文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2015.08.011
中文引用格式: 章玉珠,,何怡剛,邱星星,,等. 基于片上網(wǎng)絡(luò)改進(jìn)HT模型的測試方法及仿真[J].電子技術(shù)應(yīng)用,,2015,41(8):40-42,,46.
英文引用格式: Zhang Yuzhu,,He Yigang,Qiu Xingxing,,et al. Test method and simulation based on improved HT model in NoC[J].Application of Electronic Technique,,2015,41(8):40-42,,46.
0 引言
隨著集成電路的制造工藝不斷高速發(fā)展,,電子器件的特征尺寸進(jìn)入了納米時(shí)代,在未來的若干年之內(nèi),,特征尺寸會(huì)進(jìn)一步縮小,集成電路的規(guī)模將進(jìn)一步擴(kuò)大[1-2],。微系統(tǒng)芯片的設(shè)計(jì)技術(shù)在近幾年得到了飛速發(fā)展,,其規(guī)模已經(jīng)發(fā)展到了一定的程度,功能也比較強(qiáng)大,。隨著集成電路工藝進(jìn)入納米時(shí)代,,線寬和連線間距大大縮小,全局連線的延時(shí)會(huì)隨著工藝特征尺寸的下降而快速上升,,這使得片上全局互連線路的可靠性惡化,,并且相鄰互連線間的電容和電感耦合也對(duì)高速電路的通信產(chǎn)生了巨大的影響。SoC 己經(jīng)不能滿足幾十億晶體管的芯片需求,,需要一種系統(tǒng)設(shè)計(jì)的架構(gòu)平臺(tái),,即片上網(wǎng)絡(luò)(Network-on-Chip,NoC),。NoC是一種新的系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu),,這種結(jié)構(gòu)能夠很好地解決SoC中的瓶頸問題[3]。
目前很多學(xué)者對(duì)NoC串?dāng)_進(jìn)行了相關(guān)研究,,并建立了串?dāng)_模型,。MA[4]模型是由Michael Cuviello提出,這種模型是最常用也是最經(jīng)典的串?dāng)_模型,,但MA模型只考慮了容性耦合,。MT[5]模型是由MH Tehranipou提出,這種模型是對(duì)MA模型的擴(kuò)張,,并且同時(shí)考慮了容性耦合和感性耦合,。MDSI 故障模型是由Sunghoon Chun提出,這種模型考慮了奇模傳輸和偶模傳輸對(duì)串?dāng)_的影響,,該模型定義了一個(gè)影響因子α,,根據(jù)α大小來確定串?dāng)_影響[6]。HT[7]模型是由張金林提出,,這種模型在MA模型的基礎(chǔ)之上除去冗余項(xiàng),,而改進(jìn)的HT模型[8]是由姜書艷提出,這種模型進(jìn)一步優(yōu)化了HT模型,,使其更簡潔,。針對(duì)這些故障模型出現(xiàn)許多故障測試方法,,其中最常用的測試方法是基于最大攻擊線模型測試方法MAF[9],基本思想是把一根傳輸線作為受害線,,其他的傳輸線都作為攻擊線,,然后測試受害線上的信號(hào)受干擾情況。這種測試方法具有良好的優(yōu)點(diǎn),,測試代碼簡單并且能夠?qū)收线M(jìn)行100%測試,。但這種測試方法需要大量的測試代碼,測試次數(shù)與傳輸線數(shù)目N有關(guān),,測試次數(shù)大,,從而帶來很大的測試開銷。本文基于改進(jìn)的HT模型基礎(chǔ)之上提出一種測試方法只需要進(jìn)行3輪循環(huán),,測試18次即可達(dá)到測試目的,,從而有效減小測試開銷。其次,,根據(jù)改進(jìn)HT模型的故障特征設(shè)計(jì)了測試代碼生成電路,,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明這種測試電路能夠滿足測試要求,并且具有很好的移植能力,,可以用于其他故障模型的測試,。
1 基于改進(jìn)的HT模型串?dāng)_測試方法
一般串?dāng)_故障檢測方法是把一根傳輸線作為受害線,其他的傳輸線都作為攻擊線,,然后測試受害線上的信號(hào)受干擾情況,。例如,在改進(jìn)的HT模型中,,假設(shè)有N根傳輸線,,改進(jìn)的HT模型總共有6種故障模式,總共測試的次數(shù)是6N,。對(duì)于NoC超大規(guī)模集成電路來說其缺點(diǎn)是測試次數(shù)多,,開銷大。
為了減小測試次數(shù),,降低開銷,,提出一種串?dāng)_測試方法。在闡述這種測試方法之前,,先介紹一個(gè)一般性結(jié)論:在對(duì)傳輸線進(jìn)行串?dāng)_分析時(shí),,只需考慮受害線兩側(cè) 2~3根攻擊線的影響[9]。根據(jù)這個(gè)結(jié)論,,提出一種串?dāng)_測試方法,,該測試方法考慮受害線兩側(cè)2根攻擊線的串?dāng)_影響。這種測試方法與傳統(tǒng)測試方法不同,不需要對(duì)所有傳輸線都進(jìn)行測試,,只需3輪循環(huán)測試就能達(dá)到測試目標(biāo),。 傳輸線路簡化圖如圖1所示。
其中實(shí)線表示受害線,,虛線表示攻擊線,。第一輪1號(hào)、4號(hào),、7號(hào)傳輸線作為受害線,,其他2號(hào)、3號(hào)……作為攻擊線,,根據(jù)一般性結(jié)論,,只需要考慮2號(hào)、3號(hào)對(duì)1號(hào)串?dāng)_影響,;2號(hào)、3號(hào),、5號(hào),、6號(hào)對(duì)4號(hào)串?dāng)_影響,以此類推,。第二輪循環(huán),,2號(hào)、5號(hào)傳輸線作為受害線,,其他1號(hào),、3號(hào)、4號(hào)……作為攻擊線,,只需要考慮1號(hào),、3號(hào)、4號(hào)對(duì)2號(hào)串?dāng)_影響,;3號(hào),、4號(hào)、6號(hào),、7號(hào)對(duì)5號(hào)串?dāng)_影響,,以此類推。第三輪循環(huán),,3號(hào),、6號(hào)傳輸線作為受害線,其他1號(hào),、2號(hào),、4號(hào)……作為攻擊線,只需要考慮1號(hào),、2號(hào),、4號(hào),、5號(hào)對(duì)3號(hào)串?dāng)_影響;4號(hào),、5號(hào),、7號(hào)、8號(hào)對(duì)6號(hào)串?dāng)_影響,,當(dāng)進(jìn)行3輪循環(huán)后就能完成所有情況的測試,。
對(duì)于改進(jìn)HT模型的6種故障模式來說,N根傳輸線傳統(tǒng)串?dāng)_測試方法需要測試6N次,,而此方法只需要3*6=18次,,對(duì)于NoC來說傳輸線數(shù)目N很大,這樣這種方法就大大減小了測試次數(shù),,從而很有效地減小了開銷,。傳統(tǒng)方法和本文方法測試次數(shù)比較如圖2。
根據(jù)姜書艷提出的改進(jìn)HT模型設(shè)計(jì)了并行化測試序列如表1,。本文提出的測試序列與測試傳輸線根數(shù)無關(guān),,只需要8個(gè)測試序列(T0~T7)即可,有效減少測試開銷,,縮短檢測時(shí)間,,從而降低了測試數(shù)據(jù)的冗余度,而且這種測試序列能夠很方便地進(jìn)行移植與擴(kuò)展,。
2 改進(jìn)的HT模型仿真測試
2.1 測試序列發(fā)生器
根據(jù)表1的測試序列代碼,,利用Pspice軟件搭建序列發(fā)生器,如圖3所示,。該序列發(fā)生器生成的測試代碼符合改進(jìn)的HT模型所需要的測試代碼要求:攻擊線1測試代碼為01010101,,同理,另一條攻擊線的測試代碼為01010010,,受害線的測試代碼為0111010,。該測試序列可以根據(jù)不同的故障模型需要的測試代碼改變芯片74150的管腳高低電平,從而可以用于其他故障模型的測試代碼生成,,具有很強(qiáng)的移植能力,。
2.2 測試仿真及分析
測試仿真電路搭建的3-傳輸線耦合電路[10]模型如圖4。
測試仿真結(jié)果如圖5~圖8所示,,圖5和圖6分別是攻擊線1和攻擊線2的波形圖,,圖7和圖8分別是受害線被攻擊前和被攻擊后的波形。這里主要分析受害線的受串?dāng)_情況,。分析比較圖7和圖8波形:在3.05 μs和3.90 μs之間出現(xiàn)明顯下降脈沖,;在第1.05 μs與1.75 μs之間和6.07 μs與6.70 μs之間受害線在被攻擊前是從低電平到高電平跳變,而被攻擊后出現(xiàn)明顯的上升延遲;在第4.03 μs與4.85 μs之間和第7.05 μs與7.75 μs之間受害線在被攻擊前是從高電平到低電平跳變,,而被攻擊后出現(xiàn)明顯下降延遲,,仿真結(jié)果符合理論。
3 結(jié)論
本文簡單介紹了NoC中串?dāng)_問題以及相關(guān)串?dāng)_模型,,并基于改進(jìn)HT模型提出一種串?dāng)_測試的方法,。與一般測試方法相比,文中方法能夠有效地降低測試次數(shù),,減小數(shù)據(jù)冗余,,從而達(dá)到降低開銷的目的。根據(jù)改進(jìn)的HT故障種類模型設(shè)計(jì)了一套基于該模型的測試代碼,,根據(jù)測試代碼設(shè)計(jì)了一種測試代碼電路,,并對(duì)測試電路進(jìn)行仿真測試。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,,這種測試電路能夠滿足測試要求,,并且可以用于其他故障模型的測試,具有很好的移植能力,。
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