KLA-Tencor發(fā)布VoyagerTM 1015和Surfscan? SP7缺陷檢測系統(tǒng):解決工藝和設(shè)備監(jiān)控中的兩個關(guān)鍵挑戰(zhàn)
2018-07-12
今天,KLA-Tencor公司(納斯達(dá)克股票代碼:KLAC)宣布推出兩款全新缺陷檢測產(chǎn)品,在硅晶圓和芯片制造領(lǐng)域中針對先進技術(shù)節(jié)點的邏輯和內(nèi)存元件,,為設(shè)備和工藝監(jiān)控解決兩項關(guān)鍵挑戰(zhàn),。VoyagerTM 1015系統(tǒng)提供了檢測圖案化晶圓的新功能,,包括在光刻膠顯影后并且晶圓尚可重新加工的情況下,立即在光刻系統(tǒng)中進行檢查。Surfscan? SP7系統(tǒng)為裸片晶圓、平滑和粗糙的薄膜提供了前所未有的缺陷檢測靈敏度,,這對于制造用于7nm節(jié)點邏輯和高級內(nèi)存元件的硅襯底非常重要,同時也是在芯片制造中及早發(fā)現(xiàn)工藝問題的關(guān)鍵,。這兩款新的檢測系統(tǒng)都旨在通過從根源上捕捉缺陷偏移,,以加快創(chuàng)新電子元件的上市時間。
圖:KLA-Tencor全新缺陷檢測設(shè)備:Voyager? 1015與Surfscan? SP7將助力最先進的邏輯與存儲技術(shù)節(jié)點,,支持制程控制與制造設(shè)備監(jiān)控,。
“在領(lǐng)先的IC技術(shù)中,晶圓和芯片制造商幾乎沒有出錯的空間,,”KLA-Tencor資深副總裁兼首席營銷官Oreste Donzella說?!靶乱淮酒年P(guān)鍵尺寸非常小,,以至于在裸硅晶圓或鍍膜監(jiān)控晶圓上,那些可以導(dǎo)致良率損失的缺陷尺寸已經(jīng)小于現(xiàn)有設(shè)備監(jiān)測系統(tǒng)的檢測極限,。此外,,無論是193i還是EUV,缺陷檢測領(lǐng)域的第二個關(guān)鍵是如何可靠地檢測到光刻工藝早期所引入的良率損失缺陷,。我們的研發(fā)團隊開發(fā)出兩種新的缺陷檢測系統(tǒng)——一種用于無圖案/監(jiān)控晶圓,,一種用于圖案化晶圓——為工程師快速并準(zhǔn)確地解決這些難題提供了關(guān)鍵助力?!?/p>
Surfscan SP無圖案晶圓缺陷檢測系統(tǒng)采用實質(zhì)性創(chuàng)新的光源和傳感器架構(gòu),,并實現(xiàn)了足以改變行業(yè)面貌的靈敏度,其分辨率與前一代市場領(lǐng)先的Surfscan系統(tǒng)相比有著劃時代的提升,。這種前所未有的分辨率的飛躍是檢測那些最小的殺手缺陷的關(guān)鍵,。新分辨率的范圍可以允許對許多缺陷類型(如顆粒、劃痕,、滑移線和堆垛層錯)進行實時分類——無需從Surfscan設(shè)備中取出晶圓或影響系統(tǒng)產(chǎn)量,。同時,,對功率密度峰值的精確控制也使得Surfscan SP7能夠檢測薄而精致精細(xì)的EUV光刻膠材料。
Voyager 1015圖案化晶圓缺陷檢測系統(tǒng)將新型光源,、信號采集和傳感器完美結(jié)合,,填補了業(yè)界針對顯影后檢測(ADI)方面的長期空白。這一革命性的激光散射檢測系統(tǒng)在提升靈敏度的同時也可以減少噪聲信號——并且與最佳替代品相比得到檢測結(jié)果要迅速得多,。像新型Surfscan SP7一樣,,Voyager系統(tǒng)具有功率密度的獨特控制功能,可對顯影后敏感精細(xì)的光刻膠材料進行在線檢測,。在光刻系統(tǒng)和晶圓廠其他(工藝)模塊中對關(guān)鍵缺陷進行高產(chǎn)量捕獲,,使得工藝問題得以快速辨別和糾正。
第一批Surfscan SP7和Voyager 1015系統(tǒng)已在全球領(lǐng)先的晶圓,、設(shè)備和芯片制造商的工廠中投入使用,,與KLA-Tencor的eDR?電子束缺陷檢查分析系統(tǒng)以及Klarity?數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)一起,用以從根源上識別工藝控制的問題,。為了滿足晶圓和芯片制造商對高性能和生產(chǎn)力的要求,,Voyager和Surfscan SP7系統(tǒng)由KLA-Tencor全球綜合服務(wù)網(wǎng)絡(luò)提供技術(shù)支持。有關(guān)這兩個新缺陷檢測系統(tǒng)的更多信息,,請參閱Voyager 1015-Surfscan SP7發(fā)布信息頁面,。
關(guān)于KLA-Tencor:
KLA-Tencor 公司是全球領(lǐng)先的工藝控制及良率管理解決方案的設(shè)備供應(yīng)商。該公司與全球的
客戶合作,,開發(fā)最先進的檢測和量測技術(shù),,致力服務(wù)于半導(dǎo)體、LED 等相關(guān)納米電子工業(yè),。憑借業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品組合和世界一流的工程師科學(xué)家團隊,,公司40余年來持續(xù)為客戶打造卓越的解決方案。KLA-Tencor 公司的總部位于加利福尼亞州米爾皮塔斯市(Milpitas),,并
在全球設(shè)有專屬的客戶運營和服務(wù)中心,。更多相關(guān)信息,請訪問公司網(wǎng)站http://www.kla-tencor.com/ (KLAC-P),。
前瞻性聲明:
本新聞稿中除歷史事實以外的聲明,,例如關(guān)于Voyager 1015和Surfscan SP7系統(tǒng)的預(yù)期性能以及缺陷減少為晶圓、設(shè)備,、材料和芯片制造設(shè)施所帶來的經(jīng)濟影響都是前瞻性陳述,,并且并符合《1995 年美國私人證券訴訟改革法案》(Private Securities Litigation Reform Act of 1995)中“安全港” (Safe Harbor)條款的規(guī)定。這些前瞻性聲明基于目前資訊及預(yù)期,, 并且受到諸多風(fēng)險與不確定性影響,。由于各種實際因素,例如(由于成本、性能抑或其他原因造成的)新技術(shù)推遲,、其他公司推出競爭性產(chǎn)品,、或影響KLA-Tencor 產(chǎn)品的實施、性能或使用的意外技術(shù)挑戰(zhàn)或限制等影響,,實際結(jié)果可能與此類聲明中的預(yù)計結(jié)果大不相同,。