《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 測(cè)試測(cè)量 > 解決方案 > 多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,迎接集成電路融合時(shí)代的機(jī)遇與挑戰(zhàn)

多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,迎接集成電路融合時(shí)代的機(jī)遇與挑戰(zhàn)

2022-03-28
來源:ADI公司

5G,、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動(dòng)各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地,,從而持續(xù)推動(dòng)全球半導(dǎo)體行業(yè)穩(wěn)步增長(zhǎng)。根據(jù)IC Insights半導(dǎo)體行業(yè)報(bào)告,,預(yù)計(jì)2022年全球半導(dǎo)體總銷售額將再增長(zhǎng)11%,,達(dá)到6806億美元的新紀(jì)錄。半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的持續(xù)繁榮也讓半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的市場(chǎng)規(guī)模隨之水漲船高,,預(yù)計(jì)2028年將達(dá)到72億美元,。

proxy1.png

ADI中國(guó)區(qū)工業(yè)市場(chǎng)總監(jiān)蔡振宇

作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的關(guān)鍵一環(huán),ATE貫穿著半導(dǎo)體設(shè)計(jì),、制造和封裝全環(huán)節(jié),對(duì)產(chǎn)品良率的監(jiān)控及產(chǎn)品質(zhì)量的判斷至關(guān)重要,。然而面對(duì)當(dāng)今不斷變化的IC產(chǎn)業(yè),,ATE測(cè)試也面臨各種新的挑戰(zhàn)?!靶酒呀?jīng)進(jìn)入3nm時(shí)代,,一顆芯片上承載的功能也越來越多,芯片工藝越來越復(fù)雜,,這不僅意味著測(cè)試的復(fù)雜度成倍遞增,,也讓芯片的良率更依賴測(cè)試的高級(jí)功能。如何才能快速且高效地完成新一代ATE方案的開發(fā),,以滿足市場(chǎng)對(duì)大量出貨,、類型各異的半導(dǎo)體測(cè)試需求成為了業(yè)界亟待解決的新難題?!盇DI中國(guó)區(qū)工業(yè)市場(chǎng)總監(jiān)蔡振宇對(duì)此表示,。作為在半導(dǎo)體領(lǐng)域深耕數(shù)十年的全球領(lǐng)先高性能半導(dǎo)體企業(yè),ADI具有20多年的ATE行業(yè)經(jīng)驗(yàn),,擁有深厚的技術(shù)積累,,推出的多款解決方案獲得業(yè)界廣泛歡迎。

半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈“承上啟下”,,自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備很關(guān)鍵

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中,,一顆芯片的生命周期開始于對(duì)市場(chǎng)需求的分析,跟隨著產(chǎn)品的定義,、設(shè)計(jì)和制造,,封裝完成以后交付到終端消費(fèi)者手中,在整個(gè)流程中需要經(jīng)過多次測(cè)試?!捌渲蠥TE測(cè)試屬于制造環(huán)節(jié),,是實(shí)現(xiàn)從研發(fā)到量產(chǎn)至關(guān)重要的一環(huán)。越高端,、功能越復(fù)雜的芯片對(duì)測(cè)試的依賴度越高,,同時(shí)測(cè)試設(shè)備的各類先進(jìn)功能對(duì)于5G、IoT和云計(jì)算等半導(dǎo)體廠商來說變得越來越重要,?!辈陶裼顝?qiáng)調(diào)說。

依據(jù)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用劃分,,ATE應(yīng)用的主要細(xì)分領(lǐng)域?yàn)榇鎯?chǔ)器,、SoC、模擬,、數(shù)字,、分立器件和RF測(cè)試機(jī)等,無論哪種應(yīng)用,,ATE通常都需要完成芯片的功能測(cè)試,、直流參數(shù)測(cè)試以及交流功能測(cè)試等工作,其原理是通過對(duì)芯片施加輸入信號(hào),,采集被檢測(cè)芯片的輸出信號(hào)與預(yù)期值進(jìn)行比較,,判斷芯片在不同工作條件下功能和性能的有效性,保證在相應(yīng)的芯片制造中,,產(chǎn)品符合客戶設(shè)計(jì),、制造要求以及市場(chǎng)需求。

proxy2.png

ATE系統(tǒng)

由于測(cè)試方案的優(yōu)劣直接影響到良率和測(cè)試成本,。有資料顯示,,芯片缺陷相關(guān)故障對(duì)成本的影響從IC級(jí)別的數(shù)十美元,到模塊級(jí)別的數(shù)百美元,,乃至應(yīng)用端級(jí)別的數(shù)千美元,。“目前芯片開發(fā)周期縮短,,對(duì)于流片的成功率要求非常高,,任何一次失敗,對(duì)企業(yè)而言都是無法承受的,。因此,,在芯片設(shè)計(jì)及開發(fā)過程中需要進(jìn)行充分的驗(yàn)證和測(cè)試?!辈陶裼钪赋?。

從幾大關(guān)鍵測(cè)試維度入手,,打造穩(wěn)定高效的ATE產(chǎn)品方案

隨著摩爾定律不斷發(fā)展,工藝和應(yīng)用的復(fù)雜度不斷提升,,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)如果要做出好的產(chǎn)品,,需要進(jìn)一步重視“測(cè)試先行”。半導(dǎo)體工藝仍然在不斷演進(jìn),,制造工藝的精細(xì)和芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的復(fù)雜度不斷提升,,一片芯片上承載的功能越來越多,芯片上的晶體管集成度越來越高,,產(chǎn)品迭代速度也越來越快,,甚至很多像AI、GPU和AP這樣高復(fù)雜度芯片都要求進(jìn)行逐年迭代,,使得測(cè)試和驗(yàn)證的復(fù)雜程度驟增,,測(cè)試時(shí)間和成本也相應(yīng)增加不少。

“半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的關(guān)鍵在于測(cè)試廣度,、測(cè)試精度,、測(cè)試速度,以及測(cè)試機(jī)的延展性上,。測(cè)試機(jī)的測(cè)試覆蓋范圍越廣,,能夠測(cè)試的項(xiàng)目越多,就越受客戶青睞,。”蔡振宇指出,。測(cè)試精度的重要指標(biāo)包括測(cè)試電流,、電壓、電容,、時(shí)間量等參數(shù)的精度,,先進(jìn)設(shè)備一般能夠在電流測(cè)量上能達(dá)到皮安(pA)量級(jí)的精度,在電壓測(cè)量上達(dá)到微伏(μV)量級(jí)的精度,,在電容測(cè)量上能達(dá)到0.01皮法(pF)量級(jí)的精度,,在時(shí)間量測(cè)量上能達(dá)到百皮秒(pS)。測(cè)試機(jī)的延展性則主要體現(xiàn)在能否根據(jù)需要靈活地增加測(cè)試功能,、通道和工位數(shù),。

面對(duì)這些挑戰(zhàn),測(cè)試設(shè)備開發(fā)商亟需穩(wěn)定的ATE解決方案,,還期待有著高質(zhì)量的測(cè)試覆蓋率,,能夠支持更多通道,在單位時(shí)間內(nèi)測(cè)試盡可能多的單元,。ADI推出了ATE ASSP(專用標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品),,涵蓋了先進(jìn)的集成式引腳電子器件(PE),、器件電源(DPS)和參數(shù)測(cè)量單元 (PMU)等產(chǎn)品,以低功耗,、高集成度等優(yōu)勢(shì)進(jìn)一步幫助客戶提升ATE機(jī)臺(tái)的性能以及降低其成本,。

3.jpg

其中,PE用于產(chǎn)生激勵(lì)待測(cè)物的信號(hào),,以此獲取待測(cè)物的反饋,,所以PE芯片要求具備更高的精度。同時(shí),,集成度也是對(duì)方案的關(guān)鍵要求,,例如集成引腳電子/引腳驅(qū)動(dòng)器以單封裝提供關(guān)鍵的測(cè)試應(yīng)用解決方案,包括數(shù)字驅(qū)動(dòng)和比較功能,、有源負(fù)載和每引腳參數(shù)測(cè)量單元,,這些單元通過電平設(shè)置DAC進(jìn)行控制?!搬槍?duì)國(guó)內(nèi)的ATE市場(chǎng)應(yīng)用,,ADATE318和ADATE320目前應(yīng)用較廣,數(shù)據(jù)速率可從600MHz到1.6GHz,。其中,,ADATE318比較適合數(shù)字芯片、存儲(chǔ)器,、混合信號(hào)測(cè)試等,,ADATE320的數(shù)據(jù)速率則會(huì)更高一些,更適合高速芯片的測(cè)試,?!辈陶裼钛a(bǔ)充道。

4.jpg

5.jpg

然而,,很多時(shí)候確定性性能的單一方案很難滿足多樣性的市場(chǎng)需求,,產(chǎn)品方案設(shè)計(jì)的拓展能力很重要,例如隨著越來越多的功率或者電源的芯片測(cè)試需求遠(yuǎn)高于AD5560提供的25V電壓和1.2A電流的范圍,,客戶可以將多顆AD5560通過GaN模式級(jí)聯(lián)以獲得更大的輸出電流,。此外,ADI中國(guó)應(yīng)用開發(fā)團(tuán)隊(duì)還基于AD5522拓展開發(fā)出了250W (±50V,、5A)的高功率參考設(shè)計(jì),,很好地滿足了大功率應(yīng)用需求?!拔覀兎桨傅耐卣鼓芰Ψ浅J芸蛻魵g迎,。”蔡振宇透露道,。

本土ATE發(fā)展面臨提速機(jī)遇,,ADI中國(guó)發(fā)力助客戶成長(zhǎng)

中國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)正迎來新一輪發(fā)展機(jī)遇,,市場(chǎng)對(duì)半導(dǎo)體的需求非常強(qiáng)勁,從而帶動(dòng)一波從設(shè)計(jì)到半導(dǎo)體制造封測(cè)投資熱潮,。在當(dāng)下國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈前端的制造,、設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)對(duì)國(guó)內(nèi)ATE需求將得到顯著提升,豐富的產(chǎn)業(yè)鏈客戶也有助于國(guó)內(nèi)ATE需求的穩(wěn)健攀升,。市場(chǎng)調(diào)研機(jī)構(gòu)Gartner公司預(yù)測(cè),,到2025年中國(guó)芯片測(cè)試服務(wù)市場(chǎng)將達(dá)到550億元人民幣。

目前,,國(guó)內(nèi)的測(cè)試設(shè)備廠商已經(jīng)在功率器件,、模擬電路等特定領(lǐng)域測(cè)試機(jī)中占據(jù)一席之地,并正在朝速度更快,,復(fù)雜度更高的測(cè)試機(jī)產(chǎn)品發(fā)力,,相信在不久的將來,會(huì)有越來越多的國(guó)產(chǎn)測(cè)試機(jī)出現(xiàn)在芯片測(cè)試線上,?!皣?guó)內(nèi)在模擬測(cè)試設(shè)備方面已有一定突破,面對(duì)日益擴(kuò)大的中國(guó)半導(dǎo)體ATE市場(chǎng),,ADI愿意與本土的ATE廠商緊密合作,,以本地決策和中國(guó)速度,響應(yīng)國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體市場(chǎng)的創(chuàng)新需求,,共同推動(dòng)ATE產(chǎn)業(yè)的繁榮發(fā)展,。”蔡振宇展望到,。

AETweidian.jpg

本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn),。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片,、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有,。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容,、版權(quán)和其它問題,,請(qǐng)及時(shí)通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟(jì)損失,。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:[email protected],。