蘭英,，黃宇,，徐靈飛

　　（成都理工大學 工程技術學院 電計系,，四川 樂山 614007）

       摘要：在硬件板卡設計中,，對硬件板卡的供電電壓范圍都有一定的要求,，為了方便驗證同一批次產(chǎn)品中每張板卡供電電壓范圍的一致性及板卡跌落電壓檢測電路是否能有效工作,，利用TPS5430DDA開關電源芯片提出了一種板卡拉偏電壓自動控制的方法,。該方法易于實現(xiàn),電路簡單，可應用于整個生產(chǎn)測試環(huán)節(jié),。

　　關鍵詞：TPS5430DDA；硬件板卡,；電壓拉偏,；電壓跌落

　　中圖分類號：TP306+.2文獻標識碼：ADOI： 10.19358/j.issn.1674-7720.2016.24.010

　　引用格式：蘭英，黃宇,，徐靈飛．硬件測試中自動控制板卡電壓拉偏的方法［J］.微型機與應用,，2016,35（24）：34-35.

0引言

　　在大多數(shù)板卡設計中，針對客戶對硬件板卡供電范圍的要求,，需要在研發(fā)階段進行驗證,。因此，對批量硬件板卡相關指標的測試尤為重要,，其主要工作就是對工作電源電壓進行拉偏控制,，并對電壓跌落信號進行測試,。

　　本文以某主板測試案例為例，說明測試中自動控制板卡電壓拉偏的方法,。該主板（產(chǎn)品）工作電源為5 V（1±5%）,，并在背板連接器（主板和測試工具板之間的連接器）中定義了電壓跌落（XVccFALL#）信號引腳，要求輸入電壓跌落時,，該引腳能輸出跌落指示信號,。

　　為了驗證每張板卡供電范圍的一致性及板卡的電壓跌落檢測電路是否能有效工作，在實踐中,，主板配合硬件測試底板（測試工具板）實現(xiàn)了輸入電壓拉偏控制,，并針對XVccFALL#信號進行自動化測試，無需人工值守,，方便在生產(chǎn)測試環(huán)節(jié)中使用,。

1需求分析

　　從需求來看，驗證板卡電壓工作范圍和電壓跌落指示信號很簡單,，將板卡輸出電壓改為4.75 V~5.25 V之間,，檢測XVccFALL#信號高低狀態(tài)即可，剛開始準備使用可調(diào)電源調(diào)節(jié)輸入電壓并檢測跌落信號電平,，但無法與測試程序自動結合起來,，僅能作為手動測試項，調(diào)節(jié)起來比較費時費力,，且在一些特殊試驗時會加長電源導線,，不容易針對板卡末端電壓準確控制與測試。因此,，提出以下幾種實現(xiàn)方法,。

　　（1）底板準備幾組固定的電源電壓,，用主板輸出離散量控制場效應晶體管（MetalOxideSemiconductor FieldEffect Transistor, MOSFET）或繼電器切換輸入電壓,。

　　此方法調(diào)試簡單，但需要幾組電源,，無論是使用外置電源還是電源芯片產(chǎn)生,，都會增加對資源的要求，繼電器切換又存在壽命短,、耐振動性差等問題,；MOSFET切換也存在不同電壓間隔離、緩啟動電路等問題（若不考慮緩啟動的話會對輸入電壓帶負載能力提出更高要求）,。

　?。?）底板使用一個可外部設置輸出電壓的電源芯片，使用主板輸出離散量控制繼電器,、MOSFET,、數(shù)字電位器來改變反饋回路阻值,，從而改變輸出電壓。

　　此方法對資源要求小,，不需要太多器件,，考慮繼電器觸點存在抖動、耐振動性差等缺點,，數(shù)字電位器存在供電電壓的限制,，因此決定采用MOSFET來實現(xiàn)對反饋回路的控制。

2電路設計

　　根據(jù)需求分析,，選擇TPS5430DDA,、IRF7240（p溝道MOSFET）作為主要器件,結合TPS5430DDA芯片資料［1］，構建圖1所示電路,。其中,，在穩(wěn)定狀態(tài)下，VSENSE腳的電壓等于電壓參考值1.221 V,，輸出電壓VDDM5V0由VSENSE腳外接的電阻R58和R59,、R60、R61分壓決定,。通過跳線帽對插針JUMPER2連接,，可手動改變分壓值，即可以手動改變拉偏電壓,；另外,，在不用跳線帽時，圖中XPOWER端的輸入可控制IRF7240（MOSFET）［2］是否導通,，而XPOWER端是由主板測試程序通過離散量輸出通知底板復雜可編程邏輯器件（Complex Programmable Logic Device,，CPLD）打開和關閉，如圖2所示,，從而實現(xiàn)電壓拉偏自動控制,。

　　圖2CPLD控制XPOWER輸出當場效應管不導通時，VDDM5V0端的輸出電壓值為：

　　其中,，Rds為場效應管源極和漏極的內(nèi)阻值,，一般為毫歐級，根據(jù)所選場效應管的型號,，其對輸出電壓的誤差影響只有微伏級。在實際應用中工作原理是預先調(diào)節(jié)電路,，按照板卡要求設置好拉偏電壓值,。主板測試程序通過離散量輸出通知底板CPLD打開和關閉拉偏控制電路，延遲一段時間后,，主板測試程序通過離散量輸入檢測XVccFALL#狀態(tài)判斷是否合格,，板卡上電后可自動進行測試,。因MOSFET切換無抖動，故電壓輸出值穩(wěn)定,，超調(diào)值較小,，實測輸出電壓如圖3所示。

　　此案例中XVccFALL#信號是一個輸入電壓跌落的輸出指示,，本次在已有測試底板上先實現(xiàn)一個負向拉偏的功能,，對這種方法進行一次驗證，在有此需要的場景中,，可以根據(jù)此原理舉一反三,，靈活應用。

3結論

　　本文介紹的方法原理比較簡單,，但它可以結合測試程序?qū)崿F(xiàn)板卡電壓拉偏控制及輸出指示信號的自動化測試,。其優(yōu)點是不挑剔輸入電源，輸出電壓超調(diào)小,，輸出電壓切換時,，沒有電壓跌落，電壓變化平緩,。在整個生產(chǎn)測試環(huán)節(jié)（高溫,、低溫、振動等）中都可以使用,，檢測準確,，無需人工值守。該方法已在某項目測試底板上驗證,，試驗結果表明此方法可行,。

參考文獻

　　［1］ Texas Instruments. TPS5430 Datasheet［EB/OL］.(200601) ［2015056］http://www.alldatasheet.com/datasheetpdf/pdf/132224/TI/TPS5430.html.

　?。?］ Internation IOR Rectifier. IRF7240［EB/OL］.(2005106) ［2015056］http://www.infineon.com/cms/en/search.html#!term=IRF7240&view=all.