LogicBIST" mentor="" title="LogicBIST">LogicBIST混合解決方案,，以應對ISO 26262標準規(guī)定的對安全很重要的測試要求。這種混合方法要求的測試邏輯非常少,，從而提供完整的解決方案：既包括用于實現(xiàn)低每百萬缺陷數(shù)量（DPM）的高壓縮率掃描測試,、又有內(nèi)置自檢（BIST）。Mentor的混合測試功能非常適合于汽車等行業(yè)的高可靠性應用,。

    “壓縮掃描測試與邏輯BIST的組合,，給瑞薩提供了一種高品質(zhì)解決方案，既可用于生產(chǎn)測試,，亦可用于汽車行業(yè)ISO 26262標準要求的上電自檢（Power-On Self-Test）,，”瑞薩電子公司系統(tǒng)集成業(yè)務集團設計自動化部首席教授Toshiharu Asaka說。“采用Mentor的集成解決方案而非分開進行ATPG壓縮和BIST實施,，瑞薩還可簡化其DFT實施流程,，從而降低測試邏輯所需的die區(qū)，節(jié)約開發(fā)者的時間,，加快上市,。”

    Tessent testkompress/">TestKompress/LogicBIST混合解決方案提供現(xiàn)場系統(tǒng)自檢，并由壓縮ATPG進行補充,，這樣即使是在測試器存儲和接口受到限制,，比如在老化測試（burn-in test）的情況下，也可達到最高的測試品質(zhì),。該解決方案可生成集成了嵌入壓縮邏輯的LBIST邏輯,，同時自動生成壓縮100倍及以上的目標“補充（top up）”模式，以補充LBIST偽隨機模式,。該混合解決方案能減少生產(chǎn)測試時間與成本,，同時實現(xiàn)低DPM和系統(tǒng)中測試的功能。

    “對于不僅要在生產(chǎn)線上進行非常細致的測試,，也需要在開始使用后能進行自檢的IC產(chǎn)品來說，這種Tessent混合方法是減少測試成本和測試時間最高效的方法之一,，”Mentor Graphics公司副總裁兼Design-to-Silicon部門總經(jīng)理Joseph Sawicki說,。“作為額外的好處,，設計師們還可以節(jié)省實現(xiàn)這些測試功能所需邏輯的數(shù)量，同時享有一個經(jīng)簡化的實現(xiàn)過程,。”

關于Mentor Graphics

Mentor Graphics公司是電子硬件和軟件設計解決方案的全球領導者,，為世界上最成功的電子、半導體和系統(tǒng)公司提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品,、咨詢服務和支持,。公司成立于1981年，在剛過去的會計年度里的總收入約為10.15億美元,。公司總部地址：8005 S.W. Boeckman Road, Wilsonville, Oregon 97070-7777,。全球網(wǎng)站：http://www.mentor.com。