《電子技術(shù)應(yīng)用》
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2.4GHz 0.18μm CMOS低噪聲放大器分析與設(shè)計(jì)

2008-07-04
作者:王寧章,,周長川

??? 摘 要: 基于低噪聲放大器設(shè)計(jì)原理,,從噪聲、線性度" title="線性度">線性度,、阻抗匹配" title="阻抗匹配">阻抗匹配等方面詳細(xì)討論了低噪聲放大器的設(shè)計(jì)。電路采用TSMC 0.18μm CMOS工藝進(jìn)行設(shè)計(jì),,利用ADS2005A對電路進(jìn)行諧波平衡,、S參數(shù)分析及雙音測試,結(jié)果表明,,其噪聲系數(shù)" title="噪聲系數(shù)">噪聲系數(shù)為1.795dB,,正向增益為17.35dB,IIP3約為-1.43dBm,,功耗約8.96mW,。
??? 關(guān)鍵詞: 低噪聲放大器(LNA)? 線性度? 匹配

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??? 現(xiàn)代無線通訊設(shè)備不斷向著低成本、便攜式的方向發(fā)展。而傳統(tǒng)的射頻集成電路主要采用GaAs工藝,,成本較高,,且集成度很低。隨著CMOS工藝的進(jìn)步,,已經(jīng)能夠滿足射頻集成電路的要求,,基于CMOS 工藝的射頻集成電路設(shè)計(jì)成為近年來的研究熱點(diǎn)。低噪聲放大器(LNA)是射頻接收機(jī)前端的關(guān)鍵模塊,,應(yīng)用中要求其必須提供足夠的增益以抑制后續(xù)級模塊的噪聲,,提供良好的線性度,使其在較大的信號動態(tài)范圍內(nèi)正常工作,。同時必須要有優(yōu)異的噪聲性能,,這幾乎決定整個接收機(jī)的噪聲性能的優(yōu)越程度。
??? 通常采用CMOS工藝設(shè)計(jì)低噪聲放大器(LNA)時,,需要在增益,、噪聲、線性度,、功耗,、阻抗匹配等指標(biāo)之間權(quán)衡。本文針對LNA的噪聲,、線性度,、增益及功耗等指標(biāo),提出了優(yōu)化的設(shè)計(jì)方法,。設(shè)計(jì)了一個基于TSMC 0.18μm CMOS工藝,,工作頻率" title="工作頻率">工作頻率為2.4GHz的低噪聲放大器,通過優(yōu)化達(dá)到了較好的性能,。
1 電路設(shè)計(jì)
??? 本文設(shè)計(jì)的單端低噪聲放大器電路結(jié)構(gòu)如圖1所示,。電路采用的是電感源極負(fù)反饋的共源-共柵結(jié)構(gòu)(Cascode 結(jié)構(gòu)),這種結(jié)構(gòu)可以在提供較低噪聲系數(shù)的同時,,實(shí)現(xiàn)50Ω的輸入阻抗,。放大器由共源晶體管M1和共柵晶體管M2級聯(lián)而成,M1的源極接電感Ls形成源極去耦結(jié)構(gòu), 柵極接電感Lg調(diào)整輸入電路的諧振頻率,,M2用于減小輸入與輸出之間的相互作用,提供良好的隔離,,并減小了M1漏柵電容Cgd的影響,。電路的噪聲性能主要由M1決定,而電路的線性度主要由M2決定,,可以通過選擇M1,、M2柵寬度,以實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的噪聲性能和線性度。

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??? M1和M0組成電流鏡,,由于電阻的阻值隨溫度變化,,為了保持偏置支路穩(wěn)定,采用電流源I_DC提供穩(wěn)定的偏置電流,。Rbais是偏置電阻,,它和電流源I_DC一起組成電流偏置支路。Lg,、Ls和Cp主要完成輸入端口阻抗匹配,,Ld和Cd主要完成輸出端口阻抗匹配。P1和P2 是輸入輸出端口,,Cin,、Cd用于隔離直流信號,V_DC是直流電源,。
1.1 輸入,、輸出阻抗匹配
??? 電路采用源極電感負(fù)反饋結(jié)構(gòu),在MOS管的柵極,、源極各引入一個電感Lg,、Ls,在M1的柵-源之間并聯(lián)一個電容Cp來增大柵-源之間電容,。計(jì)算M1管柵-源極間的電容,,合理選取Lg、Ls,,使電路諧振于工作頻率,,同時獲得50Ω輸入阻抗Zin(s),滿足Zin(s)=Rs=50Ω,,當(dāng)輸入端口阻抗匹配時,,需要滿足:
??? 當(dāng)輸入端口阻抗匹配時,需要滿足:
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??? 其中g(shù)m是M1的跨導(dǎo),,Cgs是M1的柵-源電容,,ωT是截止頻率,ω0是工作頻率,。由于LNA的工作頻率ω0一定,,Cgs可以根據(jù)工藝參數(shù)計(jì)算出來,根據(jù)公式(2),、(3)可以得到Lg和Ls的值,。輸出匹配主要由Ld和Cd相匹配完成,由于中心頻率ω0=2π×2.4×109,,通過計(jì)算,,選取合適的Ld,、Cd的值,實(shí)現(xiàn)輸出阻抗匹配,。根據(jù)公式(2),,在ω0確定的情況下,通過在M1的柵-源極之間并聯(lián)一個電容CP,,增大了柵-源電容Cgs,,從而使Lg、Ls的值變小,,改善了LNA的噪聲性能,,也易于使用CMOS工藝實(shí)現(xiàn)。
1.2 選取合適的柵寬及其他關(guān)鍵參數(shù)
??? 電路的噪聲性能主要是由M1決定,,要選擇合適的柵寬度,,以實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的噪聲性能。M1的柵寬越大,,噪聲越小,,但同時會使面積增大,導(dǎo)致功耗增加,、增益降低,。按照功率約束條件下的設(shè)計(jì)方法,可以得到M1的最優(yōu)器件寬度為[3]
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??? 其中:Cox是單位面積氧化層電容,,Leff是有效柵長,,Qsp是最佳品質(zhì)因數(shù),Cox的值可以根據(jù)工藝參數(shù)計(jì)算得到,。噪聲系數(shù)對于在3.5~5.5范圍內(nèi)的Qsp值是不敏感的[3],,因此取Qsp值為4.5。根據(jù)公式(4)得到Wopt約為270μm,。M0的柵寬度取M1柵寬度的1/10,。
??? MOS管M1本身柵-源電容,CP并聯(lián)接入M1柵-源之間,。由于0.18μm CMOS工藝的截止頻率fT可以達(dá)到40GHz以上,,所以根據(jù)公式(2)、(3)可以得到LS約等于0.5nH,。根據(jù)公式(2)可以計(jì)算得到Lg等于6nH,,由于電感與襯底之間寄生電容以及柵電阻的影響,Lg的值要比計(jì)算得到的值小,。
1.3 線性度分析和M2寬度的選取
??? 圖1所示電路中,,MOS管M1、M2可以等效為兩級非線性級聯(lián)結(jié)構(gòu),。設(shè)輸入信號Vi(t)=Vm(cosω1t+cosω2t),,則M1和M2的輸出信號分別為:
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??? 系統(tǒng)的輸入三階交調(diào)點(diǎn)IIP3(input-referred third-order intercept point),可以表示為[4]

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  其中IIP31,、IIP32分別是M1和M2的輸入三階交調(diào)點(diǎn),;α1是M1的增益,α1遠(yuǎn)大于1,;系統(tǒng)的線性度主要由這一項(xiàng)決定,,即系統(tǒng)的線性度主要由M2決定。短溝道MOS管的IIP3表達(dá)式為[5]
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其中:vsat是MOS管的飽和速度,,Vod=VGS-VTH稱為柵過驅(qū)電壓,,,θ為遷移率的衰減系數(shù),,θ的估計(jì)值為[3],,tox為柵氧化層厚度。
??? 從圖2看出,,要提高M(jìn)2管的IIP3值,,可以加大它的柵過驅(qū)電壓Vod,但這會使直流電壓變大,,電路的功耗增大,。根據(jù)公式(9),MOS管的線性度與柵寬度W無關(guān),,但是當(dāng)柵寬度變化時,,會引起Vod的變化,間接影響線性度,。不增大偏置電壓的情況下,,通過改變M2管的柵寬度,來改變Vod,,可以提高M(jìn)2的線性度,。
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??? 當(dāng)M2管的柵寬度變大時,柵過驅(qū)電壓Vod變小,,線性度變差,;當(dāng)M2管的柵寬度減小時, Vod變大,,線性度變大,。為得到較好的線性度,M2管的柵寬度取M1管的一半,。測量M1管和M2管的柵過驅(qū)電壓Vod1和Vod2,,根據(jù)公式(9),計(jì)算得到M1管和M2管的IIP31,、IIP32,。根據(jù)公式(8),,估計(jì)出系統(tǒng)的IIP3點(diǎn)。

2 電路仿真結(jié)果及討論
??? 本設(shè)計(jì)基于TSMC的0.18μm工藝,,采用BSIM2V3.2模型進(jìn)行建模,,利用ADS2005A進(jìn)行設(shè)計(jì)、仿真,,取得了較好的效果,。考慮到片上電感的Q值不高,,大電感不易制作的實(shí)際情況,,在設(shè)計(jì)工程中,充分考慮了電感Q值對噪聲的影響,。采用INDQ模型來模擬片上電感,,Q值設(shè)為6,中心頻率設(shè)為2.4GHz,,電感的值一般不超過8nH,。采用2V電源,直流功耗約為8.96mW,。為了得到1dB壓縮點(diǎn)P1dB,,對電路進(jìn)行諧波平衡法仿真,為計(jì)算線性度,,對電路進(jìn)行雙音測試,,仿真結(jié)果如圖3所示。

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??? 圖3(a)顯示了1dB壓縮點(diǎn)的仿真結(jié)果,,m1點(diǎn)和m2點(diǎn)的增益差約為1dB,,即增益的1dB壓縮點(diǎn)P1dB約為-13.9dBm。圖3(b)是雙音測試輸出頻譜圖,,根據(jù)公式(10),,計(jì)算得到輸入三階交調(diào)點(diǎn)IIP3大約為-1.429dBm。
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????對電路進(jìn)行S參數(shù)仿真,,得到噪聲系數(shù)和S參數(shù)的仿真結(jié)果如圖4所示,。

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??? 由圖4可以看出,當(dāng)?shù)驮肼暦糯笃鞴ぷ髟?.4GHz時,,噪聲系數(shù)為1.795dB,,噪聲系數(shù)較低;正向傳輸增益S21約為17.35dB,,具有較高的增益,;S11、S22參數(shù)在工作頻率2.4GHz處達(dá)到極值,,說明輸入,、輸出阻抗匹配良好,,S11約為-21.61dB,S22約為-15.93dB,,回波損耗很?。籗12約為-39dB說明反向隔離特性比較理想,。仿真過程中發(fā)現(xiàn),在保證輸入輸出匹配的情況下,,如果提高電感的值,,同時減小電容的值,可以使增益(S21參數(shù))提高,;而減小電感的值,,同時增大電容的值可以改善系統(tǒng)的線性度,這就為增益和線性度的調(diào)節(jié)提供了一種可行的方法,。
??? 本文采用先進(jìn)的TSMC 0.18μm CMOS射頻工藝庫參數(shù),,通過理論推導(dǎo)和ADS的仿真,設(shè)計(jì)出符合要求的低噪聲,、低功耗,、高增益、高線性度的低噪聲放大器,,并且滿足了低功耗和全集成的要求,。放大器的性能達(dá)到了設(shè)計(jì)要求,與國內(nèi)外有關(guān)設(shè)計(jì)相比達(dá)到了先進(jìn)水平[1][2][6],。通過對M1的柵-源之間引入并聯(lián)電容CP,,極大地降低了系統(tǒng)的噪聲系數(shù)。隨著CMOS工藝和電感工藝的不斷改進(jìn),,0.18μm CMOS工藝已經(jīng)可以全部利用片上電感設(shè)計(jì)出符合設(shè)計(jì)要求的射頻集成電路,。
參考文獻(xiàn)
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