0 引言

    作為戰(zhàn)時重要物質(zhì)基礎(chǔ),，彈藥必須要保持良好的質(zhì)量狀態(tài)，應(yīng)定期根據(jù)其質(zhì)量檢測結(jié)果制定合理的維護,、維修策略,。但彈藥是一種不宜拆解檢測的特殊裝備，因此傳統(tǒng)方法是根據(jù)其儲存年限主觀確定質(zhì)量等級進而進行批量處理,，這種一刀切的做法往往會造成浪費或帶來安全隱患^[1],。而利用無損檢測技術(shù)可在不解體情況下找出彈藥內(nèi)部存在的問題，從而制定基于狀態(tài)的維修策略,，提高決策的科學(xué)性和合理性,。X射線檢測技術(shù)以其應(yīng)用范圍廣、可實時成像,、檢驗結(jié)果直觀、成本相對低廉等優(yōu)點,，成為無損檢測領(lǐng)域中應(yīng)用最廣泛的方法^[2],，至今仍然占有重要地位。針對現(xiàn)有的單一射線源式檢測系統(tǒng)不能兼顧穿透力和成像分辨率的問題,，本文設(shè)計了一種集成了常規(guī)大功率焦點和微焦點射線源的復(fù)合型數(shù)字式X射線實時成像系統(tǒng),，解決了雙焦點射線源兼容控制和圖像處理的難題，實現(xiàn)了強穿透力和高分辨率的融合,。

1 總體設(shè)計

    為了保證穿透力,，需選用大功率高穿透力射線源，但其具有焦點較大,、成像分辨率較低的缺點,，只能實現(xiàn)大尺寸損傷的探測，對于電路板虛焊,、藥柱裂紋之類的微小損傷則難以成像,；而微焦點射線源雖然能解決這一問題，但穿透力不夠^[3],。本文將這兩種射線源有機融合在一起,，研制了多射線復(fù)合型檢測系統(tǒng)，既可適應(yīng)微結(jié)構(gòu),、微缺陷檢測要求,，又可滿足較大、較厚工件的檢測需求,。

    系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)如圖1所示,。

    用戶利用射線控制器操控常規(guī)焦點和微焦點射線源發(fā)射X射線穿透被測工件并在平板成像器上成像，利用系統(tǒng)控制器操控轉(zhuǎn)臺電機對工件進行旋轉(zhuǎn)和移動實現(xiàn)全方位掃描，計算機采集成像器的圖像并進行處理分析,，在系統(tǒng)軟件的缺陷自動識別功能輔助下結(jié)合人工識讀進行故障識別和定位,。

2 硬件設(shè)計

2.1 射線源集成設(shè)計

    為了將常規(guī)焦點和微焦點射線源進行無縫集成，需要設(shè)計合理的供電和控制電路,，計算機通過設(shè)計的集成控制架構(gòu)和電路與常規(guī)焦點和微焦點射線源進行聯(lián)接,，從而實現(xiàn)同步供電和控制。系統(tǒng)電氣,、控制結(jié)構(gòu)如圖2所示,。

    智能控制終端通過RS232串口通信直接控制、操作微焦點射線源,，進行供電和管電壓,、管電流調(diào)整。通過接口與PLC通信,，控制相應(yīng)的I/O點,，并下達指令控制相應(yīng)的繼電器動作，然后再通過系統(tǒng)控制器的電壓采集電路,、高壓控制電路對高壓發(fā)生器進行控制,，從而控制常規(guī)射線源進行操作，實現(xiàn)對兩種射線源的集中控制,，以在需要的時候進行焦點切換,。

2.2 數(shù)字成像系統(tǒng)設(shè)計

    數(shù)字成像子系統(tǒng)包括平板成像器、計算機,、圖像采集卡及處理軟件等,，主要功能是進行圖像采集、缺陷成像及圖像處理,。平板成像器和圖像處理軟件是數(shù)字成像系統(tǒng)的最主要部分,，平板成像器在圖像處理軟件的控制下進行圖像采集，通過專用接口總線與計算機的圖像采集卡通信,，將采集的數(shù)據(jù)交由圖像處理軟件進行圖像處理和分析,。

2.3 機械操作平臺

    機械操作平臺主要由電氣控制系統(tǒng)、射線源移動平臺,、平板成像器移動平臺,、C型臂、工件檢測平臺等組成,。射線源及平板成像器移動平臺用于承載,、安裝射線源及探測器，通過C型臂帶動作同步升降和平移,，且平板成像器可以相對射線源平移進行焦距調(diào)整,，以保證圖像清晰度和縮放需求,。工件檢測平臺用于承載、放置被檢測工件,，可正負旋轉(zhuǎn)360°,，及沿X射線方向伸縮調(diào)整，通過智能控制終端的嵌入式計算機和PLC通信進行控制,。為保證平臺操作過程中設(shè)備和人員的安全性,，在平臺導(dǎo)軌末端均安裝有限位傳感器，具備保護,、報警功能,。

2.4 電氣控制系統(tǒng)

    電氣系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)已在圖2中介紹，其中的關(guān)鍵部分PLC硬件結(jié)構(gòu)及工作原理示意如圖3所示,。

    電氣控制系統(tǒng)包括操作臺,、配電柜、控制單元(PLC等),、執(zhí)行機構(gòu)(各種電磁閥,、步進電機、伺服電機),、傳感器及相關(guān)的電氣組件等,，可為系統(tǒng)運行提供動力和控制電源，并控制機械平臺,、防護子系統(tǒng)的運動和互鎖等。其中操作臺上包括操作面板及按鈕,、計算機,、視頻監(jiān)控顯示器、射線控制器等,?？刂茊卧皥?zhí)行組件控制部分是電氣系統(tǒng)的核心，包括射線源控制部分,、智能控制終端,、PLC及控制軟件、執(zhí)行機構(gòu)(各種電磁閥,、步進電機,、伺服電機)以及其他電氣組件。計算機設(shè)置各種參數(shù)并通過PLC對各執(zhí)行機構(gòu)進行控制,，以及與PLC進行實時通信實現(xiàn)系統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)控和對機械平臺,、連鎖保護機構(gòu)、X射線源的控制,。

    利用編程器或計算機等設(shè)備,，將編制好的用戶程序下載至PLC用戶程序內(nèi)存中,，PLC內(nèi)部的微處理器在一個循環(huán)掃描周期內(nèi)，先通過輸入部件將現(xiàn)場傳至的開關(guān)量,、模擬量等信號進行采集,，然后根據(jù)用戶程序進行邏輯、數(shù)學(xué)運算,，最后將運算處理結(jié)果通過輸出部件來控制繼電器,、接觸器以帶動電磁閥、電機等執(zhí)行部件動作,。

2.5 自動測距裝置

    對X射線成像系統(tǒng),，焦距的大小對成像的幾何清晰度和靈敏度有著較大的影響，而且對于計算圖像放大倍率,、確定圖像中缺陷的實際物理尺寸有重要作用,，操作者會根據(jù)成像的要求對焦距進行實時調(diào)整，從而得到最佳的圖像質(zhì)量,。為實時測量焦距和物距以方便估算放大倍率,，采用超聲波測距原理開發(fā)了一種自動測距裝置，將其安裝在射線機下方,，裝置的發(fā)射器和接收器正對平板成像器和被測試工件,。通過控制軟件下達測距指令，測距模塊的發(fā)射器發(fā)射波長約6 mm,、頻率為40 kHz的超聲波,，到達平板成像器(或被測物)表面后發(fā)生反射并由接收器接收，根據(jù)發(fā)射與接收的時間差值和波速,，就可以計算得到射線源焦點到平板成像器(或被測物體)的距離即焦距,。

3 軟件設(shè)計

3.1 雙射線源成像的圖像增強處理

    常規(guī)焦點與微焦點成像系統(tǒng)共享平板成像器、計算機,、圖像處理軟件,，雖然節(jié)省了空間、提高了軟硬件的集成度,，但二者分辨率,、對比度、灰度范圍均存在差異,，若采用一套參數(shù)進行圖像處理,，不能達到很好的匹配效果，因此需要針對不同分辨率,、對比度的射線圖像研究自適應(yīng)圖像增強算法,。

    本文采用基于曲波(Curvelet)變換的圖像增強方法。與小波變換一樣,，基于Curvelet變換圖像去噪的基本原理是首先對圖像做Curvelet變換得到一系列Curvelet系數(shù),，其次計算閾值,，選取合適的閾值量化方法對Curvelet系數(shù)進行取舍，從而得到新的Curvelet系數(shù),，最后對經(jīng)過量化的系數(shù)進行Curvelet逆變換,，得到去噪后的圖像。其中,，選擇合適的閾值對圖像去噪十分重要,，如果閾值太小，去噪后的信號仍會含有噪聲,；如果閾值太大,，重要的圖像特征會被濾掉引起偏差^[4]。大多數(shù)閾值選擇的過程是針對一組系數(shù)即根據(jù)本組系數(shù)的統(tǒng)計特性計算出一個值,。常用的閾值有D.J閾值,、SURE閾值和BayesShrink閾值等^[5]。本文選用D.J閾值,，分別計算每一層系數(shù)的閾值,，大小為：

其中，C為Curvelet變換的最高層系數(shù),。

    實驗表明,，該方法對常規(guī)焦點和微焦點射線圖像都具有很好的增強效果，圖像質(zhì)量明顯優(yōu)于常規(guī)方法,，可有效解決兩種射線系統(tǒng)焦點不同導(dǎo)致的相容性和匹配性問題,。

3.2 缺陷圖像自動識別

    受到影像設(shè)備、媒質(zhì)的實際性能及接收設(shè)備等因素的限制,，實際采集到的圖像質(zhì)量存在噪聲大,、對比度差、背景均勻性差,、邊界模糊及焊縫細節(jié)復(fù)雜等問題，給缺陷的提取與識別帶來了一定的困難,。而且人工評片工作量大,、速度慢、易誤判漏判造成嚴重后果,。本文應(yīng)用計算機圖像處理技術(shù),，在提高圖像細節(jié)信息的同時抑制系統(tǒng)噪聲和背景噪聲以更好地顯示圖像，可有效克服人工評片引起的漏判或誤判,，使評定工作客觀化,、規(guī)范化?；赬射線圖像的缺陷識別處理算法流程如圖4所示,。

3.2.1 基于減影技術(shù)的迭代閾值分割

    實現(xiàn)對缺陷的識別,，關(guān)鍵在于提取圖像的特征以正確反映圖像的特點，從而合理地進行圖像分割和特征參量提取^[6],。針對X射線圖像的特點,，采用數(shù)字減影技術(shù)，結(jié)合圖像分割技術(shù),，對其進行數(shù)字減影處理,，降低了原始圖像的干擾成分，僅提取圖像中缺陷的影像,，并通過一定的分割處理,，進一步突出了有效信息。

    如何確定最佳閾值是缺陷檢測的一個關(guān)鍵,。如果閾值選取太小,，則會把一些不是缺陷的像素也當(dāng)作缺陷造成誤識；如果閾值選取得太大,，則會把一些缺陷漏掉造成漏識,。在綜合考慮閾值既能準確定位計算量又可接受的條件下，采用迭代閾值進行圖像分割,，其基本思想：首先選擇一個閾值作為初始估計值,，然后按某種策略不斷地改進這一估計值，直到滿足給定的準則為止,。具體步驟如下：

    (1)選擇圖像灰度值的中值作為初始閾值T₀,，也可以選擇圖像的平均灰度值來作為初始閾值；

    (2)利用閾值T₀把圖像分為R₁和R₂兩個區(qū)域,；

    (3)計算區(qū)域R₁和R₂的灰度均值μ₁和μ₂,；

    (4)計算μ₁和μ₂后,計算新的閾值T_i+1：

    (5)重復(fù)步驟(2)、(3)和(4),，直到T_i+1和T_i值相等,，那么就獲得了所需要的閾值。

    該方法可以有效地去除背景噪聲,，在缺陷和背景的交界處能很好地突出背景和目標的邊界,，與其他分割方法相比較不會產(chǎn)生粘連現(xiàn)象，且算法簡單易于實現(xiàn),。

3.2.2 基于支持向量機的缺陷圖像識別

    經(jīng)過圖像增強,、分割和特征選擇與提取從而實現(xiàn)對缺陷的識別，就是要根據(jù)提取的特征參量對圖像進行分類,。由于實驗條件的限制,，獲得的每一類型圖像數(shù)量有限，因此必須解決樣本數(shù)量少這一難題,。

    在解決小樣本分類問題中,，支持向量機(SVM)相比神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),、模糊數(shù)學(xué)等是比較有效的方法。應(yīng)用支持向量機理論對圖像進行分類,，主要是建立圖像分類的模型,，包括數(shù)據(jù)的歸一化、多類分類方法的選擇,、核函數(shù)的選取以及分類機參數(shù)的分析和確定等,。為了解決多類分類問題，采用SVM法對多類對象進行分類,，主要步驟如下：

    (1)將實際問題數(shù)據(jù)化,，并對數(shù)據(jù)進行歸一化處理；

    (2)根據(jù)分類對象的特點,，選擇合適的多類分類方法,；

    (3)選擇核函數(shù)與參數(shù)。核函數(shù)在支持向量機中具有重要地位,，核函數(shù)參數(shù)的選擇直接影響核函數(shù)的推廣能力,；

    (4)構(gòu)建訓(xùn)練樣本集，建立最優(yōu)分類超平面,；

    (5)對待測樣本做出分類決策,，得出分類問題的學(xué)習(xí)精度。

    其中,，對數(shù)據(jù)進行歸一化可采用下式對數(shù)據(jù)進行壓縮,。

    經(jīng)上述公式歸一化后的特征參量數(shù)據(jù)在[0.1，0.9]之間,，有利于數(shù)據(jù)的分類,。

    SVM多類分類法可選用一對余類的多類分類法對疵病圖像進行分類，在核函數(shù)以及分類機參數(shù)的選取方面,，可選用Gauss徑向基核函數(shù),，主要參數(shù)為σ。因此對于一個基于RBF核的SVM,，其性能是由參數(shù)(C,，σ)決定的，參數(shù)選擇就是要選取最優(yōu)參數(shù)組合(C,，σ)，得到SVM的最優(yōu)值,，可結(jié)合實驗反復(fù)調(diào)整參數(shù)值來確定參數(shù)的最優(yōu)組合,。

3.3 圖像處理軟件開發(fā)

    軟件主要功能有參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集,、圖像編輯,、圖像處理,、圖像分析、圖像測量,、圖像管理等,，實現(xiàn)的關(guān)鍵功能點如下：(1)具有降噪、亮度對比度增強,、邊緣增強等基本功能,；(2)適應(yīng)相應(yīng)檢測產(chǎn)品所規(guī)定的技術(shù)標準，具有圖像幾何尺寸標定和測量以及缺陷定位功能,。一般在圖像中標定的缺陷位置與實際位置誤差應(yīng)不大于2 mm,，單個缺陷的測量精度為±0.5 mm。

    軟件采用圖5所示流程控制平板成像器和射線源進行掃描和圖像采集,。

    首先要確定拍照區(qū)域大小,，并將平板成像器置于掃描起始點上；其次是判斷有無信號,，這是保證成像器能采集到有用數(shù)據(jù)的關(guān)鍵一步,，采用閾值判斷法保證了其能夠正確獲得圖像。具體方法是：無射線照射時,，成像器在全暗情況下數(shù)字化后的圖像灰度值基本分布在0~20之間,，而在有射線照射時灰度值一般在50以上，所以可以設(shè)置一個閾值(如30),，采集到的一幅圖像的平均灰度值小于此值時認為無信號,，否則認為有信號。用戶程序中采用循環(huán)采集判斷,，當(dāng)循環(huán)時間超過一定時間(一般設(shè)定為10 s)沒有信號時則退出采集,，若采集到信號，則退出循環(huán)正式開始采集圖像,。

    再次是啟動X射線源進行拍照,。在循環(huán)判斷期間，手動啟動X射線源,，如果一切正常,，探測器應(yīng)該采集到信號，迅速退出循環(huán)(連采集帶判斷,，一般不超過10 ms)啟動掃描和圖像采集程序,。探測器輸出的數(shù)字信號通過電纜輸入至計算機的圖像采集卡并送入內(nèi)存。經(jīng)過以上過程,，得到了一幅完整的X射線圖像,，可以將圖像保存到硬盤、CDR等存儲介質(zhì)中，并可在圖像處理軟件中進行灰度拉伸,、圖像反轉(zhuǎn),、中值濾波等操作。

4 結(jié)論

    本文的雙焦點射線源復(fù)合型彈藥無損檢測系統(tǒng)實現(xiàn)了焦點的自動切換,，并通過對雙射源圖像的增強處理,，達到了強穿透力和高分辨率的統(tǒng)一，可適用于厚工件和微損傷的檢測,。通過采用圖像自動識別算法,，實現(xiàn)了損傷的輔助自動識別，降低了人工識讀帶來的誤差,。本文成果不僅適用于彈藥的無損檢測,，也適用于其他產(chǎn)品，已經(jīng)進行了實際使用,，應(yīng)用結(jié)果表明,，該系統(tǒng)適用范圍廣、故障檢出率高,、準確性強,，具有很好的推廣價值。

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作者信息:

劉耀周1,，宋祥君2，高宏偉3,，李  妍3

(1.沈陽理工大學(xué) 裝備技術(shù)研究院，遼寧 沈陽110159,；2.中國人民解放軍32181部隊,，河北 石家莊050000；

3.沈陽理工大學(xué) 自動化與電氣工程學(xué)院,，遼寧 沈陽110159)