《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于CPLD的高精度時(shí)間間隔測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
來(lái)源:電子技術(shù)應(yīng)用2010年第11期
王加祥1,,相 征2,琚 翔2
1.空軍工程大學(xué) 工程學(xué)院,,陜西 西安710038,;2.西安電子科技大學(xué) 通信工程學(xué)院,,陜西 西安710071
摘要: 介紹一種寬測(cè)量范圍的高精度時(shí)間測(cè)量電路的實(shí)現(xiàn)原理和設(shè)計(jì)方法,通過CPLD內(nèi)部?jī)?yōu)化的非門延遲線設(shè)計(jì),,實(shí)現(xiàn)了對(duì)時(shí)間的精確測(cè)量,;通過不間斷精確校準(zhǔn),保證了在不同溫度下的測(cè)量精確度,。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析表明,,該設(shè)計(jì)能夠達(dá)到300 ps的測(cè)量分辨率,不同溫度環(huán)境下測(cè)量準(zhǔn)確可靠,。
中圖分類號(hào): TM935.1
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
文章編號(hào): 0258-7998(2010)11-0062-04
Design of high precision time intervals measure system based on CPLD
WANG Jia Xiang1,,XIANG Zheng2,JU Xiang2
1.Engineering College Air Force Engineering University,,Xi′an 710038,,China;2.College of Communication Engimeering,,Xidian University,,Xi′an 710071,China
Abstract: A novel time measurement circuit design and principle is discussed in this paper. With internal propagation delays of signals through gates in CPLD, high precision is realized in time intervals measure. Measurement accuracy is guaranteed in various temperatures because of continuous revise. The measurement accuracy depending on datum analysis can reach to 300 ps, the measure result is accurate and credible in different temperature.
Key words : wee time intervals measure,;TDC,;gate delay,;temperate revise

    工業(yè)的發(fā)展對(duì)時(shí)間測(cè)量精度的要求越來(lái)越高,傳統(tǒng)的精密時(shí)間測(cè)量技術(shù)大致有以下幾種方法:直接計(jì)數(shù)法,、擴(kuò)展法,、時(shí)間幅度轉(zhuǎn)換法、游標(biāo)法,。微電子技術(shù)的發(fā)展,,為高集成度、低功耗,、高分辨率的TDC提供了可能,。
    電子學(xué)方法實(shí)現(xiàn)高精度時(shí)間測(cè)量的技術(shù)和原理有多種,從測(cè)量范圍和測(cè)量精度上看,,可以分為兩大類,,一類是高精度的時(shí)間測(cè)量,其測(cè)量分辨率最高可以達(dá)到幾個(gè)皮秒量級(jí),,但該類時(shí)間測(cè)量電路其動(dòng)態(tài)范圍一般比較低,;另一類為大動(dòng)態(tài)范圍高精度時(shí)間測(cè)量電路。不同的應(yīng)用場(chǎng)合對(duì)時(shí)間測(cè)量范圍和測(cè)量精度提出了不同的要求,。本文介紹了一種比較折中的方法,,即在低動(dòng)態(tài)范圍與大動(dòng)態(tài)范圍均可得到較佳結(jié)果的非門延遲法,此方法為時(shí)間數(shù)字化(TDC)的一種,。
1 非門延遲的工作原理
1.1 延遲線工作原理

    抽頭延遲線法與差分延遲線法是隨著近年來(lái)大規(guī)模集成電路的應(yīng)用而發(fā)展起來(lái)的,。抽頭延遲線法,也叫時(shí)延法,。從概念上說,,它比較簡(jiǎn)單。在早期,,用同軸線來(lái)實(shí)現(xiàn)延遲線,但是為了實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,,需要數(shù)目眾多的抽頭,,因而電路龐大,使得這個(gè)技術(shù)在當(dāng)時(shí)無(wú)法推廣,。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,,特別是大規(guī)模集成電路的發(fā)展,這種方法被移植到集成電路上,,得到迅速推廣,。抽頭延遲線是由一組延遲單元組成的,理論上這組延遲單元傳播時(shí)延相等,,都為?子,。而時(shí)間間隔的測(cè)量就是通過關(guān)門信號(hào)Stop對(duì)開門信號(hào)Start在延遲線中的傳播進(jìn)行采樣實(shí)現(xiàn)的,。抽頭延遲線法的結(jié)構(gòu)多種多樣,下面以其中一種為例介紹[1],,[2],。
    圖1是由專用的延遲單元和采樣單元實(shí)現(xiàn)抽頭延線法的電路原理圖。一個(gè)延遲時(shí)間為τ的單元,,總是配合一個(gè)觸發(fā)器FF(Flip-Flop),。這里FF是上升沿觸發(fā)而非電平觸發(fā),時(shí)間間隔T開始時(shí)Start的上升沿在延遲線中傳播,,結(jié)束時(shí)用Stop的上升沿對(duì)觸發(fā)器進(jìn)行采樣,。觸發(fā)器電平為高時(shí)最高位的位置就決定了測(cè)量結(jié)果,通過譯碼實(shí)現(xiàn)從時(shí)間到數(shù)字的轉(zhuǎn)換,。但要實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量,,輸入觸發(fā)器時(shí)鐘端的Stop信號(hào)的時(shí)滯必須很小[4]。

    該方法原理簡(jiǎn)單,,但所設(shè)計(jì)傳輸門的長(zhǎng)度隨測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)度的增加而增加,,長(zhǎng)延遲線的制作和性能不能得到很好的保證,因此這種技術(shù)常常只是作為內(nèi)插的基礎(chǔ),。在此技術(shù)基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)改進(jìn)的方法有鎖相環(huán)(PLL)法[5],、延遲鎖定環(huán)(DLL)法、延遲鎖定環(huán)陣列,、進(jìn)位鏈延遲法等,,在各種設(shè)計(jì)中都得到一定的應(yīng)用。但此類方法設(shè)計(jì)較復(fù)雜,,需要仔細(xì)的布局布線以保證所有單元的延遲相同以及每個(gè)單元的輸出互連電容匹配,,且應(yīng)充分考慮環(huán)路的穩(wěn)定性。
1.2 延遲方法
    在各種門電路結(jié)構(gòu)中,,非門是工藝結(jié)構(gòu)最簡(jiǎn)單的一種門電路[3],,在不考慮工藝差別的情況下,電流通過一個(gè)門電路所用的時(shí)間應(yīng)為最短,,本文選擇非門電路作為傳輸線的延遲,。結(jié)構(gòu)如圖2所示。為了減少延遲線長(zhǎng)度,,降低設(shè)計(jì)復(fù)雜度,,利用數(shù)字電路中奇數(shù)個(gè)非門通過自身延遲則可組成一個(gè)閉環(huán)振蕩器的結(jié)論,在該振蕩器的基礎(chǔ)之上設(shè)計(jì)出一個(gè)時(shí)間測(cè)量電路,。

    啟動(dòng)信號(hào)Start高電平觸發(fā),,啟動(dòng)非門振蕩器振蕩輸出高頻頻率信號(hào),該信號(hào)經(jīng)過多次分頻后進(jìn)入頻率計(jì)數(shù)器,。當(dāng)停止信號(hào)Stop進(jìn)入時(shí),,觸發(fā)停止振蕩器并鎖存振蕩器,、分頻器、計(jì)數(shù)器結(jié)果信號(hào),。該振蕩器,、分頻器、計(jì)數(shù)器結(jié)果信號(hào)進(jìn)行合成計(jì)算后即可得到時(shí)間值,。
    由于CMOS門延時(shí)振蕩器與工藝參數(shù),、供電電壓和溫度高度相關(guān),因此這樣的振蕩器需要經(jīng)常校準(zhǔn)以減小誤差,。該電路中設(shè)計(jì)了校準(zhǔn)電路,,校準(zhǔn)電路以精確的32.768 kHz時(shí)鐘作為參照,每次測(cè)量前先測(cè)量精確的32.768 kHz時(shí)鐘,。
    將32.768 kHz的時(shí)鐘引入到Start/Stop引腳,,啟動(dòng)測(cè)量基準(zhǔn)時(shí)鐘電路,測(cè)量?jī)蓚€(gè)上升沿之間的時(shí)差,,結(jié)果存儲(chǔ)在結(jié)果寄存器中,,則單個(gè)門延遲的平均時(shí)間τ為:
 
    M1:頻率計(jì)數(shù)器值
    M2:分頻值
    M3:振蕩環(huán)所計(jì)值
    X1:分頻次數(shù)
    X2:振蕩環(huán)非門數(shù)
    通過內(nèi)部運(yùn)算即可得到單個(gè)門延遲的平均時(shí)間。在每次測(cè)量前先測(cè)量基準(zhǔn)時(shí)鐘,,再測(cè)量需測(cè)時(shí)間則可得到較佳的精度,,該電路在不同的CPLD芯片中得到的延遲時(shí)間不同,在ALTEAR公司的MAXII系列中的EMP570T-
100C5大約為250 ps,。
2 仿真實(shí)驗(yàn)結(jié)果
    將精確的32.768 kHz基準(zhǔn)時(shí)鐘通過該電路,,仿真結(jié)果如圖3所示?;鶞?zhǔn)時(shí)鐘上升沿觸發(fā)啟動(dòng)振蕩器,,振蕩輸出頻率約為750 MHz的時(shí)鐘信號(hào),經(jīng)過多次分頻后進(jìn)入頻率計(jì)數(shù)器,。頻率計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)結(jié)果為(0x057B),,級(jí)聯(lián)分頻器分頻值為(0b1001),振蕩環(huán)所計(jì)值為(0b101),。理論計(jì)算得出每個(gè)門延遲為226.480 6 ps,。


    用頻率為4 MHz的待測(cè)時(shí)鐘信號(hào)通過該電路,仿真結(jié)果如圖4所示,。頻率計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)結(jié)果為(0x000B),級(jí)聯(lián)分頻器分頻值為(0b0111),,振蕩環(huán)所計(jì)值為(0b101),。兩個(gè)高電平之間的時(shí)間差為T=(M1×X1×2×X2+M2×2×X2+M3)×τ(ps);仿真計(jì)算得出兩個(gè)高電平之間的時(shí)間差為249 808.101 8 ps,。與理論值的差為-191.898 2 ps,。

    仿真實(shí)驗(yàn)顯示,,該設(shè)計(jì)的分辨率優(yōu)于250 ps,考慮到干擾,、溫度影響和器件差別,,其測(cè)量分辨率應(yīng)優(yōu)于300 ps。在大測(cè)量范圍應(yīng)用中只要增加頻率計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)長(zhǎng)度則可,,且不影響頻率分辨率,。
3 誤差分析
    通過振蕩環(huán)仿真結(jié)果局部放大圖5可以看出,振蕩環(huán)內(nèi)部非門的延遲并非為等延遲電路,。因?yàn)镃PLD內(nèi)部的邏輯互聯(lián)并非等延遲線,,所以非門串聯(lián)時(shí)的時(shí)間長(zhǎng)度無(wú)法一致,由仿真波形觀察結(jié)果已說明內(nèi)部編譯為非等延遲線,,但Quartus II平臺(tái)在CPLD綜合仿真過程中已經(jīng)充分考慮了門及互連進(jìn)位鏈間的延遲,,該燒寫文件下載入CPLD運(yùn)行結(jié)果與仿真結(jié)果幾乎一樣,故為了提高測(cè)量精度,,可將仿真結(jié)果中每個(gè)門的延時(shí)比例帶入運(yùn)算過程中進(jìn)行運(yùn)算,。



    改進(jìn)后用4 MHz的待測(cè)時(shí)鐘信號(hào)通過該電路,仿真計(jì)算得出信號(hào)兩個(gè)高電平之間的時(shí)間差為249 853.397 9 ps,。與理論值的差為-146.602 1 ps,。可見通過該方法可在一定程度上提高測(cè)量精度,。
4 實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果,、誤差分析與改進(jìn)方法
    將32.768 kHz的基準(zhǔn)時(shí)鐘接入該電路,同時(shí)將待測(cè)信號(hào)接入該電路(以4 MHz的頻率信號(hào)為例),,晶體振蕩器的頻率穩(wěn)定誤差約為±20 ppm,,改變測(cè)量基準(zhǔn)脈沖的個(gè)數(shù)和外部環(huán)境溫度,通過實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果得出,,將32.768 kHz的基準(zhǔn)時(shí)鐘接入該電路,,與仿真的數(shù)據(jù)比較發(fā)現(xiàn),實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)在仿真數(shù)據(jù)之間略有波動(dòng),;待測(cè)脈沖,、基準(zhǔn)脈沖的個(gè)數(shù)越多得出單個(gè)門延遲越精確;隨著溫度升高,,單個(gè)門延遲時(shí)間變短,;溫度變化時(shí),基準(zhǔn)時(shí)鐘與待測(cè)信號(hào)變化趨勢(shì)一致,,且存在一定的關(guān)系,。
    圖6為不同溫度下的單非門延時(shí)。由圖6可以看出,,溫度越高非門延遲時(shí)間越短,,理論上溫度越高,,電子的活躍程度越大,非門延時(shí)間變短,,實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論一致,。不同溫度時(shí)非門延遲時(shí)間不同,故為了得到穩(wěn)定精確的測(cè)量結(jié)果,,不能使用相同的非門延遲,,因此每次測(cè)量待測(cè)信號(hào)時(shí)先測(cè)量32.768 kHz的基準(zhǔn)時(shí)鐘,通過基準(zhǔn)時(shí)鐘計(jì)算出單個(gè)非門的延時(shí)時(shí)間,,再測(cè)量待測(cè)信號(hào),,這樣則可消除溫度對(duì)測(cè)量精度的影響,得到精確的測(cè)量結(jié)果,。圖7為不同溫度下先測(cè)基準(zhǔn)時(shí)鐘,、再測(cè)待測(cè)信號(hào)所測(cè)得的待測(cè)信號(hào)時(shí)間,通過此方法可以消除溫度對(duì)測(cè)量精度的影響,。

    圖8為不同測(cè)量脈沖數(shù)下的單非門延時(shí),,由圖8可以看出,連續(xù)測(cè)量基準(zhǔn)脈沖數(shù)越多,,得到的單次非門延遲越接近于理論值,。這是由于在對(duì)基準(zhǔn)時(shí)間進(jìn)行量化的過程中存在舍掉余數(shù)誤差,通過測(cè)量多個(gè)時(shí)鐘脈沖的方法減小了舍入誤差,,實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論分析一致,。

    同理,在相同條件下測(cè)量的待測(cè)時(shí)鐘脈沖數(shù)越多,,得到的數(shù)據(jù)經(jīng)計(jì)算得出的待測(cè)時(shí)鐘脈沖時(shí)差與理論值越接近,。因此,在測(cè)量過程中可以通過多次連續(xù)測(cè)量求平均的方法減小誤差,。例如,,將該設(shè)計(jì)應(yīng)用在超聲波流量計(jì)中,可以連續(xù)測(cè)量8次回波的方法減小測(cè)量誤差,,實(shí)際應(yīng)用中該方法效果良好,。
    該設(shè)計(jì)在測(cè)量過程中以精確的32.768 kHz作為基準(zhǔn)時(shí)鐘,該基準(zhǔn)時(shí)鐘一般采用晶體振蕩器,,晶體振蕩器的穩(wěn)定誤差通常約為±20 ppm,。因此,可通過選用頻率穩(wěn)定度更高的晶體振蕩器(如±5 ppm)以提高測(cè)量精度,。但該振蕩器的價(jià)格比±20 ppm的高許多,,在設(shè)計(jì)過程中要綜合考慮性價(jià)比的問題。
    本文介紹的微時(shí)間測(cè)量方法,不僅大大節(jié)省了芯片面積,,降低了設(shè)計(jì)難度,而且達(dá)到較高的頻率分辨率,。這種方法的提出,,在低成本且對(duì)短時(shí)間間隔的測(cè)量有較高精度要求的場(chǎng)合,有重要的實(shí)際意義,。通過改進(jìn)設(shè)計(jì),,優(yōu)化內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu),選擇更快速度的CPLD,,該設(shè)計(jì)可達(dá)到更高的頻率分辨率,。如需達(dá)到100 ps以內(nèi)的分辨率,可通過此方法設(shè)計(jì)定制專用的ASIC電路,。該設(shè)計(jì)在一般的應(yīng)用場(chǎng)合如超聲波流量計(jì),、紅外測(cè)距中已經(jīng)得到實(shí)際運(yùn)用,使用效果良好,,測(cè)量穩(wěn)定,、精確。
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