文獻標識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.190954
中文引用格式: 丁坤,,田睿智,,汪濤,等. 高線性度CMOS模擬乘法器設(shè)計與仿真[J].電子技術(shù)應(yīng)用,,2020,,46(1):52-56,61.
英文引用格式: Ding Kun,,Tian Ruizhi,,Wang Tao,et al. Design and simulation of high linearity CMOS analog multiplier[J]. Application of Electronic Technique,,2020,,46(1):52-56,61.
0 引言
模擬乘法器是模擬信號處理系統(tǒng)的重要組成部分,,在自動增益控制,、鎖相環(huán),、調(diào)制、解調(diào),、相位檢查、頻率變換,、信號平方開方,、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和模糊積分系統(tǒng)等方面有著廣泛應(yīng)用[1-3]。實現(xiàn)模擬乘法運算有多種方法,,一般有霍爾效應(yīng)法,、磁阻乘法器、脈沖高/寬調(diào)制,、1/4平方差法,、三角波平均法、對數(shù)與反對數(shù)法,、可變跨導(dǎo)法,、開關(guān)電容法、電流模法和CMOS電流平方法等[4-6],。全部采用MOS器件構(gòu)成的模擬乘法電路易于和其他電路實現(xiàn)單片集成,,增加芯片集成度;隨著芯片集成度的提高,,信號之間的串擾增加,,導(dǎo)致芯片失效,對芯片進行抗噪設(shè)計非常重要,;線性度反映器件的抗干擾能力和容納噪聲能力,,在信號完整性領(lǐng)域具有重要意義[7]。
隨著CMOS特征工藝不斷縮小,,為保證MOS管工作在飽和區(qū),,必須限制信號的線性輸入范圍,傳統(tǒng)的CMOS Gilbert乘法單元電路難以實現(xiàn)較寬的輸入范圍,,抗噪聲能力十分有限[8-9],,為解決CMOS Gilbert乘法單元的這些缺陷,就必須加入信號衰減電路對其進行優(yōu)化[10-11],。本文基于TSMC 0.18 μm工藝設(shè)計了一種高線性度CMOS模擬乘法器,,通過優(yōu)化電路和器件結(jié)構(gòu),在HSPICE環(huán)境下對CMOS模擬乘法器的直流,、交流,、倍頻、噪聲及溫度等特性進行仿真和優(yōu)化,,分析了各項關(guān)鍵性能參數(shù)并與參考文獻進行了比較,。
1 模擬乘法器電路結(jié)構(gòu)設(shè)計
本文采用有源衰減器來提高CMOS模擬乘法器的信號處理能力,,對輸入信號進行衰減,并使用源跟隨器對信號的電位進行平移,,通過對信號的預(yù)處理來提高乘法器的性能,。電路主要由有源衰減器、CMOS Gilbert乘法單元和偏置電路三部分組成,。有源衰減器對輸入信號進行衰減及電位平移,,CMOS Gilbert乘法單元對預(yù)處理后的信號進行乘法運算,偏置電路為電流源提供偏置電壓,。
1.1 CMOS Gilbert乘法單元
CMOS Gilbert乘法單元的電路拓撲結(jié)構(gòu)如圖1所示,。其中M7、M11和M12為NMOS電流源,,Vb為電流源M7的偏置電壓,,M1~M6構(gòu)成MOS型Gilbert六管乘法單元[4]。Vx1,、Vx2,、Vy1和Vy2為輸入信號端,Vo1和Vo2為輸出信號端,。設(shè)K=0.5μnCOX,,W/L=1,K1=K2=K3=K4=K5=K6=K,。經(jīng)推導(dǎo)得到:
其中,,I1~I4、I11和I12分別為M1,、M2,、M3、M4,、M11和M12的源漏電流,,ISS為M5和M6的源漏電流,UX=Vx1-Vx2,,UY=Vy1-Vy2,。
從式(2)所給的近似條件中可以看出,在很小的情況下,,CMOS Gilbert乘法單元實現(xiàn)了乘法運算,。為滿足這一近似條件,在CMOS Gilbert乘法單元的兩個輸入端X和Y各加入一對有源衰減器,。
1.2 有源衰減器
X信號的有源衰減器電路拓撲結(jié)構(gòu)如圖2所示,。電路為對稱結(jié)構(gòu),分別處理兩個輸入端的X信號,。以左半邊電路為例,,P管M13工作在線性區(qū),,P管M17工作在飽和區(qū),構(gòu)成有源衰減器[7],。N管M25工作在飽和區(qū),,作為源跟隨器。M21為電流源,,與M25構(gòu)成電位平移電路,。Vx3和Vx4為輸入信號端,Vx1和Vx3為輸出信號端,。記M25的柵電壓為V1,設(shè)VTH13=VTH17=VTH,,V1與輸入電壓的關(guān)系為:
可見,,適當調(diào)節(jié)M13和M17的溝道寬度和溝道長度即可獲得合適的衰減系數(shù)。Y信號有源衰減器的原理與X信號有源衰減器的原理相同,。
1.3 偏置電路
偏置電路拓撲結(jié)構(gòu)如圖3所示,,由三個漏柵短接的NMOS串聯(lián)組成,通過調(diào)節(jié)M8~M10的寬長比來確定偏置電壓,,其中Vb為輸出電壓端,。
1.4 整體電路及參數(shù)
CMOS模擬乘法器整體電路結(jié)構(gòu)及參數(shù)如圖4和表1所示。該電路主要由CMOS Gilbert乘法單元電路,、有源衰減器電路,、偏置電路等幾個模塊構(gòu)成。
在圖4中,,從左到右依次為偏置電路,、X信號有源衰減器、CMOS Gilbert乘法單元和Y信號有源衰減器,?;赥SMC 0.18 μm工藝,通過優(yōu)化,,模擬乘法器整體電路中各MOS管寬長比如表1所示,。
2 模擬乘法器電路仿真結(jié)果
基于TSMC 0.18 μm工藝,采用工藝庫中的3.3 V器件,,經(jīng)仿真各優(yōu)化后的MOS管耐壓情況符合工藝要求,。在HSPICE環(huán)境下對乘法器的直流傳輸特性、交流特性,、倍頻特性以及溫度特性進行仿真,。
2.1 直流傳輸特性
當Vx4=0 V,Vy3=0 V時,,使Vx3分別從0.6 V至-0.6 V以步長0.2 V進行直流傳輸特性掃描,,當從-0.6 V至0.6 V以步長0.2 V增加,,得到X端直流傳輸特性如圖5所示,其中Vout=Vo1=Vo2,。
取電壓范圍最大的兩條直線用最小二乘法擬合得到直線方程:y1=-0.041 49x1+0.000 15,,最大非線性誤差為3.84%;y2=0.002 5x2+0.000 01,,最大非線性誤差為3.81%,。
輸入范圍為±0.9 V時,X端直流傳輸特性如圖6所示,??删€性擬合為:y1=-0.005 87x1+0.000 44,最大非線性誤差為5.52%,;y2=0.005 7x2+0.000 05,,最大非線性誤差為5.72%。
2.2 交流傳輸特性
當Vx4=-0.6 V,,Vy3=-0.6 V,,Vy4=0.6 V時,在Vx3輸入直流偏壓為0.6 V,、幅值為0.2 V的交流信號,,頻率從0.5 GHz到100 kHz以每10 Hz為單位衰減,得到X端交流傳輸特性如圖7所示,,可得出乘法器-3 dB帶寬為181 MHz,。
2.3 倍頻特性
在Vx3端輸入頻率為500 kHz的正弦信號,在Vx4輸入與Vx3頻率幅度相同,、相位相反的正弦信號,,令Vx=Vx3-Vx4。同理,,在Vy3端輸入頻率為500 kHz的正弦信號,,在Vy4輸入與Vy3頻率幅度相同、相位相反的正弦信號,,令Vy=Vy3-Vy4,。可得到輸出的仿真結(jié)果如圖8所示,,可以看出輸出信號的頻率是輸入信號的兩倍,,即模擬乘法器實現(xiàn)了原輸入信號的倍頻。
在Vx端輸入頻率為20 kHz,、幅值為0.2 V的正弦信號,,在Vy端輸入頻率為500 kHz、幅值為0.2 V的正弦信號。得到該模擬乘法器的雙邊帶調(diào)幅仿真結(jié)果如圖9所示,。
2.4 溫度特性
不同溫度下的輸出響應(yīng)如圖10和圖11所示,。從圖10可見,隨著溫度的升高,,輸出幅度會減小,。在圖11中,以27 ℃曲線中0 dB為參考點,,當溫度為-46 ℃時,,輸入信號為134 MHz時的輸出誤差為3.04 dB;當溫度為100 ℃時,,輸入信號為134 MHz時的輸出誤差為-3.19 dB,。
2.5 噪聲分析
模擬乘法器的噪聲仿真曲線如圖12所示??梢钥闯?,在頻率為100 kHz時,等效輸入噪聲為287 nV/,,等效輸出噪聲為9.83 nV/。
2.6 模擬乘法器版圖的優(yōu)化設(shè)計
基于TSMC 0.18 μm工藝,,使用Cadence Virtuoso軟件對該模擬乘法器的版圖進行了優(yōu)化設(shè)計,,版圖面積為(215×268)?滋m2,如圖13所示,。與文獻[7]中所設(shè)計的版圖相比,,本文差分對管采用了共質(zhì)心技術(shù),并對大尺寸晶體管進行了拆分處理,,有效提高了版圖性能,,本文采用Si基CMOS工藝有利于與芯片其他Si基集成電路模塊的系統(tǒng)集成,提高整個芯片的集成度,。
3 模擬乘法器線性度分析與比較
3.1 模擬乘法器線性度與輸出幅度的關(guān)系
在輸入信號幅度固定為±0.6 V時,,通過優(yōu)化有源衰減器MOS管的寬長比來控制乘法器的輸出幅度,研究其線性度和輸出幅度的關(guān)系,,如表2所示,。由于乘法器性能取決于MOS晶體管的I-V特性,隨著輸出幅度減小,,乘法器最大非線性誤差也隨之減小,,但若輸出幅度太小,信號便難于檢測,。乘法器輸出幅度與線性度應(yīng)折中考慮,,根據(jù)實際應(yīng)用需求優(yōu)化器件參數(shù)。
3.2 與參考文獻的線性度等參數(shù)的比較
在參考文獻中,,線性度用非線性誤差這一指標來衡量,,是反映乘法器性能的主要指標之一,,本文乘法器與參考文獻中的乘法器比較如表3所示。
通過綜合比較模擬乘法器主要參數(shù),,如電源電壓,、輸入電壓范圍、非線性誤差,、-3 dB帶寬和特征工藝等,,可見,和文獻相比,,本文采用的特征工藝和電源電壓均符合當前集成電路發(fā)展趨勢,,本文乘法器在輸入范圍更寬的情況下(±0.6 V),非線性誤差減小到3.84%,,這表明本文乘法器的線性度明顯優(yōu)于現(xiàn)有文獻,。
4 結(jié)論
本文采用CMOS器件,通過優(yōu)化電路結(jié)構(gòu)和器件參數(shù),,設(shè)計了一種高線性度CMOS模擬乘法器,。采用有源衰減器對輸入信號進行預(yù)處理,將預(yù)處理之后的信號送至CMOS Gilbert乘法單元進行運算,。與參考文獻中的幾款典型乘法器對比表明,,本文通過優(yōu)化設(shè)計電路結(jié)構(gòu)和器件參數(shù)的集成電路設(shè)計方法[12],得到的乘法器具有輸入范圍更寬,、非線性誤差更小等優(yōu)點,,線性度明顯提高,因此,,本文模擬乘法器的抗噪聲能力更強,,將在信號完整性等領(lǐng)域有著重要應(yīng)用。
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作者信息:
丁 坤1,田睿智1,,汪 濤1,,2,王 鵬1,,易茂祥1,,張慶哲1
(1.合肥工業(yè)大學 電子科學與應(yīng)用物理學院 國家示范性微電子學院,安徽 合肥230009;
2.中國科學技術(shù)大學 信息科學技術(shù)學院,,安徽 合肥230027)