射頻識別即RFID技術(shù)又稱電子標(biāo)簽、無線射頻識別,,是一種通信技術(shù)[1],。RFID技術(shù)作為物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù),其應(yīng)用必將隨著物聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展而擴(kuò)大,。常用的RFID分低頻,、高頻,、超高頻3種,其中高頻RFID典型工作頻率為13.56 MHz,,一般以無源為主,。高頻標(biāo)簽比超高頻標(biāo)簽具有價格便宜、節(jié)省能量,、穿透非金屬物體力強,、工作頻率不受無線電頻率管制約束的優(yōu)勢,最適合應(yīng)用于含水成分較高的物體中,,例如水果等,。
基于FPGA的原型驗證方法憑借其速度快、易修改,、真實性的特點,,已經(jīng)成為ASIC芯片設(shè)計中重要的驗證方法[2]。本文主要描述高頻RFID芯片的FPGA原型驗證平臺的設(shè)計,,并給出驗證結(jié)果,。
1 RFID芯片的FPGA原型驗證環(huán)境概述
一套完整的RFID系統(tǒng)是由閱讀器(Reader)、電子標(biāo)簽芯片(Tag)也就是所謂的應(yīng)答器(Transponder)及應(yīng)用軟件三部分組成[3],。
電子標(biāo)簽芯片的FPGA原型驗證環(huán)境也是一套完整的RFID系統(tǒng),,用FPGA原型驗證平臺替代上述的電子標(biāo)簽芯片(Tag),使用上層的應(yīng)用軟件開發(fā)驗證激勵,。通過閱讀器與FPGA原型驗證平臺進(jìn)行通信來實現(xiàn)對FPGA中的數(shù)字邏輯進(jìn)行驗證的目的,。圖1是典型的RFID芯片的FPGA原型驗證環(huán)境原理圖。
2 驗證平臺的硬件設(shè)計
2.1 驗證平臺硬件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
FPGA原型驗證平臺利用自身的硬件資源,,模擬實現(xiàn)RFID芯片的各功能模塊,。其中數(shù)字邏輯單元和存儲器是FPGA原型驗證的對象,由FPGA內(nèi)部的資源實現(xiàn),。圖2為驗證平臺硬件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖,。
下面詳細(xì)介紹FPGA器件選型、模擬射頻前端(AFE)電路設(shè)計,、天線設(shè)計及調(diào)試,,其中重點是FPGA器件選型和模擬射頻前端電路設(shè)計,難點是天線設(shè)計及調(diào)試,。
2.2 FPGA器件選型
FPGA原型驗證平臺中FPGA器件選型主要考慮FPGA的邏輯資源,、存儲資源、I/O資源和時鐘資源,,另外兼顧器件的供貨渠道,、速度等級、溫度等級等。
FPGA的邏輯資源應(yīng)為待驗證ASIC邏輯門數(shù)的2~3倍或更高,;存儲資源,、滿足待驗證ASIC存儲資源的需求,主要是Blockram資源,I/O資源,,用戶可配置的I/O數(shù)量除了滿足ASIC設(shè)計的數(shù)字端口信號需求外,,還要預(yù)留一定量的調(diào)試I/O;時鐘資源,,主要指全局時鐘數(shù)量,,ASIC低功耗設(shè)計會用到大量的門控時鐘,轉(zhuǎn)化門控時鐘需用到FPGA的全局時鐘資源,。
根據(jù)以上原則,,本次FPGA采用Xilinx Spartan3-1000芯片。該芯片可編程約10萬門的ASIC邏輯,;16組blockram,,提供432 kbit地址空間;8個全局時鐘bufer用于定義時鐘,;4個DCM模塊,,可以精確地實現(xiàn)內(nèi)部時鐘分頻、倍頻,;用戶可用的I/O多達(dá)173個,。
本次待驗證的RFID芯片的數(shù)字邏輯規(guī)模約為1萬門,存儲器容量為1 kbit,,時鐘網(wǎng)絡(luò)簡單,,端口I/O少。實驗證明,,該FPGA的資源完全滿足RFID芯片的原型驗證需求,。
2.3 模擬射頻前端(AFE)電路設(shè)計
在搭建RFID芯片的驗證平臺時,模擬射頻前端(AFE)通常采用分立元件實現(xiàn),。分立器件實現(xiàn)的AFE電路穩(wěn)定性差,受環(huán)境影響比較大,,調(diào)試難度大,。例如,包絡(luò)檢波器的輸出幅值隨場強變化較大,,導(dǎo)致電壓比較器工作失常,,由此轉(zhuǎn)換出的數(shù)字信號出現(xiàn)錯誤。
為改善以上穩(wěn)定性差的問題,,本次模擬射頻前端采用AFE IC實現(xiàn),。AFE IC完成信號能量交流直流轉(zhuǎn)換、限壓、穩(wěn)壓,、信號調(diào)制和解調(diào),、時鐘產(chǎn)生及上電復(fù)位等功能。該芯片經(jīng)過了成熟的測試,,穩(wěn)定性好,,受磁場環(huán)境的影響小,電路穩(wěn)定性大大增強,,調(diào)試風(fēng)險大大降低,。圖3為模擬射頻前端(AFE)與其他功能模塊的連接關(guān)系圖。
2.4 天線設(shè)計及調(diào)試
2.4.1 天線設(shè)計原理
高頻電子標(biāo)簽的天線線圈進(jìn)入閱讀器產(chǎn)生的交變磁場時,,讀寫器與標(biāo)簽之間可等效為變壓器耦合方式,。讀寫器天線相當(dāng)于變壓器的初級線圈,標(biāo)簽上的天線相當(dāng)于次級線圈[4],。對于無源電子標(biāo)簽,電子標(biāo)簽可以簡化為天線與芯片的直接電連(標(biāo)簽天線可等效為天線等效內(nèi)阻與等效感應(yīng)電壓源的串聯(lián)組合,,標(biāo)簽芯片可等效為純阻抗)。圖4為無源高頻電子標(biāo)簽等效電路圖,。
符合ISO/IEC l5693標(biāo)準(zhǔn)的RFID系統(tǒng),,電子標(biāo)簽和閱讀器之間的載波頻率為13.56 MHz。為了保證閱讀器與標(biāo)簽之間的良好通信,標(biāo)簽的諧振頻率要接近13.56 MHz,。本文描述的FPGA原型驗證平臺設(shè)計中,,天線設(shè)計也是基于以上理論模型,設(shè)計成矩型天線,。
ISO/IEC 15693-1協(xié)議中規(guī)定,,標(biāo)簽天線尺寸最大不超過86 mm×54 mm,典型線圈有3~6匝[3],。這樣可以根據(jù)實際的設(shè)計需求先確定天線尺寸,,本次設(shè)計的天線長和寬分別為79 mm和47 mm,天線線圈的線寬為6 mil,線圈間距為9 mil,,線圈匝數(shù)為4,。
根據(jù)式(2)可以推算出天線線圈的等效電感,再根據(jù)式(1)可以計算出并聯(lián)電容的理論值,。
為了補償電路板加工偏差以及電路中其他參數(shù)的不確定因素,,消除線圈計算值與加工后實際值之間的誤差,線圈匝數(shù)預(yù)留3.5,、4.5圈可選的跳線,。調(diào)試時根據(jù)實際測量結(jié)果,確定并聯(lián)電容的容值和線圈的具體匝數(shù),。
2.4.2 天線調(diào)試
驗證平臺電路板加工,、焊接完成后,使用阻抗分析儀測量天線的實際電感值,本次測到的天線線圈的電感值近似為2.9 nH,;根據(jù)式(1)重新計算并聯(lián)電容的值為47.55 nF,,校正理論計算與加工后實際值之間的偏差。
并聯(lián)電容值確定后,,使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量天線的諧振頻率,。根據(jù)諧振頻率的偏移情況,逐步增加或者減少線圈匝數(shù),,直到達(dá)到指定的諧振頻率13.56 MHz,。
根據(jù)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量結(jié)果顯示,本次天線能成功諧振在13.56 MHz,,此時線圈匝數(shù)為4,,并聯(lián)電容大小為47 nF。圖6,、圖7為矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量的諧振圖,。
3 測試結(jié)果
FPGA原型驗證平臺經(jīng)過器件選型、硬件設(shè)計,、數(shù)字邏輯單元的移植實現(xiàn)以及系統(tǒng)調(diào)試后,,能夠與支持ISO/IEC15693協(xié)議的閱讀器進(jìn)行穩(wěn)定通信。圖8顯示了閱讀器下發(fā)查詢(Inventory)命令時空間場波形信息,;圖9顯示了閱讀器下發(fā)查詢(Inventory)命令時,,標(biāo)簽收到的時鐘信號(clk)、解調(diào)信號(demo_data)以及標(biāo)簽返回的調(diào)制信號(modu_data)波形,。
本文結(jié)合RFID芯片的設(shè)計特點,,描述了一種FPGA原型驗證平臺的設(shè)計,支撐無源高頻RFID芯片的FPGA原型驗證,。經(jīng)測試表明,,該驗證平臺能夠?qū)崿F(xiàn)ISO/IEC15693協(xié)議中的通信功能,能與多款閱讀器進(jìn)行穩(wěn)定的通信,,讀寫性能優(yōu)異,,穩(wěn)定性、可靠性都能達(dá)到預(yù)期的效果,,滿足標(biāo)簽芯片F(xiàn)PGA原型驗證的需求,。
本文設(shè)計的FPGA原型驗證平臺還可以作為電子標(biāo)簽芯片的原型設(shè)計提供給客戶試用,提前進(jìn)行軟件開發(fā);還可以提前進(jìn)行第三方的認(rèn)證工作,。另外,該驗證平臺對于符合其他協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的RFID芯片的驗證平臺的設(shè)計也有很好的參考價值,。
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