如圖所示為使用電壓比較器LM324組成的測試電路,。其特點(diǎn)是便于檢測閾值電平的調(diào)整,，可測試DTL,、TTL、CMOS等多種邏輯電平,。由電壓比較器的原理可知：當(dāng)同相輸入端(正端)電壓高于反相輸入端(負(fù)端)電壓時(shí),，比較器輸出高電平；反之,，則輸出低電平,。RP為比較電壓調(diào)整電位器，當(dāng)UIN高于設(shè)置電壓時(shí),，7腳輸出高電平,，顯示1，同時(shí)小數(shù)點(diǎn)dp發(fā)光,；UIN低于設(shè)置電壓時(shí),，1腳輸出高電平顯示0，但小數(shù)點(diǎn)不亮,；當(dāng)檢測到高,、低變化的時(shí)鐘脈沖時(shí)，若頻率很低,，可見0,、1交替顯示。頻率較高時(shí),，0,、1變化非常快,，所以只見顯示為0,，同時(shí)小數(shù)點(diǎn)dp發(fā)光，這種“帶點(diǎn)的零”即可表示檢測的是時(shí)鐘脈沖,。