東芝進(jìn)一步擴(kuò)展Thermoflagger?產(chǎn)品線---檢測(cè)電子設(shè)備溫升的簡(jiǎn)單解決方案
2023-09-14
來(lái)源:東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社
中國(guó)上海,,2023年9月14日——東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社(“東芝”)今日宣布,進(jìn)一步擴(kuò)展ThermoflaggerTM過(guò)溫檢測(cè)IC產(chǎn)品線---“TCTH0xxxE系列”,。該系列可用于具有正溫度系數(shù)(PTC)熱敏電阻的簡(jiǎn)單電路中,,用來(lái)檢測(cè)電子設(shè)備中的溫度升高,,六款新產(chǎn)品于今日開(kāi)始支持批量出貨。
為了使電子設(shè)備按規(guī)定運(yùn)行,,半導(dǎo)體和其他電子元件必須在設(shè)計(jì)參數(shù)范圍內(nèi)工作,。內(nèi)部溫度是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù),特別是當(dāng)它高于設(shè)計(jì)流程中的假設(shè)溫度時(shí),,它就可能成為安全性和可靠性方面的一個(gè)主要問(wèn)題,,因此需要過(guò)溫監(jiān)測(cè)解決方案來(lái)檢測(cè)任何溫度升高。
當(dāng)配置在具有PTC熱敏電阻(其電阻值隨溫度變化而變化)的簡(jiǎn)單電路中時(shí),,ThermoflaggerTM過(guò)溫檢測(cè)IC不僅可以檢測(cè)溫度升高,,還可以檢測(cè)置于熱源附近的PTC熱敏電阻的電阻變化,并在溫度過(guò)高時(shí)輸出FLAG信號(hào),。例如,,當(dāng)ThermoflaggerTM檢測(cè)到異常發(fā)熱情況并向MCU發(fā)送FLAG信號(hào)時(shí),MCU將關(guān)閉設(shè)備或改變正在產(chǎn)熱的設(shè)備或半導(dǎo)體的運(yùn)行方式,。通過(guò)串聯(lián)PTC熱敏電阻可同時(shí)在多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行過(guò)溫檢測(cè),。
這六款新產(chǎn)品分別是:TCTH011AE、TCTH012AE,、TCTH021AE,、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE,。上述產(chǎn)品加上已經(jīng)發(fā)布的TCTH021BE和TCTH022BE,,進(jìn)一步擴(kuò)展了TCTH0xxxE系列產(chǎn)品線,使該產(chǎn)品線增加至8款產(chǎn)品,。通過(guò)提供對(duì)兩種類型的PTCO輸出電流[1]的支持,,新產(chǎn)品擴(kuò)大了PTC熱敏電阻的可選范圍,既可選擇推挽型或開(kāi)漏型FLAG信號(hào)輸出類型[2],,也可選擇使用或不使用FLAG信號(hào)鎖存功能[3],。擴(kuò)大產(chǎn)品選擇范圍,可以實(shí)現(xiàn)低電流消耗的靈活電路設(shè)計(jì),。
新產(chǎn)品采用小型,,符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SOT–553封裝(東芝的封裝名稱為:ESV),確保TCTH0xxxE系列支持用戶為成套電子設(shè)備輕松配置過(guò)溫檢測(cè)系統(tǒng),,并助力實(shí)現(xiàn)尺寸和功耗的雙重改善,。
除了已經(jīng)發(fā)布的參考設(shè)計(jì)過(guò)溫檢測(cè)IC ThermoflaggerTM的應(yīng)用電路(TCTH021BE/開(kāi)漏型)之外,,東芝在其官網(wǎng)上又發(fā)布了新版參考設(shè)計(jì):過(guò)溫檢測(cè)IC ThermoflaggerTM應(yīng)用電路(TCTH021AE/推挽型)。
東芝使用村田制作所(以下簡(jiǎn)稱“村田”)提供的PTC熱敏電阻的相關(guān)技術(shù)信息來(lái)實(shí)現(xiàn)過(guò)溫檢測(cè)解決方案,。村田建議將ThermoflaggerTM與PTC熱敏電阻結(jié)合使用,。
未來(lái),東芝將繼續(xù)擴(kuò)展其產(chǎn)品線,,推出采用各種封裝,、器件特性不斷完善的產(chǎn)品,助力提高設(shè)計(jì)靈活性并實(shí)現(xiàn)碳中和目標(biāo),。
開(kāi)漏分配中FLAG信號(hào)輸出的操作示例
ThermoflaggerTM TCTH021AE電路板樣品
▲應(yīng)用:
-移動(dòng)設(shè)備(筆記本電腦等)
-家用電器
-工業(yè)設(shè)備等
▲特性:
-配置簡(jiǎn)單,,可與PTC[1]熱敏電阻結(jié)合使用
-通過(guò)串聯(lián)PTC[1]熱敏電阻,可同時(shí)在多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行過(guò)溫監(jiān)測(cè),。
-低電流消耗:
IDD=1.8μA(典型值)(TCTH011AE,、TCTH012AE、TCTH011BE,、TCTH012BE)
IDD=11.3μA(典型值)(TCTH021AE,、TCTH022AE)
-小型標(biāo)準(zhǔn)封裝:SOT–553(ESV)
-擴(kuò)大了PTC[1]熱敏電阻的選擇范圍,具有兩種類型的PTCO輸出電流:
IPTCO=1.00μA(典型值)(TCTH011AE,、TCTH012AE,、TCTH011BE、TCTH012BE)
IPTCO=10.0μA(典型值)(TCTH021AE,、TCTH022AE)
-高PTCO輸出電流精度:±8%
-FLAG信號(hào)輸出(PTCGOOD)可選擇推挽型和開(kāi)漏型
-可選擇FLAG信號(hào)鎖存功能
▲主要規(guī)格:
注:
[1] PTCO輸出電流:由過(guò)溫檢測(cè)IC提供給PTC熱敏電阻的恒定電流,。
[2] 當(dāng)過(guò)溫檢測(cè)IC檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí),就會(huì)輸出FLAG信號(hào),。推挽型由兩個(gè)垂直堆疊的MOSFET組成,。輸出電流以任一方向流入和流出。開(kāi)漏型由一個(gè)MOSFET組成,。輸出電流只向一個(gè)方向流動(dòng),。
[3] FLAG信號(hào)鎖存功能在過(guò)溫檢測(cè)IC檢測(cè)到錯(cuò)誤(即使只有一次)后保持FLAG信號(hào)。過(guò)溫檢測(cè)IC不能自行恢復(fù),;需要通過(guò)從MCU等將信號(hào)輸入到RESET引腳來(lái)恢復(fù),。
[4] 之前發(fā)布的產(chǎn)品
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