此,,我們就打算看一看DLP NIRscan Nano評(píng)估模塊(EVM)的內(nèi)部構(gòu)造,,我們將用老辦法——拆開它。

  需要注意的是,,任何對(duì)光引擎的拆解都會(huì)使NIRscan Nano EVM的保修失效,。另外,去掉光引擎上的罩子會(huì)使灰塵和污垢聚集在光學(xué)器件上,,從而影響到系統(tǒng)性能,。此外,去掉上面的罩子會(huì)移動(dòng)光學(xué)器件,、狹縫和探測(cè)器,,導(dǎo)致這些元件錯(cuò)位,從而需要廠家重新進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)和校準(zhǔn),。而一旦拆除狹縫,,則需要把InGaAs探測(cè)器和DLP2010NIR返廠進(jìn)行系統(tǒng)對(duì)準(zhǔn)與校準(zhǔn)。

  總之一句話,,這事兒不能在家里嘗試,。

  我們先來(lái)快速瀏覽一下,。基于DLP的分光計(jì)用一個(gè)針對(duì)波長(zhǎng)選擇的數(shù)字微鏡器件(DMD)和單點(diǎn)探測(cè)器取代了傳統(tǒng)線性陣列探測(cè)器,。通過(guò)按序打開與特定波長(zhǎng)光相對(duì)應(yīng)的一組鏡列,,對(duì)應(yīng)光線被指向探測(cè)器,并被捕獲,。通過(guò)掃描DMD上的一組鏡列,,可以計(jì)算出吸收光譜。

  近紅外(NIR)光譜分析內(nèi)的DLP技術(shù)可提供以下優(yōu)勢(shì):

  ·與使用具有極小像素的線性陣列探測(cè)器相比,,使用更大的單點(diǎn)1毫米探測(cè)器能實(shí)現(xiàn)更高性能,。

  ·使用單元探測(cè)器和低成本光學(xué)器件能幫助實(shí)現(xiàn)更低的系統(tǒng)成本。高分辨率DMD使得定制圖形能夠補(bǔ)償每一個(gè)單獨(dú)系統(tǒng)的光學(xué)失真,。

  ·更大信號(hào)的捕獲不僅得益于DMD相比傳統(tǒng)技術(shù)更大的光展量(etendue),,而且也受益于其快速、靈活,、以及可編程的顯示模式及光譜濾波器設(shè)計(jì),。

  ·借助可編程顯示模式,DLP分光計(jì)能夠:

  o通過(guò)控制一個(gè)鏡列中的像素?cái)?shù)量來(lái)改變到達(dá)探測(cè)器的光的強(qiáng)度,。

  o通過(guò)控制鏡列的寬度來(lái)改變系統(tǒng)的分辨率,。

  o通過(guò)使用一組Hadamard圖形完成在一個(gè)圖形內(nèi)捕捉多個(gè)波長(zhǎng)的光。然后,,單獨(dú)的波長(zhǎng)數(shù)據(jù)可通過(guò)解碼獲取,。每個(gè)模式內(nèi)打開DMD像素?cái)?shù)量的50%,從而將比上面提到的列掃描方式獲取的更強(qiáng)的信號(hào)引至探測(cè)器,。

  o使用定制光譜濾波器來(lái)選擇需要的特定波長(zhǎng),。

  目前,DLP NIRscan Nano EVM軟件支持可變分辨率和Hadamard圖形,。暫不支持可變強(qiáng)度和定制光譜濾波器,。

  在以下這幅圖片中,你可以看到DLP NIRscan Nano EVM的主要組件:

1.jpg

  拿掉光引擎罩子后,,可以看到DMD和探測(cè)器電路板:

2.jpg

  現(xiàn)在,,如果我們拿掉反射式模塊,你可以看到狹縫:

3.jpg

  現(xiàn)在,,我們已經(jīng)可以對(duì)這個(gè)器件“一覽無(wú)余”了,,讓我們來(lái)看一看它是如何對(duì)光進(jìn)行操縱的。

  從樣本上反射回的光被采集鏡頭所搜集,,并且通過(guò)輸入狹縫聚焦在光引擎上,。所選擇的狹縫尺寸能夠平衡波長(zhǎng)分辨率和分光計(jì)的信噪比(SNR)。這個(gè)分光計(jì)使用一個(gè)長(zhǎng)寬分別為1.69毫米 x 25微米的狹縫。通過(guò)狹縫的光在第一組鏡頭上校準(zhǔn),,通過(guò)一個(gè)885納米長(zhǎng)的波通濾波器,,然后打在一個(gè)反射光柵上。這個(gè)與聚焦透鏡組合在一起的光柵將光源色散為構(gòu)成它的連續(xù)波長(zhǎng)(多色光線),。聚焦透鏡將狹縫圖像展開在DLP2010NIR DMD上,。這個(gè)狹縫圖像的不同波長(zhǎng)水平分布在DLP2010NIR DMD上。光學(xué)系統(tǒng)將900納米的波長(zhǎng)成像在DMD的一端上,,將1700納米的波長(zhǎng)成像在另一端上,而在中間按順序散開所有其它波長(zhǎng),。

4.jpg

  今天我們找了個(gè)借口把這個(gè)器件拆開來(lái)仔細(xì)地看了看,。如需獲得與DLPNIRscan Nano EVM有關(guān)的更多信息,請(qǐng)參考DLP NIRscan Nano用戶指南,。


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