《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于USB2.0總線的NAND Flash檢測(cè)及控制方法
電子技術(shù)應(yīng)用
申曉敏,，錢禮華,，杜劍英,，黨峰,，劉保煒
（中國(guó)兵器工業(yè)試驗(yàn)測(cè)試研究院，陜西 華陰 714200）
摘要： 在高速大容量存儲(chǔ)裝置設(shè)計(jì)中多采用NAND Flash存儲(chǔ)器,，針對(duì)目前采用串口檢測(cè)壞塊,、實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)讀寫的方法存在檢測(cè)速度慢、等待時(shí)間長(zhǎng)等缺點(diǎn),，提出了基于USB2.0總線的NAND Flash檢測(cè)與控制方法,。利用FPGA邏輯控制功能和高速USB接口芯片設(shè)計(jì)通信和控制電路，并通過(guò)上位機(jī)軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)Flash的命令,、操作控制,，由用戶通過(guò)PC應(yīng)用程序完成對(duì)NAND Flash的讀寫、擦除檢測(cè)及壞塊標(biāo)定,。經(jīng)實(shí)驗(yàn)應(yīng)用驗(yàn)證,，該方法檢測(cè)、讀寫速度快,，使用靈活,，能準(zhǔn)確、有效實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的快速讀寫、擦除及壞塊標(biāo)定,，可廣泛應(yīng)用于存儲(chǔ)測(cè)試裝置的設(shè)計(jì)研制中,。
中圖分類號(hào)：TP206
文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223577
中文引用格式： 申曉敏，錢禮華,，杜劍英,，等. 基于USB2.0總線的NAND Flash檢測(cè)及控制方法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023,，49(6)：44-48.
英文引用格式： Shen Xiaomin，Qian Lihua,，Du Jianying,，et al. NAND Flash detection and control method based on USB2.0 bus[J]. Application of Electronic Technique，2023,，49(6)：44-48.
NAND Flash detection and control method based on USB2.0 bus
Shen Xiaomin,，Qian Lihua，Du Jianying,，Dang Feng,，Liu Baowei
(China Ordnance Industry Test and Testing Institute， Huayin 714200,， China)
Abstract： At present, NAND Flash memory is mostly used in the design of high-speed and large-capacity storage device. Aiming at the shortcomings of serial port detection and data reading and writing methods, such as slow detection speed and long waiting time, a NAND Flash detection and control method based on USB2.0 bus was proposed. The communication and control circuit is designed by using FPGA logic control function and high-speed USB interface chip, and the command and operation control of Flash is realized by PC software. The user can complete the reading and writing, erasing detection and bad block calibration of NAND Flash through PC application program. The experimental results show that the method is fast, flexible, accurate and effective in reading, writing, erasing and bad block calibration, and can be widely used in the design and development of storage test devices.
Key words : USB bus,；Flash memory；FPGA,；detection

0　引言

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)記錄技術(shù)一直是航空,、航天、兵器領(lǐng)域研究的關(guān)鍵技術(shù),，隨著彈載,、機(jī)載飛行器飛行過(guò)程中和靶場(chǎng)試驗(yàn)過(guò)程中需要記錄的數(shù)據(jù)量不斷增加，對(duì)存儲(chǔ)測(cè)試設(shè)備的存儲(chǔ),、讀取速度和數(shù)據(jù)可靠性提出了更高的要求,。而Flash閃存是一種非易失性存儲(chǔ)器，即使在供電電源關(guān)閉后仍能保持片內(nèi)信息,。Flash 集其他類非易失性存儲(chǔ)器的特點(diǎn),，與EPROM相比較，閃速存儲(chǔ)器具有成本低,、密度大的特點(diǎn),；與其他類型非易失性存儲(chǔ)器相比較，Flash存儲(chǔ)器具有容量大,、讀寫速度快,、成本低、使用方便等優(yōu)點(diǎn)，它的這些優(yōu)點(diǎn)使其在存儲(chǔ)測(cè)試領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用,。但由于Flash芯片在使用前需對(duì)所有存儲(chǔ)塊進(jìn)行遍歷掃描,，建立壞塊表，若采用傳統(tǒng)的方法對(duì)每個(gè)壞塊進(jìn)行檢測(cè),，并建立壞塊表,，這種方式在大容量高速存儲(chǔ)陣列中使用會(huì)對(duì)存儲(chǔ)速度造成影響，且占用大量FPGA資源,。同時(shí)由于NAND Flash在生產(chǎn)和使用的過(guò)程中都有可能產(chǎn)生壞塊,，使得系統(tǒng)變得不穩(wěn)定，且這些壞塊是隨機(jī)分布的,，故在使用前需對(duì)其進(jìn)行讀寫檢測(cè)并標(biāo)識(shí),，以提高Flash存儲(chǔ)器的使用效率和有效利用率，解決Flash芯片的壞塊管理是提高存儲(chǔ)可靠性和存儲(chǔ)速度的關(guān)鍵,。許多學(xué)者探索了各種處理方法,，如在FPGA內(nèi)建RAM塊來(lái)存儲(chǔ)壞塊、在FPGA程序執(zhí)行時(shí)跳過(guò)對(duì)壞塊的操作,、使用EPPROM來(lái)存儲(chǔ)壞塊信息,，這些方法增加了系統(tǒng)硬件資源和軟件的復(fù)雜程度，且無(wú)法及時(shí)處理在使用過(guò)程中出現(xiàn)的壞塊,，而且對(duì)Flash的操作通過(guò)串口或串行總線實(shí)現(xiàn),，數(shù)據(jù)傳輸速率低，大大降低了系統(tǒng)工作效率,，不適于在高速大容量數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)設(shè)計(jì)中的應(yīng)用,。針對(duì)以上問(wèn)題，本文在對(duì)Flash工作機(jī)理分析和USB芯片選型,、接口控制設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上,，提出了基于USB2.0總線的NAND Flash檢測(cè)與控制方法，可以實(shí)現(xiàn)Flash壞塊的檢測(cè)標(biāo)識(shí)和數(shù)據(jù)的快速傳輸,，以及與上位機(jī)的通信,，為高速大容量數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)設(shè)計(jì)提供技術(shù)保障。



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作者信息：

申曉敏,，錢禮華,，杜劍英，黨峰,，劉保煒

（中國(guó)兵器工業(yè)試驗(yàn)測(cè)試研究院,，陜西 華陰 714200）


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