一 引言
DC-DC轉(zhuǎn)換器的效率和功率損耗是許多電子系統(tǒng)的一個(gè)重要特征參數(shù)。可以測量出這些特征參數(shù),，并用下面的直觀方式進(jìn)行表達(dá)：
效率 = 輸出功率 / 輸入功率 （1）
功率損耗 = 輸入功率-輸出功率 （2）
但是對于每個(gè)元器件做為一個(gè)單獨(dú)熱源在損耗中所占的比重,，這樣的結(jié)果沒有提供任何信息,。而我們的方法學(xué)能讓設(shè)計(jì)者更好地選擇針對其應(yīng)用的最佳DC-DC實(shí)現(xiàn)方案。
二 降壓轉(zhuǎn)換器的實(shí)例
降壓轉(zhuǎn)換器中的主要熱源是高邊MOSFET,、低邊MOSFET和電感器,。如果我們使用電工學(xué)方法來判定高邊MOSFET的功率損耗，那么就必須測量漏極電流,、漏源電壓,、柵極電流和柵源電壓。不幸的是,，如果不在電流路徑中引入額外的電感和干擾電路的正常工作,，要在高頻DC-DC轉(zhuǎn)換器中測得這些數(shù)據(jù)是非常困難的。但借助熱成像攝像機(jī),，我們研究出一種求解每個(gè)熱源功率損耗的新方法,，而且不會(huì)影響電路的工作。
三 新方法的基本原理
在一個(gè)電路中,，將電能轉(zhuǎn)換為熱能的元器件是熱源,。能量轉(zhuǎn)換成熱會(huì)增加熱源器件的和周圍環(huán)境的溫度,。轉(zhuǎn)變成熱的能量就是元器件的功率損耗。整個(gè)溫升（,？T）取決于功率損耗（P）和環(huán)境,。對于一個(gè)在固定測試臺上的某塊PCB板，,？T是功率損耗的唯一函數(shù),。因此，如果我們測量出,？T,，就可以推導(dǎo)計(jì)算每個(gè)熱源功率損耗的方法。
四 基本原理的推導(dǎo)
為簡單起見,，假設(shè)在PCB板上有兩個(gè)熱源（HS1和HS2）,。HS1工作時(shí)不但使其自身的表面溫度會(huì)升高，也會(huì)提高HS2的表面溫度,，對HS2來說也是如此,。因此，每個(gè)熱源的最終,？T可以用下面的等式來表示,。
Sij （i， j = 1,，2）是熱敏感度系數(shù),，與熱阻的度數(shù)相同
Pi是每個(gè)熱源的功率損耗
等式（3）也可以擴(kuò)展到N個(gè)熱源的情況。在這種情況下,，每個(gè)熱源的溫升可以由下式給出,。
S是一個(gè)N x N的矩陣
如果我們知道S的數(shù)值，就可以由下式得到每個(gè)熱源的功率損耗,。
假設(shè)Sij與溫度或電路的工作狀態(tài)無關(guān),，那么就可以由等式6確定每個(gè)Sij。
這里,，DTi是第i個(gè)熱源的溫升,，Pj是第j個(gè)熱源消耗的功率。所有其他器件都不起作用,。
每次我們都使用簡單的直流技術(shù)給一個(gè)熱源供電,，這樣就可以以非侵入式方式測量熱敏感度的系數(shù)。我們對被測器件（IC,，MOSFET和電感器）施加直流電壓和電流,，迫使器件開始消耗能量，然后測出Pj。然后我們使用熱成像攝像機(jī)測量表面溫度的,？Ti,，接著就可以用上面的等式（6）計(jì)算出Sij。
我們使用了新的方法學(xué)計(jì)算兩個(gè)降壓拓?fù)涞闹鳠嵩矗阂粋€(gè)使用SiC739D8 DrMOS IC的集成式功率級,，和一個(gè)使用兩個(gè)MOSFET的分立式功率級,，在分立式功率級中，Si7382DP在高邊,，Si7192DP在低邊,。
一 引言
DC-DC轉(zhuǎn)換器的效率和功率損耗是許多電子系統(tǒng)的一個(gè)重要特征參數(shù)?？梢詼y量出這些特征參數(shù),，并用下面的直觀方式進(jìn)行表達(dá)：
效率 = 輸出功率 / 輸入功率 （1）
功率損耗 = 輸入功率-輸出功率 （2）
但是對于每個(gè)元器件做為一個(gè)單獨(dú)熱源在損耗中所占的比重，這樣的結(jié)果沒有提供任何信息,。而我們的方法學(xué)能讓設(shè)計(jì)者更好地選擇針對其應(yīng)用的最佳DC-DC實(shí)現(xiàn)方案,。
二 降壓轉(zhuǎn)換器的實(shí)例
降壓轉(zhuǎn)換器中的主要熱源是高邊MOSFET、低邊MOSFET和電感器,。如果我們使用電工學(xué)方法來判定高邊MOSFET的功率損耗,，那么就必須測量漏極電流、漏源電壓,、柵極電流和柵源電壓,。不幸的是，如果不在電流路徑中引入額外的電感和干擾電路的正常工作,，要在高頻DC-DC轉(zhuǎn)換器中測得這些數(shù)據(jù)是非常困難的,。但借助熱成像攝像機(jī)，我們研究出一種求解每個(gè)熱源功率損耗的新方法,，而且不會(huì)影響電路的工作,。
三 新方法的基本原理
在一個(gè)電路中，將電能轉(zhuǎn)換為熱能的元器件是熱源,。能量轉(zhuǎn)換成熱會(huì)增加熱源器件的和周圍環(huán)境的溫度,。轉(zhuǎn)變成熱的能量就是元器件的功率損耗。整個(gè)溫升（,？T）取決于功率損耗（P）和環(huán)境。對于一個(gè)在固定測試臺上的某塊PCB板,，,？T是功率損耗的唯一函數(shù)。因此,，如果我們測量出,？T，就可以推導(dǎo)計(jì)算每個(gè)熱源功率損耗的方法,。
四 基本原理的推導(dǎo)
為簡單起見,，假設(shè)在PCB板上有兩個(gè)熱源（HS1和HS2）,。HS1工作時(shí)不但使其自身的表面溫度會(huì)升高，也會(huì)提高HS2的表面溫度,，對HS2來說也是如此,。因此，每個(gè)熱源的最終,？T可以用下面的等式來表示,。
Sij （i， j = 1,，2）是熱敏感度系數(shù),，與熱阻的度數(shù)相同
Pi是每個(gè)熱源的功率損耗
等式（3）也可以擴(kuò)展到N個(gè)熱源的情況。在這種情況下,，每個(gè)熱源的溫升可以由下式給出,。
S是一個(gè)N x N的矩陣
如果我們知道S的數(shù)值，就可以由下式得到每個(gè)熱源的功率損耗,。
假設(shè)Sij與溫度或電路的工作狀態(tài)無關(guān),，那么就可以由等式6確定每個(gè)Sij。
這里,，DTi是第i個(gè)熱源的溫升,，Pj是第j個(gè)熱源消耗的功率。所有其他器件都不起作用,。
每次我們都使用簡單的直流技術(shù)給一個(gè)熱源供電,，這樣就可以以非侵入式方式測量熱敏感度的系數(shù)。我們對被測器件（IC,，MOSFET和電感器）施加直流電壓和電流,，迫使器件開始消耗能量，然后測出Pj,。然后我們使用熱成像攝像機(jī)測量表面溫度的,？Ti，接著就可以用上面的等式（6）計(jì)算出Sij,。
我們使用了新的方法學(xué)計(jì)算兩個(gè)降壓拓?fù)涞闹鳠嵩矗阂粋€(gè)使用SiC739D8 DrMOS IC的集成式功率級,，和一個(gè)使用兩個(gè)MOSFET的分立式功率級，在分立式功率級中,，Si7382DP在高邊,，Si7192DP在低邊。
A.集成式降壓轉(zhuǎn)換器
圖1
圖1顯示了用于集成式降壓轉(zhuǎn)換器的EVB前端,。這里有4個(gè)熱源：電感器（HS1）,，驅(qū)動(dòng)IC（HS2），高邊MOSFET（HS3）和低邊MOSFET（HS4）。SiC739 DrMOS是一個(gè)單芯片解決方案,，其內(nèi)部包含的HS2,、HS3和HS4靠得非常近。由于這里有4個(gè)熱源,，因此S是一個(gè)4x4矩陣,。
圖2顯示了當(dāng)?shù)瓦匨OSFET的體二極管是前向偏置時(shí)（AR0x Avg. =》 HSx），4個(gè)熱源的溫度,。
如果 TA 為 23.3 ,？C，那么,，
（8）
測得的電流I4和電壓V4分別是2.14A和0.6589V,。
P4 = I4？V4 = 1.41W （8）
使用公式（7）中的溫度信息,，我們可以得到Si4,，（i=1，2,，3,，4）
S14 = 5.82 （9）
S24 = 9.29
S34 = 9.5
S44 = 16.2
重復(fù)上述過程，可以得到如下的S矩陣,。
然后解出S-1,，
試驗(yàn)結(jié)果：集成式降壓轉(zhuǎn)換器
現(xiàn)在我們可以給SiC739 EVB上電，并使用等式（5）和（11）來計(jì)算每個(gè)熱源的功率損耗,。
P1 = 0.224W,， 電感器 （12）
P2 = 0.431W， 驅(qū)動(dòng) IC
P3 = 0.771W,， 高邊MOSFET
P4 = 0.512W,， 低邊 MOSFET
根據(jù)測試結(jié)果和等式 （2）：
P1 + P3 + P4 = 1.538W
新方法給出的結(jié)果是：
P1 + P3 + P4 = 1.507W （13）
熱學(xué)方法和電工學(xué)方法之間的結(jié)果差異是由小熱源造成的，如PCB印制線和電容器的ESR,。
分立式降壓轉(zhuǎn)換器
使用上述步驟和圖3,，我們獲得了分立式方案的S矩陣，不過沒有考慮驅(qū)動(dòng)IC的功率,。
（16）
（17）
使用上面圖4提供的信息,，我們可以得到在Vin = 12V,， Vo =1.3V， Io = 8A,， Fs = 1MHz條件下的功率損耗。
P1 = 0.228W， 電感器
P2 = 0.996W,， 高邊 MOSFET
P3 = 0.789W,， 低邊 MOSFET
比較等式（18）和等式（22），我們發(fā)現(xiàn),，由于兩個(gè)電路使用相同的電感器,，兩個(gè)電路具有同樣的電感器損耗，這個(gè)結(jié)果和我們預(yù)想的一樣,。盡管分立方案中低邊和高邊MOSFET的rDS（on）比集成式方案MOSFET的rDS（on）分別小23％和28％,，集成式降壓解決方案的損耗仍然比分立式降壓方案的損耗要低。
我們可以認(rèn)定,，集成式方案的頻率更低,，而頻率則與功率損耗相關(guān)。
五 總結(jié)和結(jié)論
測量高頻DC-DC轉(zhuǎn)換器功率損耗的新方法使用了直流功率測試,，和一個(gè)熱成像攝像機(jī)來測量PCB板上每個(gè)熱源的表面溫度,。用新方法測得的功率損耗與用電工學(xué)方法測得的結(jié)果十分接近。新方法可以很容易地區(qū)分出象MOSFET這樣的主熱源,，和象PCB印制線及電容器的ESR這樣的次熱源的功率損耗,。試驗(yàn)結(jié)果表明，由于在低頻下工作時(shí)的損耗小,，高頻集成式DC-DC轉(zhuǎn)換器的整體功率損耗比分立式DC-DC轉(zhuǎn)換器要低,。