最新資訊

惠瑞捷推出半導(dǎo)體行業(yè)首創(chuàng)可擴(kuò)展測(cè)試機(jī)臺(tái)系列 -V93000 Smart Scale平臺(tái),降低新一代 IC 的測(cè)試成本

　　Advantest 集團(tuán)（東京證券交易所：6857,；紐約證券交易所：ATE）旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測(cè)試機(jī)臺(tái)系列,，可用來測(cè)試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片,。 　 　　Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測(cè)試機(jī)臺(tái)，與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的 V93000 平臺(tái)完全相容,。智能測(cè)試意味著每個(gè)通道卡具有獨(dú)立的時(shí)鐘域,，通過匹配受測(cè)器件的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)率要求,，實(shí)現(xiàn)全面的測(cè)試覆蓋率。配合電源調(diào)制,、抖動(dòng)注入和協(xié)議通訊等其他重要特性,，系統(tǒng)級(jí)壓力測(cè)試如今可在 ATE 層執(zhí)行，提高了故障模型覆蓋范圍,。 　 　　“憑借我們創(chuàng)新的 V93000 Smart Scale系列的測(cè)試系統(tǒng)和通道卡,，惠瑞捷在智能測(cè)試解決方法方面取得領(lǐng)先，這些方法提供了定制的解決方案,，可以為客戶降低測(cè)試成本,。”Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng) (SOC) 測(cè)試部執(zhí)行副總裁)表示,。 　 　　四個(gè)等級(jí)的 Smart Scale 測(cè)試機(jī)臺(tái)（A類,、C類、S類 和 L類）分別有不同的測(cè)試頭尺寸,，使惠瑞捷可為每個(gè)客戶提供最高效的特定應(yīng)用解決方案

發(fā)表于：8/2/2011