折疊偶極子陣列無芯標(biāo)簽極點特性分析 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aet | |
文檔大小:379 K | |
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文檔介紹:標(biāo)簽極點提取的準(zhǔn)確性受多種因素影響,,以折疊偶極子陣列無芯標(biāo)簽為研究對象,開展無耗電介質(zhì)材料(厚度,、相對介電常數(shù))對其極點分布的特性分析,。仿真結(jié)果表明,隨著介質(zhì)厚度及其相對介電常數(shù)的增大,,諧振極點的衰減因子及諧振頻率將呈現(xiàn)變小的趨勢,,極點分布以類S型曲線向坐標(biāo)原點靠近。 | |
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