概述

MAX2640低噪聲放大器(LNA)工作在315MHz時(shí)的性能

??? 該器件在315MHz的工作性能如表1所示,。頻率特性曲線如圖1所示,。

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表1. MAX2640性能概述

(f = 315MHz, V_CC = 3V)
注：輸入功率為每音調(diào)-30dBm

圖1. MAX2640 LNA應(yīng)用于315MHz時(shí)的頻率特性

S參數(shù)測量

測試環(huán)境的建立

??? 對(duì)MAX2640進(jìn)行S參數(shù)測量時(shí)使用了兩套評(píng)估板和一個(gè)網(wǎng)絡(luò)分析儀(HP8753D)。將第一套評(píng)估板(kit #1)的IC去掉用于校準(zhǔn),，利用第二套評(píng)估板(kit #2)進(jìn)行實(shí)際測量,，該套評(píng)估板保留了IC，但無匹配元件,。

1. 對(duì)雙口網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行了完整的校準(zhǔn)操作,，校準(zhǔn)范圍包括與網(wǎng)絡(luò)分析儀相連接的電纜。
2. 當(dāng)我們測量第二套評(píng)估板(kit #2)上不帶匹配元件時(shí)IC的S參數(shù)時(shí),，將短接線放置到了第一套評(píng)估板(kit #1)上MAX2640輸入和輸出引腳的焊接位置。(參見圖2)
3. 調(diào)整網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口延時(shí),，使315MHz時(shí)輸入端和輸出端的阻抗都盡可能接近于短路狀態(tài),。此時(shí)，我們就可以利用該校準(zhǔn)在第二套評(píng)估板(kit #2)上的MAX2640器件引腳處進(jìn)行S參數(shù)測量,。
4. 然后修改第一套評(píng)估板(kit #1),，將上面的短接線移置到上次匹配元件的放置點(diǎn)。再一次調(diào)整網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口延時(shí),，使315MHz時(shí)輸入端和輸出端的阻抗都盡可能接近短路狀態(tài),。
5. 接著將匹配元件放回到第二套評(píng)估板(kit #2)上，對(duì)評(píng)估板上帶有匹配元件的IC進(jìn)行S參數(shù)測量,。
6. 為了證實(shí)僅測試IC時(shí)(上述步驟3) S參數(shù)的正確性,，將所測得的S參數(shù)導(dǎo)入ADS (微波仿真軟件)，并在所建模型中加入匹配元件和傳輸線,。同時(shí)為了模擬板上存在的寄生效應(yīng),，在模型的輸入引腳和輸出引腳加一只0.5pF電容。(見附錄中圖18的ADS仿真圖,。)然后將所建立模型的仿真性能曲線與評(píng)估板上帶有匹配元件時(shí)所測得的IC S參數(shù)(上述步驟5)進(jìn)行比較,。

圖2. 用于MAX2640的S參數(shù)測量的校準(zhǔn)電路

測試結(jié)果

??? 圖3至圖8曲線標(biāo)注定義如下：

• MAX2640_Epcos_1GHz_simulation：只對(duì)工作臺(tái)上不帶匹配元件的IC進(jìn)行了測量，利用所測得的S參數(shù)進(jìn)行仿真,，并在ADS的仿真模型中加入了匹配元件,。
• MAX2640_Epcos_1GHz_bench：在評(píng)估板上加入了匹配元件后再對(duì)IC進(jìn)行S參數(shù)測量。

性能測試S11 (dB)的比較" src="http://www.maxim-ic.com.cn/images/appnotes/3571/3571Fig03.gif">

圖3. 仿真和性能測試S11 (dB)的比較

圖4. 仿真和性能測試S11 (相位)的比較

圖5. 仿真和性能測試S22 (dB)的比較

圖6. 仿真和性能測試S22 (相位)的比較

圖7. 仿真和性能測試S21 (dB)的比較

圖8. 仿真和性能測試S21 (相位)的比較

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??? 上述數(shù)據(jù)表明所進(jìn)行的兩個(gè)測試中,，幅值和相位性能都非常接近,。除去微小的頻率偏移,，仿真結(jié)果(利用不帶匹配元件的IC的測試S參數(shù)建立模型，并在ADS模型中加入匹配元件后對(duì)模擬工作臺(tái)進(jìn)行仿真測量)非常接近于實(shí)際性能測試(在評(píng)估板上加入匹配元件后,，對(duì)實(shí)際性能進(jìn)行測試),。所以可以得到這樣的結(jié)論：對(duì)MAX2640進(jìn)行測量所得的S參數(shù)是可靠的，可用于仿真和穩(wěn)定性分析,。

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??? 注：評(píng)估板上加入匹配元件后進(jìn)行測試時(shí),，不能測試參數(shù)S12。因?yàn)樾盘?hào)的幅值很低,，導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)分析儀不能精確測量,。所以上面的圖表中沒有S12的幅值和相位曲線。

穩(wěn)定性分析

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第一個(gè)測試實(shí)例

??? 我們將去耦電容放置在了距離MAX2640的V_CC引腳9mm遠(yuǎn)處。傳輸線寬度是42mil,。這是一個(gè)具有50受控阻抗的四層電路板,，介質(zhì)材料是FR4，1oz覆銅,，介電常數(shù)約為4.5,。頂層和內(nèi)部地層(第二層)之間的介質(zhì)厚度是24mil。利用這些信息可以仿真得到V_CC引腳處的電感值,，在315MHz時(shí)仿真結(jié)果大約為j5.5,，相當(dāng)于2.5nH電感。圖9顯示了只針對(duì)IC進(jìn)行的穩(wěn)定性測試,、穩(wěn)定系數(shù),、源端穩(wěn)定系數(shù)和負(fù)載端穩(wěn)定系數(shù)。圖10是源端穩(wěn)定性圓圖和負(fù)載端穩(wěn)定性圓圖,。

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圖9. 第一個(gè)測試實(shí)例的穩(wěn)定性測試,、穩(wěn)定系數(shù),、源端穩(wěn)定系數(shù)和負(fù)載端穩(wěn)定系數(shù)

圖10. 第一個(gè)測試實(shí)例的源端穩(wěn)定性圓圖和負(fù)載端穩(wěn)定性圓圖

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第二個(gè)測試實(shí)例

??? 在該實(shí)例中，電容盡可能靠近V_CC引腳放置。此時(shí),，傳輸線的寬度是40mil,，315MHz時(shí)感應(yīng)系數(shù)值大約為j0.6，相當(dāng)于0.3nH電感,。下圖11顯示了穩(wěn)定性測試,、穩(wěn)定系數(shù)、源端穩(wěn)定系數(shù)和負(fù)載端穩(wěn)定系數(shù),。圖12表示的是源端穩(wěn)定性圓圖和負(fù)載端穩(wěn)定性圓圖,。

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圖12. 第二個(gè)測試實(shí)例的源端穩(wěn)定性圓圖和負(fù)載端穩(wěn)定性圓圖

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第三個(gè)測試實(shí)例

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??? 由圖13可知,，在整個(gè)測試頻率范圍內(nèi),，三個(gè)測試實(shí)例的穩(wěn)定性系數(shù)均大于1。符合無條件穩(wěn)定要求,。而且,，穩(wěn)定性圓圖在整個(gè)測試頻率范圍內(nèi)也都在史密斯圓圖的外部。

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??? 第一個(gè)測試實(shí)例的數(shù)據(jù)表明,，在2.5GHz到4.5GHz的頻率范圍內(nèi),，穩(wěn)定性系數(shù)絕對(duì)大于1，但是在5GHz時(shí)接近于1,。這表明MAX2640在5GHz以上時(shí)是有條件地穩(wěn)定的,。但是第二個(gè)測試實(shí)例的穩(wěn)定性系數(shù)卻是在2.5GHz到4.5GHz的頻率范圍內(nèi)接近于1，而在5GHz時(shí)絕對(duì)大于1,。這意味著該測試條件下的MAX2640器件在2.5GHz到4.5GHz的頻率范圍內(nèi)是有條件穩(wěn)定的,。在第三個(gè)測試實(shí)例中，我們將電容放置在了與V_CC引腳相距5mm遠(yuǎn)處,。所測得的穩(wěn)定性系數(shù)在2.5GHz到4.5GHz的頻率范圍內(nèi)絕對(duì)大于1,，在5GHz時(shí)也比1大很多,。

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??? 通過以上分析，我們可以得出結(jié)論：為了保證器件的穩(wěn)定性,，去耦電容的最佳放置位置是距V_CC引腳4mm到5mm處,。

原理圖和匹配網(wǎng)絡(luò)

??? 綜上所述，我們使用一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)的網(wǎng)絡(luò)分析儀(HP8753D)對(duì)315MHz時(shí)MAX2640低噪聲放大器(LNA)的輸入/輸出端進(jìn)行了S參數(shù)測量,，并通過反復(fù)的仿真和測量確定了最佳阻抗匹配電路,。該器件在315MHz時(shí)的性能和所需匹配適用于汽車無線門禁系統(tǒng)。為了得到最好的增益和噪聲系數(shù),，對(duì)匹配進(jìn)行優(yōu)化,，最優(yōu)阻抗匹配電路如圖14和圖15所示。

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MAX2640 低噪聲放大器(LNA)的材料清單

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圖15. 低噪聲放大器(LNA)工作在315MHz時(shí)輸入端與輸出端的匹配網(wǎng)絡(luò)

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??? 下面是低噪聲放大器(LNA)增益和三階輸入交調(diào)截取點(diǎn)(IIP3)的測量環(huán)境的建立(見圖16),。

1. 利用標(biāo)準(zhǔn)的雙音互調(diào)對(duì)三階輸入交調(diào)截取點(diǎn)(IIP3)進(jìn)行測試,。
2. 將兩個(gè)射頻信號(hào)發(fā)生器通過一個(gè)功率合成器連接到低噪聲放大器(LNA)的輸入端。
3. 設(shè)置第一臺(tái)信號(hào)發(fā)生器(HP8648B)使其產(chǎn)生314.5MHz的信號(hào),，使第二臺(tái)信號(hào)發(fā)生器(HP8648B)產(chǎn)生315.5MHz的信號(hào)(相距1MHz),，雙音測量均在-30dBm功率下產(chǎn)生。
4. 利用一臺(tái)頻譜分析儀(Agilent 8562EC)來測量增益以及低噪聲放大器(LNA)輸出端所需音頻和三階交調(diào)失真之間的差異,。
5. 我們利用這些測量結(jié)果以及每一音調(diào)的輸入功率就可以找到低噪聲放大器(LNA)的三階輸入交調(diào)截取點(diǎn)(IIP3),。

噪聲系數(shù)測量環(huán)境的建立

??? 利用一臺(tái)噪聲系數(shù)分析儀(Agilent N8973A)和噪聲源(HP346A)進(jìn)行低噪聲放大器(LNA)噪聲系數(shù)的測試。測試框圖如下圖17所示,。

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圖17. 噪聲系數(shù)測量裝置

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附錄：ADS仿真原理圖

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