《電子技術(shù)應(yīng)用》
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科學(xué)家研發(fā)出全新激光散斑技術(shù),,X射線鏡的高精度計量成為可能

2021-09-29
來源:光電資訊
關(guān)鍵詞: 散斑技術(shù) X射線

  X射線鏡廣泛用于同步輻射設(shè)備,、X射線自由電子激光器和天文X射線望遠(yuǎn)鏡,。然而,短波長和掠入射,,對允許的斜率誤差有嚴(yán)格的限制,。

  近期,研究人員介紹了一種新的激光散斑角測量(SAM)技術(shù),,該技術(shù)演示了如何大幅降低斜率誤差測量,。

  團(tuán)隊開發(fā)了一種新的計量儀器和技術(shù),基于散斑角測量(SAM),,它可以超越當(dāng)前計量技術(shù)的許多限制,,為表征高質(zhì)量的強彎曲X射線反射鏡提供了前所未有的精度。

  據(jù)介紹,,SAM結(jié)構(gòu)緊湊,,成本低,很容易與大多數(shù)現(xiàn)有的X射線鏡計量儀器集成,。重要的是,,它可以精確測量二維的強曲面鏡,精度達(dá)到納米級,。這是大多數(shù)現(xiàn)有計量儀器所缺乏的功能,,彌補了X射線鏡計量界在其能力方面所面臨的差距。

  發(fā)表在《光:科學(xué)與應(yīng)用》(Light: Science and Applications)論文中,,該團(tuán)隊證明了利用一種先進(jìn)的亞像素跟蹤算法,,可以將坡度誤差測量的角精度降低到20nrad rms。

  研究小組表示,,這種新的納米計量方法可能為開發(fā)下一代超拋光x射線鏡提供新的可能性,,這也將推進(jìn)同步輻射、自由電子激光器,、x射線納米探測器,、相干性保存,、天文物理學(xué)和望遠(yuǎn)鏡的發(fā)展,。

  Diamond的首席光束科學(xué)家,、光學(xué)和計量組組長Kawal Sawhney教授補充稱:“這種新型儀器將增強Diamond公司先進(jìn)的計量實驗室的能力,使我們能夠?qū)τ媱澤墳榈桶l(fā)射度Diamond- ii源所需的高質(zhì)量X射線鏡進(jìn)行計量測試,。X射線反射鏡的供應(yīng)商也會發(fā)現(xiàn)這種新儀器很有吸引力,,因為它將使他們能夠制造比目前更好質(zhì)量的光學(xué)產(chǎn)品?!?/p>

  高精度X射線反射鏡不斷改進(jìn)和發(fā)展,,以跟上全球同步加速器升級到衍射限制存儲環(huán)的步伐。

  為了克服目前計量技術(shù)的局限性,,研究小組開發(fā)了這種新的SAM光學(xué)掃描頭和方法,,認(rèn)識到更精確的鏡形測量對下一代x射線鏡至關(guān)重要,以使它們能夠利用改進(jìn)的光源并滿足新的需求,。

  SAM的設(shè)置看起來很簡單(圖1),。激光通過漫射器產(chǎn)生二維隨機強度圖案(散斑),它們可以被視為具有不同特征的多束鉛筆光束,。因為每個散斑圖案都有獨特的特征,,散斑可以被視為一組多個波前標(biāo)記。反射鏡在測量面積上的斜率變化會使散斑模式發(fā)生偏移,。通過采用先進(jìn)的亞像素算法精確跟蹤散斑位移,,可以在二維納米尺度上測量被測表面(SUT)的斜率變化。

 ?。▓D1 來源:Light: Science and Applications)

  SAM可以很容易地安裝在現(xiàn)有的非原位計量龍門上,。它可以生成二維表面輪廓,提供豐富的X射線反射鏡表面輪廓信息,。掃描角度范圍大,、重復(fù)性好、精度高,。

  SAM儀器還可以通過對整個鏡面進(jìn)行SAM的二維光柵掃描來測量環(huán)面,、橢球面和拋物面鏡。SAM儀器不僅僅局限于同步X射線反射鏡,,還可以應(yīng)用于自由曲面光學(xué)和其他領(lǐng)域的高質(zhì)量反射鏡,,如極端紫外光刻和激光點火。

  如何利用現(xiàn)有的計量技術(shù)來指導(dǎo)提高X射線反射鏡制造質(zhì)量的新努力變得越來越具有挑戰(zhàn)性,。

  這種新技術(shù)和儀器使用了大量的散斑,,即使在單幅圖像中也能提供更好的統(tǒng)計量和更少的隨機噪聲。這一顯著的特性,,將可能使擬議的SAM計量技術(shù)廣泛應(yīng)用于超精密計量和下一代X射線鏡的改進(jìn),。

  Diamond的物理科學(xué)主任Laurent Chapon評論道:“這種令人興奮的散斑角測量新技術(shù),由Diamond的光學(xué)和計量集團(tuán)成員集中開發(fā),將能夠擴展現(xiàn)有計量儀器的能力,。

  對于下一代x射線鏡來說,,需要跟上新的X射線源的步伐,以及對更強的一致性和更緊聚焦的日益增長的需求,,SAM將是一個及時的撬動突破口,。”

  Diamond公司的光學(xué)和計量組使用其測試光束(B16),,來開發(fā)這種先進(jìn)的x射線成像和計量方法,。

  近期,一種基于斑點的全向差分相位和暗場成像技術(shù)已經(jīng)在《美國國家科學(xué)院院刊》(PNAS)上展示并發(fā)表,。該小組現(xiàn)在已經(jīng)成功地將這種散斑技術(shù)從X射線轉(zhuǎn)移到可見光區(qū)域,。




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