《電子技術(shù)應(yīng)用》
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綜合布線測(cè)試模型對(duì)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的影響
cabling-system
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摘要:   筆者公司近期接到多起用戶來(lái)電,,咨詢他們的網(wǎng)絡(luò)在使用中部分信息點(diǎn)會(huì)由千兆自動(dòng)降低為百兆(項(xiàng)目交付使用少于1年),,溝通中得知用戶這些故障信息點(diǎn)驗(yàn)收時(shí)采用FLUKE設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試性能符合要求,,進(jìn)一步溝通得知選擇信道作為驗(yàn)收測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),,即每個(gè)信息點(diǎn)包含一條永久鏈路和兩條用戶數(shù)據(jù)跳線,。
Abstract:
Key words :

  前言

  筆者公司近期接到多起用戶來(lái)電,咨詢他們的網(wǎng)絡(luò)在使用中部分信息點(diǎn)會(huì)由千兆自動(dòng)降低為百兆(項(xiàng)目交付使用少于1年),,溝通中得知用戶這些故障信息點(diǎn)驗(yàn)收時(shí)采用FLUKE設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,,測(cè)試性能符合要求,進(jìn)一步溝通得知選擇信道作為驗(yàn)收測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),,即每個(gè)信息點(diǎn)包含一條永久鏈路和兩條用戶數(shù)據(jù)跳線,。

  針對(duì)這個(gè)問(wèn)題,我們從以下幾個(gè)方面進(jìn)行了分析:

  1,、實(shí)際使用中的通道線路和測(cè)試通道是否相同,,就是說(shuō)實(shí)際使用的用戶跳線和測(cè)試時(shí)使用的跳線是否為同一根跳線。

  2,、網(wǎng)絡(luò)環(huán)境是否正常,,眾所周知當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)設(shè)備(網(wǎng)卡)是具有自適應(yīng)功能的,當(dāng)網(wǎng)絡(luò)環(huán)境發(fā)生變化時(shí)會(huì)自動(dòng)切換到千兆或者百兆的應(yīng)用狀態(tài),。

  3,、使用過(guò)程中網(wǎng)絡(luò)線路是否被損壞,如模塊,、水晶頭是否被腐蝕、損壞等,。

  由于網(wǎng)絡(luò)設(shè)備具有優(yōu)先自適應(yīng)選擇千兆的特點(diǎn),,使用過(guò)程中隨著誤碼率的不斷增加和累積,最終可能導(dǎo)致千兆網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)降低為百兆,。因此筆者公司用戶咨詢的情況,,經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)研究分析,其發(fā)生的最大可能是用戶跳線的性能存在缺陷,,本文將著重討論從標(biāo)準(zhǔn)到應(yīng)用兩方面來(lái)分析用戶跳線性能與系統(tǒng)的關(guān)系,。

  不同測(cè)試模型分析

  我們知道FLUKE測(cè)試設(shè)備在選擇“Channel”測(cè)試模型進(jìn)行測(cè)試時(shí),并不包含兩端接入適配器的跳線接頭(水晶頭),,設(shè)備在測(cè)試時(shí)會(huì)自動(dòng)扣除鏈路兩端水晶頭的影響,,換句話說(shuō)就是用于測(cè)試的跳線的水晶頭性能好壞,基本不會(huì)影響到最終的測(cè)試結(jié)果,而實(shí)際網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用時(shí)則不能排除跳線水晶頭的影響,。

  為確保網(wǎng)絡(luò)能在千兆狀態(tài)下穩(wěn)定的運(yùn)行,,物理布線需要達(dá)到怎樣的性能、何種進(jìn)行驗(yàn)收才能保證呢,?

  端到端網(wǎng)絡(luò)設(shè)備通訊鏈路在標(biāo)準(zhǔn)中被定義為信道(Channel),,一個(gè)信道鏈路包含一條水平鏈路、2條用戶跳線,,當(dāng)水平鏈路采用永久鏈路“Perm.Link”模型,、跳線采用跳線單體“Patchcord”模型測(cè)試并分別符合要求后,則這條信道鏈路定能滿足要求,。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)TIA568規(guī)定,,標(biāo)準(zhǔn)鏈路、信道測(cè)試模型如下:

  在實(shí)際項(xiàng)目的驗(yàn)收測(cè)試中,,以選擇FLUKEDTX1800測(cè)試儀為例,,不同測(cè)試模型對(duì)應(yīng)FLUKE的測(cè)試適配器如表1。

  通過(guò)以上分析,,要獲得穩(wěn)定可靠的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用,,工程驗(yàn)收時(shí)水平鏈路應(yīng)選擇永久鏈路模型進(jìn)行測(cè)試、跳線應(yīng)選擇對(duì)應(yīng)的跳線單體模型測(cè)試,。根據(jù)TIA568標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:跳線單體測(cè)試參數(shù)在回波損耗,、近端串音方面比信道測(cè)試的參數(shù),其余量在高頻下(≧16MHz)分別高出5dB以上,,且頻率越高差距越大,。不同測(cè)試模型下的性能參數(shù)比較見(jiàn)表2。

  用戶跳線驗(yàn)收模型選擇

  水平鏈路的永久鏈路測(cè)試模型,,目前已經(jīng)越來(lái)越多地應(yīng)用于各類(lèi)工程項(xiàng)目的綜合布線驗(yàn)收,,而跳線的單體測(cè)試模型卻很少被用戶所熟知,下面簡(jiǎn)單介紹一下跳線的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試方法,。

  作為工程驗(yàn)收的主要設(shè)備之一,,F(xiàn)LUKE是業(yè)內(nèi)認(rèn)可度最高的設(shè)備。下面以FLUKEDTX1800測(cè)試Cat6為例來(lái)進(jìn)行分析:

  FlukeDTX系列Cat6跳線測(cè)試適配器(屏蔽,、非屏蔽通用),,包括:FlukeDTX主機(jī)適配器(FlukeDTX-PCU6/MN)和FlukeDTX遠(yuǎn)端適配器(FlukeDTX-PCU6/SR),測(cè)試時(shí)兩個(gè)適配器需要分別安裝在設(shè)備的主機(jī)及遠(yuǎn)端,,不得安裝錯(cuò)誤,。

  測(cè)試時(shí)一般選擇跳線TIA標(biāo)準(zhǔn),選擇該測(cè)試模型時(shí),,主要的測(cè)試參數(shù)如下:

  接線圖,,確保端接的正確性

  近端串?dāng)_(NEXT)(單向)

  回波損耗(單向)

  通過(guò)/失敗測(cè)試限

  在測(cè)試參數(shù)項(xiàng)目中需要特別注意到的是,近端串?dāng)_、回波損耗標(biāo)識(shí)為“單向”,,也就是說(shuō)在選擇跳線單體標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試跳線時(shí),,設(shè)備測(cè)試出來(lái)的僅僅是跳線與主機(jī)端相連的水晶頭性能參數(shù),因此要驗(yàn)證一根跳線是否合格,,必須要將跳線兩端的水晶頭分別與FLUKE測(cè)試設(shè)備的主機(jī)進(jìn)行連接才能最終進(jìn)行判定,,即判斷一根跳線是否合格,最少需要經(jīng)過(guò)兩次測(cè)試才能確定,,這一點(diǎn)與其他的測(cè)試模型都是完全不一樣的,。

  FLUKE跳線測(cè)試適配器內(nèi)的模塊是有使用壽命的,一般情況下插拔10000次(測(cè)試5000條跳線)就需要更換新的測(cè)試模塊,。

  另外,,除跳線生產(chǎn)時(shí)存在的缺陷外,插拔次數(shù)超過(guò)極限的跳線也有可能會(huì)引起千兆網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)切換到百兆的現(xiàn)象,,一般在插拔750次以內(nèi)不會(huì)影響跳線性能,,當(dāng)跳線的插拔次數(shù)不斷增加以后(超過(guò)1500次),跳線水晶頭金片上的鍍金層將會(huì)被磨擦掉,,隨之與模塊金針接觸的將是水晶頭的鍍鎳層,,這樣將會(huì)增加水晶頭的接觸電阻,從而導(dǎo)致跳線性能下降,。因此對(duì)于一些插拔比較頻繁的跳線,,應(yīng)當(dāng)定期進(jìn)行更換。

  羅森伯格作為專業(yè)的布線廠商,,所有出廠跳線產(chǎn)品都經(jīng)過(guò)了100%嚴(yán)格的跳線單體測(cè)試(兩端測(cè)試),,為用戶網(wǎng)絡(luò)長(zhǎng)期穩(wěn)定的應(yīng)用提供了良好的基礎(chǔ)。

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