高速ADC的性能測(cè)試
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：針對(duì)某信號(hào)處理機(jī)中的高速A/D轉(zhuǎn)換器(ADC)的應(yīng)用,利用數(shù)字信號(hào)處理機(jī)的硬件平臺(tái),采用純正弦信號(hào)作為輸入信號(hào),用數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)控制采樣,并將A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)存儲(chǔ),進(jìn)行FFT變換,進(jìn)而來(lái)分析ADC的信噪比及有效位數(shù)。該測(cè)試方法具有全數(shù)字、可編程、精確度高等優(yōu)點(diǎn),是較為先進(jìn)的測(cè)試方法。
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