AC/DC和DC/DC轉(zhuǎn)換器廣泛應(yīng)用在各行各業(yè)，比如手機、數(shù)碼相機、UPS電源內(nèi)部、電動汽車等等,。對于生產(chǎn)廠商來說，轉(zhuǎn)換器的性能,、安全,、轉(zhuǎn)換效率都是決勝市場的重要因素。所以從研發(fā)到生產(chǎn)每一步都需要去測試,， 直流負載就是這些測試中必不可少的工具,，不但可測試產(chǎn)品的正常工作電壓、電流及功率外，還可以輕易的測試產(chǎn)品在臨介值狀態(tài),、動態(tài)變化及反應(yīng)時間等等,。但是工程師在使用負載測試產(chǎn)品的保護功能時，會發(fā)現(xiàn)有時候無法正常使用負載,，這又是什么原因造成的呢,？
今天我們就使用ITECH近期升級的一款高性能電子負載產(chǎn)品，IT8700P多路輸入可編程直流電子負載來進行測試一個DC/DC組件,，實際測試解密一下,。IT8700P為高性能可編程多路電子負載IT8700的升級版本，保持了原有的25KHZ的較高動態(tài)測試速度,，并且具備多個可選模塊以及功能強大的主控機箱,，并為了一進步滿足不同客戶的測試需求，可選配前置端子接線功能,，并且對斜率速度,，DAC 輸出速度，CV 環(huán)路速度進行了一系列優(yōu)化升級,，能更好的滿足測試需求,。
測試儀器：IT8732P（80V/60A/400W）+IT8702P（主控單元）
測試背景： DC/DC組件正常工作輸出電壓為5V/1A。在電流上升超過2.8A時,，產(chǎn)品會進入OCP的保護模式,，直到異常狀況排除后才會再回到正常工作模式。
測試問題1：
1,、Von設(shè)定為0.1V, latch設(shè)為off,。
2、IT8732P設(shè)定為1A CC mode 拉載,，待測物正常工作,，輸出5V/1A。
3,、拉載電流增加到3A,，待測物應(yīng)該進入OCP保護模式。但此時卻處于振蕩的狀態(tài),，電壓值由0V ~ 4.8V 振蕩,。此時如果再將IT8732P的拉載電流降為1A，待測物則處于正常工作模式5V, 1A,。
問題解密：會造成振蕩原因是因為待測物在進入OCP后的電壓相互拉扯的結(jié)果,。Von設(shè)定為0.1V, latch設(shè)為off。當(dāng)待測物進入OCP后,，電壓值低于0.1V時,，負載也會泄載,，拉載電流下降，待測物測到電流低于其設(shè)定值后即恢復(fù)正常,，電壓回升后,，負載又會進行拉載，此時又造成待測物進入OCP保護,，如此循環(huán)就會造成振蕩現(xiàn)象,。所以此時我們只要把Von設(shè)定為0.001V時，此現(xiàn)象就不再發(fā)生,，當(dāng)然這也是和待測物設(shè)計特性有相關(guān)。
測試問題2：
1,、Von設(shè)定為0.001V, latch設(shè)為off,。
2、IT8732P設(shè)定為1A CC mode 拉載,，待測物正常工作,，輸出5V/1A。拉載電流增加到3A,，待測物進入OCP保護模式,。
3、拉載電流回到1A,，待測物沒有恢復(fù)成工作模式5V/1A,。必須要先把IT8732P泄載切到OFF后，再加載切為ON時,，待測物才會再處于正常的工作模式,。
問題解密：待測物在進入OCP后的電壓值約為0.017V，電流值約為0.81A,。而IT8732P的最小工作電壓為0.15V at 6A,，相當(dāng)于0.025V at 1A。所以當(dāng)拉載電流由3A回到1A時,，由于待測物電壓值尚在0.017V低于0.025V,，加上待測物本身設(shè)計OCP釋放的關(guān)系，導(dǎo)致Load回到1A時,，待測物仍無法正常工作,，必須滿足拉載電流低于0.8A及大于load最小工作電壓，待測物才能恢復(fù)正常工作,。
測試問題3：
1,、 Von設(shè)定為0.001V, latch設(shè)為off。
2,、 待測物正常工作5V/1A時,，執(zhí)行Short功能，電壓降至約0V。
3,、 當(dāng)Short功能OFF時,，負載設(shè)定值恢復(fù)，待測物電壓并未回到5V,。必須把IT8732P泄載切到OFF后,，再加載切為ON時，待測物才會再處于正常的工作模式,。
問題解密：執(zhí)行SHORT功能后,，待測物約為0.017V/0.81A。在SHORT功能OFF時,，應(yīng)該是要恢復(fù)回5V/1A,，但當(dāng)SHORT功能恢復(fù)時，即回到設(shè)定值的1A拉載,，其值仍高于0.81A,，故待測物仍處于未釋放的狀態(tài)，所以 SHORT功能OFF時,，其值仍為電壓0.017V,，電流0.81A。當(dāng)load泄載后,，待測物才能恢復(fù)正常,。
從以上的測試我們可以看到，不同的待測物由于其不同的設(shè)計特性,，在進入保護后其電壓值與電流值的關(guān)系與負載的性能會有些許沖突,，導(dǎo)致測試時發(fā)生異常。所以我們在測試時要了解待測物與測試儀器本身的規(guī)格,、特性與限制,，才能避免造成誤判，發(fā)揮測試儀器的最大效用,。比如以上案例,，我們只需在待測物進入OCP后，先將IT8732P的拉載電流降到0.8A以下,，使得待測物釋放后再進行下一個測試程序,，即可完成測試。
艾德克斯電子一直致力于“功率電子”產(chǎn)品為核心的相關(guān)產(chǎn)業(yè)測試領(lǐng)域的研究,，IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負載繼承了艾德克斯產(chǎn)品一貫的高性能,、高品質(zhì)，采取模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計,，擁有全球獨創(chuàng)動態(tài)分配功率的技術(shù),，可應(yīng)用于多路或單路輸出的AC/DC,、DC/DC電源轉(zhuǎn)換器、充電器等電源類電子元器件性能的測試,，也可應(yīng)用于ATE測試系統(tǒng),、太陽能電池、LED,、通訊測試,、航空航天等領(lǐng)域?？蔀g覽ITECH 官網(wǎng)www.itechate.com獲得更多信息,，或者可直接搜索“艾德克斯電子”官微可獲得更多的產(chǎn)品應(yīng)用信息。