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三星HBM內(nèi)存芯片因發(fā)熱和功耗問題未通過英偉達(dá)測(cè)試

2024-05-24
來源:IT之家
關(guān)鍵詞: 三星 HBM 英偉達(dá)

5 月 24 日消息,,據(jù)路透社報(bào)道,,三星電子最新的高帶寬內(nèi)存(HBM)芯片尚未通過英偉達(dá)測(cè)試,。三名知情人士表示,,該公司的芯片因發(fā)熱和功耗問題而受到影響。

報(bào)道稱,,這些問題影響到了三星的 HBM3 芯片,,該芯片是目前 AI GPU 最常用的第四代 HBM 標(biāo)準(zhǔn)。問題還影響了第五代 HBM3E 芯片,。

三星在一份聲明中表示,HBM 是一款定制內(nèi)存產(chǎn)品,,需要“根據(jù)客戶需求進(jìn)行優(yōu)化流程”,,并補(bǔ)充說,該公司正在通過與客戶的密切合作來優(yōu)化其產(chǎn)品,。它拒絕對(duì)特定客戶發(fā)表評(píng)論,。IT之家注意到,英偉達(dá)拒絕置評(píng),。

三位消息人士稱,,自去年以來,三星一直在努力通過英偉達(dá)對(duì) HBM3 和 HBM3E 的測(cè)試,。據(jù)兩位知情人士透露,,三星 8 層和 12 層 HBM3E 芯片的失敗測(cè)試結(jié)果于 4 月份公布。

目前尚不清楚這些問題是否可以很快解決,但三位消息人士表示,,未能滿足英偉達(dá)的要求增加了業(yè)界和投資者的擔(dān)憂,,即三星可能會(huì)進(jìn)一步落后于競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手 SK 海力士和美光。


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