文獻標志碼:A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223110
中文引用格式: 王于波,,胡毅,關(guān)媛,,等. 高精度高擺幅多工位ADC測試系統(tǒng)設(shè)計[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,,2023,,49(4):44-51.
英文引用格式: Wang Yubo,,Hu Yi,Guan Yuan,,et al. Design of high precision and high swing multi-site ADC test system[J]. Application of Electronic Technique,,2023,49(4):44-51.
0 引 言
電力監(jiān)控系統(tǒng)依賴于對瞬時電流、電壓信號的測量實現(xiàn)電網(wǎng)線路或電力設(shè)備運行狀態(tài)的采集,,從而得以對電網(wǎng)運行狀態(tài)進行實時監(jiān)控,。這種測量通常是通過模數(shù)變換器(ADC)采集電流變壓器(CT)和電壓變壓器(PT)的輸出來完成的,而CT或PT典型的輸出為±5 V或±10 V,。因此,,電力及工業(yè)領(lǐng)域高精度ADC集成芯片測試通常需要能夠滿足高達±10 V甚至以上的高擺幅信號進行測試。而目前主流的自動測試設(shè)備(ATE),,其模擬波形發(fā)生模塊測試信號輸出幅度都達不到±5 V的輸出范圍,,更別說高達±10 V甚至以上;另外,,ATE設(shè)備通用的DPS電源板卡供電范圍通常也在±7 V以內(nèi),。
雖然目前ATE設(shè)備難以滿足±10 V甚至以上的高擺幅測試信號輸出要求,但市場上已有主流ATE系統(tǒng),,如Advantest公司的V93000,、Teradyne公司的Ultraflex等SoC測試系統(tǒng)設(shè)備[7-10],功能強大,、性能穩(wěn)定,,并已形成一套穩(wěn)定的測試程序開發(fā)流程和成熟規(guī)范的市場渠道,設(shè)備提供商可對設(shè)備的維護提供穩(wěn)定的支持,,從而為集成芯片產(chǎn)品的量產(chǎn)提供穩(wěn)定保障,,避免芯片量產(chǎn)中可能出現(xiàn)的風(fēng)險。因此,,在現(xiàn)有ATE系統(tǒng)基礎(chǔ)上,,通過開發(fā)項目所需的外加模塊或器件以補充現(xiàn)有ATE測試系統(tǒng)性能或成本的不足,同時,,又充分利用其強大功能,、成熟開發(fā)流程、穩(wěn)定的性能及維護支持,,將是一種比較合理的解決方案,。
本文正是基于這樣的需求和思路,為了滿足面向智能電網(wǎng)及其他工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域需要高輸入擺幅高精度ADC測試信號的需求,,開發(fā)了一套基于現(xiàn)有主流V93000 ATE測試系統(tǒng)的最大輸出信號峰峰值可高達29 V以上的ADC測試系統(tǒng),。
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作者信息:
王于波1,胡毅1,,關(guān)媛1,,王琨1,李大猛1,,肖鵬程2
(1.北京智芯微電子科技有限公司,, 北京 102200,;2.復(fù)旦大學(xué)專用集成電路與系統(tǒng)國家重點實驗室, 上海 201203)