如圖所示為使用電壓比較器LM324組成的測(cè)試電路。其特點(diǎn)是便于檢測(cè)閾值電平的調(diào)整，可測(cè)試DTL、TTL、CMOS等多種邏輯電平。由電壓比較器的原理可知：當(dāng)同相輸入端(正端)電壓高于反相輸入端(負(fù)端)電壓時(shí)，比較器輸出高電平；反之，則輸出低電平。RP為比較電壓調(diào)整電位器，當(dāng)UIN高于設(shè)置電壓時(shí)，7腳輸出高電平，顯示1，同時(shí)小數(shù)點(diǎn)dp發(fā)光；UIN低于設(shè)置電壓時(shí)，1腳輸出高電平顯示0，但小數(shù)點(diǎn)不亮；當(dāng)檢測(cè)到高、低變化的時(shí)鐘脈沖時(shí)，若頻率很低，可見(jiàn)0、1交替顯示。頻率較高時(shí)，0、1變化非常快，所以只見(jiàn)顯示為0，同時(shí)小數(shù)點(diǎn)dp發(fā)光，這種“帶點(diǎn)的零”即可表示檢測(cè)的是時(shí)鐘脈沖。