介紹

目前,，非信令技術(shù)正方興未艾，主要用于縮減制造測(cè)試時(shí)間和成本,，并且適用于廣泛的技術(shù),。芯片組廠商正在想方設(shè)法為手機(jī)制造商提供此類能力。因此開發(fā)針對(duì)特定芯片組的專用測(cè)試模式,，尤其是適合蜂窩驗(yàn)證測(cè)試的測(cè)試模式已經(jīng)引起了市場(chǎng)的重視,。

此前的文章探討了不同測(cè)試模式中非信令功能的演進(jìn)和變化程度，并引入了兩個(gè)術(shù)語來描述功能范圍,。它們有助于解釋測(cè)試工程師縮減測(cè)試時(shí)間的潛力,，而且分別代表非信令領(lǐng)域潛力水平的一極：

1.非信令

2.快速排序非信令

快速排序非信令測(cè)試模式能夠顯著地優(yōu)化設(shè)計(jì)，最大限度地減少測(cè)試時(shí)間和成本,。

受芯片組非信令功能開發(fā)這一趨勢(shì)的影響,，手機(jī)制造商正在尋求指導(dǎo)，以便最大限度地利用這些測(cè)試模式的潛力,。本文將討論這些測(cè)試模式如何影響測(cè)試儀器的選擇,，包括研發(fā)測(cè)試和制造測(cè)試。

集成這些新的測(cè)試模式通常需要引入新的測(cè)試技術(shù),。對(duì)于非信令測(cè)試,，引入新的下一代非信令測(cè)試設(shè)備有可能帶來額外的收益，主要是該測(cè)試模式的技術(shù)優(yōu)勢(shì)（見〔1〕中的詳細(xì)討論）以及測(cè)試設(shè)備的非信令測(cè)試技術(shù),。這就是說,，信令測(cè)試設(shè)備與新一代非信令測(cè)試設(shè)備的共存對(duì)于能否在整個(gè)測(cè)試過程中廣泛引入非信令測(cè)試至關(guān)重要,。

非信令測(cè)試的出現(xiàn)

無線技術(shù)相關(guān)人員可能已經(jīng)認(rèn)識(shí)到使用適合芯片組控制技術(shù)的挑戰(zhàn)。例如,，802.11 無線局域網(wǎng)（WLAN）和 IEEE 802.16（WiMAX®）兩種技術(shù)已經(jīng)可以在其整個(gè)生命周期中進(jìn)行測(cè)試,，但在每個(gè)測(cè)試階段，尤其是在測(cè)試向制造階段過渡的過程中沒有信令或空中（OTA）協(xié)議,。Bluetooth® 制造測(cè)試在向測(cè)試過渡的過程中同樣沒有提出信令測(cè)試要求,。此類芯片組的測(cè)試模式為測(cè)試工程師提供了充分的自由，使他們可以讓器件在要求的信道上以特定的預(yù)定義方法發(fā)射和接收信號(hào),。這不僅是被測(cè)芯片組在制造測(cè)試校準(zhǔn)階段的一個(gè)特性,，而且適用于驗(yàn)證測(cè)試。在驗(yàn)證測(cè)試階段,，器件有時(shí)會(huì)產(chǎn)生預(yù)定義序列,。

芯片組控制可以優(yōu)化蜂窩器件的開發(fā)與測(cè)試，并可將多個(gè)頻段和制式整合到單個(gè)芯片組或解決方案中,。新出現(xiàn)的芯片組不再需要 OTA 協(xié)議,，并集成了特定的功能，能夠幫助測(cè)試工程師驗(yàn)證測(cè)試排序,，從而節(jié)約測(cè)試時(shí)間,。

隨著下一代芯片組逐步普及，測(cè)試廠商正在尋求支持下一代測(cè)試技術(shù)的測(cè)試儀器,。與無線測(cè)試技術(shù)的演進(jìn)模式類似,，為了滿足特定測(cè)試模式的要求，芯片組設(shè)計(jì)人員與測(cè)試設(shè)備制造商之間的合作十分重要,。借助目前芯片廠商之間現(xiàn)有的聯(lián)系,，測(cè)試設(shè)備制造商可以提供實(shí)現(xiàn)非信令測(cè)試的解決方案。

此外,，測(cè)試廠商已經(jīng)推出了針對(duì)特定芯片組的商業(yè)測(cè)試解決方案,，使制造商可以輕松地將器件和測(cè)試設(shè)備集成在一起。

當(dāng)前的趨勢(shì)正在朝集成預(yù)定義非信令方向發(fā)展,，其中芯片組將可以在驗(yàn)證測(cè)試中輸出跨越不同功率和頻率范圍的各種信號(hào),。許多手機(jī)已經(jīng)具備預(yù)定義發(fā)射的功能（通常至少可以預(yù)定義功率和頻率），這可以規(guī)范校準(zhǔn)測(cè)試,，縮減器件設(shè)置時(shí)間,，進(jìn)而縮減測(cè)試時(shí)間。目前特定芯片組的非信令測(cè)試模式和技術(shù)正不斷涌現(xiàn),，其主要目的在于縮短蜂窩器件的驗(yàn)證測(cè)試時(shí)間,。蜂窩驗(yàn)證測(cè)試是這些技術(shù)的下一個(gè)用武之地，它們能夠縮短校準(zhǔn)階段中的測(cè)試時(shí)間,。

但是,，芯片組廠商必須先開發(fā)出測(cè)試模式,，以供手機(jī)制造商使用。芯片組廠商在測(cè)試模式中添加的非信令功能越多,，則制造測(cè)試工程師可能節(jié)約的時(shí)間越多。

引入下一代測(cè)試技術(shù)

鑒于非信令測(cè)試模式被認(rèn)為是縮減測(cè)試時(shí)間的一種手段,，下一代制造測(cè)試技術(shù)的要求正在發(fā)生顯著變化,。芯片組廠商和手機(jī)制造商目前處于不同的非信令測(cè)試模式整合階段，因此非信令測(cè)試整合也處于不同階段,。芯片組廠商正在為新測(cè)試模式開發(fā)功能,，并將新的特性傳遞至手機(jī)制造商，因此手機(jī)制造商需要將新開發(fā)的功能整合到制造測(cè)試過程中,。引入非信令（如圖 1 所示）從部分程度上講是一種過渡,。測(cè)試模式的專用特性和到生產(chǎn)線的后續(xù)整合使得此次過渡與蜂窩技術(shù)上下游的任何實(shí)例都不同?？焖倥判蚍切帕钍撬惺謾C(jī)制造商的目標(biāo),，因?yàn)檫@可以產(chǎn)生巨大的成本節(jié)約。實(shí)現(xiàn)此目標(biāo)需要正確選擇測(cè)試設(shè)備,，以便與技術(shù)要求相匹配,，并克服新的挑戰(zhàn)。

圖 1：引入/過渡至非信令
 

選擇正確的非信令測(cè)試解決方案

在非信令領(lǐng)域,，器件測(cè)試模式的技術(shù)功能會(huì)影響對(duì)測(cè)試儀器的要求,。在測(cè)試行業(yè)，測(cè)試廠商必須提供正確的工具,，以便輕松地引入非信令,，尤其是在使用多家廠商的芯片組時(shí)。這意味著測(cè)試設(shè)備要求必須根據(jù)每條生產(chǎn)線上的測(cè)試而定,，無論測(cè)試需要重新使用現(xiàn)有信令/非信令設(shè)備,，都要引入新的下一代測(cè)試設(shè)備。

貫穿非信令測(cè)試周期的任意波形文件信號(hào)設(shè)計(jì)

除了適合的測(cè)試設(shè)備硬件之外,，非信令測(cè)試還需要信號(hào)設(shè)計(jì)軟件包,。下一代非信令測(cè)試設(shè)備使用任意波形文件向器件傳輸信號(hào)，這對(duì)測(cè)試設(shè)備提供下行鏈路（DL）的方法進(jìn)行了大幅改變,，并對(duì)研發(fā)和制造測(cè)試工程師提出了挑戰(zhàn),。

使用全面的信號(hào)創(chuàng)建工具可以解決這一問題，這些工具能滿足芯片組測(cè)試模式的要求,。對(duì)于研發(fā)工程師來說,，這些工具必須提供廣泛的功能；對(duì)于制造工程師來說,，它們必須提供關(guān)鍵信號(hào)參數(shù)以及易于使用的接口,，以便獲得良好的靈活性,。為非信令提供廣泛測(cè)試功能的信號(hào)設(shè)計(jì)工具必須能夠簡化非信令引入過程，并為手機(jī)制造商提供幫助,。測(cè)試廠商可以通過與芯片組廠商以及手機(jī)制造商合作來解決關(guān)鍵需求,，從而提供此類的專用軟件包。

研發(fā)過程中的非信令――進(jìn)入非信令測(cè)試

測(cè)試周期早期的可靠設(shè)計(jì)和測(cè)試模式開發(fā)可以為非信令制造測(cè)試的成功提供幫助,，非信令測(cè)試設(shè)備不僅是制造階段的要求,。為了穩(wěn)定且信心十足地在現(xiàn)有流程中引入非信令測(cè)試，整個(gè)引入過程必須借助信令測(cè)試設(shè)備,。一個(gè)主要原因在于這樣可以實(shí)現(xiàn)射頻參數(shù)化關(guān)聯(lián),，以便確認(rèn)成功添加了具有非信令特性的測(cè)試模式。圖 1 描述了從信令到非信令的過渡過程,，其中信令測(cè)試設(shè)備與下一代非信令測(cè)試設(shè)備進(jìn)行組合,，支持測(cè)試由信令發(fā)展至非信令。

圖 2：非信令測(cè)試演化的測(cè)試設(shè)備要求

非信令測(cè)試仍然需要信令測(cè)試設(shè)備的主要原因如下：

1.作為器件設(shè)計(jì)（信令和非信令測(cè)試模式之間）和制造測(cè)試過程中表示器件射頻性能的可追蹤參考（測(cè)量關(guān)聯(lián)）

2.作為對(duì)比測(cè)試時(shí)間的起點(diǎn)/基準(zhǔn)

3.可用作任意波形設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),，用于下一代設(shè)備的接收機(jī)測(cè)試和下行鏈路同步,，這對(duì)需要特定下行鏈路信號(hào)的非信令器件最為重要。

4.主要芯片組提供商和手機(jī)制造商已經(jīng)同多年來一直使用信令設(shè)備作為目標(biāo)平臺(tái)的測(cè)試廠商展開合作,，開發(fā)了多種測(cè)試模式和工具,。

5.在生產(chǎn)線上安裝的眾多信令測(cè)試設(shè)備已證明是可信賴和可靠的。改用其他測(cè)試設(shè)備需要重寫代碼和重新評(píng)估,。

盡管引入非信令需要使用現(xiàn)有的信令測(cè)試設(shè)備,，專用且全面的非信令綜合測(cè)試儀可以為研發(fā)提供強(qiáng)大的工具并能夠在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行調(diào)試解決問題。例如：

1.作為解決方案一部分,，提供前面板和用戶界面

2.即用型應(yīng)用程序,，可以返回特定格式的測(cè)量結(jié)果，例如無需軟件開發(fā),，綜合測(cè)試儀便可返回射頻測(cè)量結(jié)果

3.支持使用特定格式的頻譜分析儀應(yīng)用軟件進(jìn)行頻譜分析

4.提供通用信號(hào)源功能,，可提供與獨(dú)立信號(hào)發(fā)生器相同的功能

5.支持調(diào)試錯(cuò)誤序列

靈活的非信令解決方案是非信令器件研發(fā)中的寶貴資源。從研發(fā)到制造測(cè)試的整個(gè)過程都可以使用相同的測(cè)試設(shè)備,，從而確保一致性,。

為了順利地引入 NCP，測(cè)試設(shè)備廠商需要為客戶提供能夠滿足信令,、非信令和快速排序非信令需求的測(cè)試解決方案,。能夠提供所有三種測(cè)試解決方案的測(cè)試廠商將占據(jù)有利位置，可以提供值得考慮的建議,，并且能夠?yàn)槎ㄖ频姆切帕钜脒^程提供支持,。

制造過程的非信令

在制造過程中，當(dāng)前的信令/非信令和下一代非信令測(cè)試設(shè)備將并存。制造測(cè)試中最重要的任務(wù)是如何結(jié)合使用信令/非信令設(shè)備與新部署的下一代非信令測(cè)試設(shè)備,。下節(jié)將重點(diǎn)介紹測(cè)試設(shè)備對(duì)于器件中兩類測(cè)試模式的適用性,，包括非信令測(cè)試模式和快速排序非信令測(cè)試模式。

非信令類別器件

對(duì)于時(shí)下的非信令器件（有別于快速序列非信令）來講,，現(xiàn)有的信令/非信令測(cè)試設(shè)備或是新一代非信令測(cè)試設(shè)備都能夠顯著節(jié)省測(cè)試時(shí)間,。然而在使用信令測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試時(shí)，必須要考慮具體的技術(shù)要求,，以確保完整的兼容性,。如前所述，新一代非信令測(cè)試設(shè)備超越信令測(cè)試設(shè)備的優(yōu)勢(shì)就在于其芯片組的功能更強(qiáng)大,，測(cè)試速度更快。

此外,，測(cè)試設(shè)備的性能也是解決測(cè)試模式需求的一個(gè)因素,。在測(cè)試模式和測(cè)試功能允許的前提下，使用非信令支持軟件升級(jí)現(xiàn)有的信令設(shè)備更為經(jīng)濟(jì),。

快速序列非信令類別器件

新一代非信令測(cè)試設(shè)備能夠?yàn)榭焖傩蛄蟹切帕钇骷峁┳罴训臏y(cè)試范圍,。由于擁有排序功能的非信令測(cè)試模式主要是在新一代非信令測(cè)試設(shè)備上部署，所以現(xiàn)有的信令測(cè)試設(shè)備很難發(fā)揮這一模式的最大潛能,。此外,，新一代非信令設(shè)備具有更高的靈活性，能夠脫離信令的諸多限制,，可為驗(yàn)證工作提供靈活的,、基于序列的測(cè)試方式。例如,，它能夠把信令測(cè)試中作為規(guī)則強(qiáng)制執(zhí)行的頻段,、蜂窩制式、信道,、功率范圍和時(shí)隙等方面的限制排除在外,。在驗(yàn)證過程中，信令測(cè)試設(shè)備與新一代非信令測(cè)試設(shè)備的最大區(qū)別在于后者擁有排序功能,。

圖 3 概述了非信令測(cè)試設(shè)備和快速序列非信令器件在制造驗(yàn)證測(cè)試中所處的相對(duì)位置,。

圖 3：測(cè)試設(shè)備范圍和位置

調(diào)試功能可以解決制造階段中出現(xiàn)的非信令難題。當(dāng)在生產(chǎn)線上部署完新一代綜合測(cè)試儀后,，可使用它的調(diào)試功能,。如果出現(xiàn)問題，工程師可以使用測(cè)試設(shè)備進(jìn)行各種診斷,。例如,，通過專用的射頻頻譜分析工具專門針對(duì)某種制式診斷問題，或者診斷錯(cuò)誤序列的特定部分,。操作人員可以通過前面板操控測(cè)試設(shè)備,，并且通過顯示屏調(diào)試射頻信號(hào),。

總結(jié)

業(yè)界需要專用的非信令測(cè)試設(shè)備解決方案，以便為新的非信令芯片組的普及做好準(zhǔn)備,，最終提供更新穎,、更快捷的測(cè)試技術(shù)。此外,，業(yè)界還考慮在推出下一代非信令測(cè)試設(shè)備的同時(shí)重復(fù)使用現(xiàn)有的信令測(cè)試設(shè)備,，以幫助驗(yàn)證新的非信令開發(fā)成果。

當(dāng)啟動(dòng)非信令的推廣和開發(fā)時(shí),，專用,、靈活的新一代非信令測(cè)試設(shè)備能夠發(fā)揮最大的潛力，滿足未來的測(cè)試需求,。在研發(fā)階段,，綜合測(cè)試儀可以通過特定制式的工具提供臺(tái)式測(cè)試和全面調(diào)試功能，并能夠調(diào)試針對(duì)制造業(yè)設(shè)計(jì)的非信令序列,。同樣,，其性能良好的信號(hào)源可以提供類似獨(dú)立信號(hào)發(fā)生器的測(cè)試。在排序方面,，它還提供了特定的工具,，用于推動(dòng)該信號(hào)源和分析儀同時(shí)跨過某個(gè)序列。

現(xiàn)有的信令測(cè)試設(shè)備能夠?yàn)槟切┰谥圃爝^程中進(jìn)行非信令測(cè)試的設(shè)備提供測(cè)試范圍,。新一代非信令測(cè)試設(shè)備可以提升測(cè)試速度,，從而使非信令測(cè)試模式大為受益。當(dāng)芯片組集成快速序列非信令測(cè)試模式,，特別是在驗(yàn)證過程使用預(yù)定義測(cè)試序列時(shí),，新一代非信令測(cè)試設(shè)備必須用于測(cè)試射頻參數(shù)。