0 引言

    隨著計算機技術(shù)和集成電路的飛速發(fā)展和廣泛應(yīng)用,，芯片信息安全越來越受重視,。而環(huán)形振蕩器物理不可克隆函數(shù)(RO PUF)在信息安全領(lǐng)域作為一項非常有潛力的技術(shù)，在芯片信息安全領(lǐng)域備受關(guān)注^[1],。傳統(tǒng)RO PUF通過比較放置在同一芯片不同位置的一對環(huán)形振蕩器的頻率來生成輸出0或1,。由于隨機的工藝偏差,輸出位將因芯片的不同而變得無法預(yù)測^[2]。因此,，基于傳統(tǒng)RO PUF的可配置的RO PUF被提出來,。在可配置RO PUF中, 輸出位通過最大頻率差的配置向量生成^[3]，從而可以降低工藝偏差帶來的影響,。

    然而,，不論是傳統(tǒng)RO PUF還是可配置RO PUF都存在一個相同的不足：通過比較兩個環(huán)形振蕩器頻率的不同只能產(chǎn)生一位輸出。為了產(chǎn)生更多的輸出位,，只能不斷增加振蕩器數(shù)量,。雖然頻率比較的方法可以提高輸出位數(shù)，但是有限的芯片資源限制了可配置RO PUF的實際運用^[4],。

    根據(jù)以上不足,，本文提出了動態(tài)可配置多路輸出RO PUF。不僅從根本上增加了輸出位數(shù),，而且可以根據(jù)實際需求確定輸出位的數(shù)量,。同時，振蕩器的結(jié)構(gòu)隨工作條件的變化而相應(yīng)的改變,，因此可以提高芯片的魯棒性和安全性,。

1 多輸出環(huán)形振蕩器

    多輸出環(huán)形振蕩器由反相器,、開關(guān)單元和路徑分配器組成，路徑分配器是動態(tài)可配置多路輸出RO PUF的基礎(chǔ),。多輸出結(jié)構(gòu)的環(huán)形振蕩器如圖1所示,。

    圖1中所有開關(guān)單元都與仲裁器PUF^[5]中的開關(guān)單元一致。如果在開關(guān)S[0..2]配置位是‘1’,，信號將在對應(yīng)的開關(guān)交叉,，否則信號將平行通過。圖1中由3個開關(guān)單元組成的振蕩器共有8(2³=8)種信號傳輸模式,。路徑分配器用以確保信號不會在振蕩器上下路徑之間交叉?zhèn)鞑?，以保證每條路徑的穩(wěn)定振蕩。信號從路徑分配器的輸出端開始傳輸,，通過反相器和開關(guān)單元,，最后回到路徑分配器的輸入引腳。路徑分配器根據(jù)每個信號的配置向量決定信號的流向,，確保信號重新開始流動時，會沿著之前的路徑流動,。不同的配置向量將導(dǎo)致不同的信號傳輸模式,。不同的傳輸模式導(dǎo)致不同傳輸延遲的線路和門電路，從而產(chǎn)生不同的振蕩頻率,。

    相比傳統(tǒng)RO PUF中和可配置RO PUF振蕩器只能產(chǎn)生一位輸出,，該振蕩器只占一個LAB卻可以產(chǎn)生2個輸出位。除此之外,，通過調(diào)整開關(guān)單元的通斷和路徑分配器的信號分配路徑,，該振蕩器還可以產(chǎn)生更多的輸出位。

    圖2表示一對多輸出環(huán)形振蕩器和4個輸出位(RO1-1,、RO1-2,、RO2-1、RO2-2),。RO1和RO2的配置向量相同,。通過邏輯鎖存器，RO1-和 RO2-1具有相同的路徑,。所以RO1-和RO2-1(或RO1-2and RO2-2)唯一的區(qū)別就是物理工藝偏差,。因此，RO1-1和 RO2-1(或RO1-2and RO2-2)頻率比較結(jié)果可以作為一個輸出位,。

    在Xilinx FPGA中進行實驗,，如圖3所示，實驗結(jié)果表明RO1-1和RO1-2在不同配置向量下的輸出頻率,。

    實驗結(jié)果表明,，RO1-1和RO1-2的輸出頻率確實存在差異,。此外，隨著配置向量的不同,，它們的輸出頻率也存在差異,。因此，驗證了多輸出振蕩器結(jié)構(gòu)確實能有效產(chǎn)生多個輸出位,。

    RO1-1和RO2-1的頻率差和RO1-2和RO2-2的頻率差在不同配置向量下的實驗結(jié)果如圖4所示,。可以看出,，RO1-1和RO2-1的頻率差和RO1-2和RO2-2的頻率差是不相關(guān)的,。因此，它們的輸出不相互影響,，可以看作兩個獨立輸出位,。

    表1列出了不同輸出位數(shù)多輸出RO和傳統(tǒng)RO的芯片資源占用情況。第二列表示不同輸出位數(shù)下,，一對多輸出ROs用以產(chǎn)生不同的輸出位的LAB占用數(shù)量,。第三列表示傳統(tǒng)RO產(chǎn)生相對應(yīng)的輸出位數(shù)所占用的LAB數(shù)量?？梢钥闯?，多輸出RO占用的芯片資源更少。例如,，128位輸出需要65個兩位輸出ROs,，占65個LAB，也可以由33個四位輸出ROs產(chǎn)生,，占99個LAB,， 但如果使用傳統(tǒng)的RO結(jié)構(gòu)，則需要129年ROs,，占129個LAB,，所占的LAB數(shù)量是最多的?？梢钥闯?，多輸出RO在芯片資源利用率上具有很大的優(yōu)勢。

2 動態(tài)配置過程模塊

    動態(tài)可配置多路輸出RO PUF的總體結(jié)構(gòu)如圖5所示,。N個兩位輸出的一對環(huán)形振蕩器（ROs）通過比較相鄰ROs的頻率生成2(N-1)個輸出位,。傳感器由五級環(huán)形振蕩器構(gòu)成，振蕩頻率與環(huán)境溫度和電源電壓成線性關(guān)系^[6],。傳感器主要用于檢測芯片工作情況,。為了可以根據(jù)環(huán)境情況動態(tài)調(diào)整相鄰振蕩器的結(jié)構(gòu)，從而確保相鄰的ROs保持一個相對較大的頻率差，當(dāng)環(huán)境溫度和工作電壓超過預(yù)先設(shè)定的閾值時,，F(xiàn)SM控制器^[7]啟動動態(tài)配置過程從而計算出在當(dāng)前環(huán)境下的“最優(yōu)配置向量”,。因此，環(huán)境對輸出位的影響將降低,，從而動態(tài)可配置多輸出RO PUF魯棒性得到提高,。

    “最優(yōu)配置向量”不是簡單的產(chǎn)生最大的頻率差的向量。相反,，它是由ROs的頻率差的分布來決定,。對不同配置向量下所有的ROs的正頻率差進行求和。如果上一個ROs的正頻率差大于下一個ROs的正頻率差,，表明上下兩對ROs的頻率差為正,，選擇可使正頻率差最大的配置向量作為“最優(yōu)配置向量”。相反,，如果上一個ROs的正頻率差小于下一個ROs的正頻率差,，選擇一個對應(yīng)的負頻率差最大的配置向量作為“最優(yōu)配置向量”，從而可以擴大上下頻率差的絕對值,，進而提高比較精度,。

3 實驗結(jié)果

    對10個Xilinx Spartan XC3S1000 FPGA進行數(shù)據(jù)提取，數(shù)據(jù)通過快速單一鏈接（Fast Simple Link）接口傳輸?shù)組icroBlaze中進行處理,。每個FPGA通過65個ROs產(chǎn)生128位的輸出,。每個輸出測量50次。分別對傳統(tǒng)RO PUF,、可配置RO PUF和動態(tài)可配置多輸出RO PUF進行數(shù)據(jù)分析。

    RO PUF的平均片間漢明距離比例[8]可以表征同一類型PUF電路與其他個體的區(qū)分度,。其計算方式如式(1),。

    其中h_ij表示第i和第j個PUF電路產(chǎn)生的位輸出相應(yīng)，k是FPGA的個數(shù),。提取數(shù)據(jù)后計算可得不同RO PUF的平均片間漢明距離比例如表2所示,。

    對比以上3種RO PUF對總的位數(shù)輸出相應(yīng)的平均片間漢明距離比例結(jié)果可以看出，3種RO PUF的平均片間漢明距離比例都接近理想的50%,動態(tài)可配置多輸出RO PUF片間漢明距離比例最高,。但3種RO PUF都表現(xiàn)出良好的唯一性,。因此，3種RO PUF的輸出都可以作為每個芯片ID,。

    片內(nèi)漢明距離可以描述PUF系統(tǒng)的魯棒性和可靠性，其計算如式（2）所示。

    其中,，M為不同工作環(huán)境的個數(shù),，h_ri表示在理想工作條件(25 ℃，1.2 V)下和第i種工作情況對比條件下的n位輸出響應(yīng)。由于魯棒性和可靠性主要受環(huán)境溫度和電源電壓的影響,。讓所使用的Xilinx FPGA分別工作在固定工作環(huán)境下和變化的工作環(huán)境下進行參數(shù)提取,，分別對其片內(nèi)漢明距離進行檢測。

    (1)固定環(huán)境溫度和電源電壓情況下

    在30 ℃,，1.2 V接近理想工作環(huán)境下進行參數(shù)提取,，不同RO PUF結(jié)構(gòu)的平均片內(nèi)漢明距離如表3所示。

    在接近FPGA標(biāo)準(zhǔn)工作條件下,，測試誤差和片內(nèi)噪聲是影響其魯棒性的主要因素^[9],。由表可以看出，可配置RO PUF可以將該RO PUF對誤差和噪聲影響降至幾乎0,。

    (2)變化的環(huán)境溫度和電源電壓情況下

    現(xiàn)實條件下,，芯片的工作環(huán)境溫度和電源電壓總是在不斷的變化之中。因此,，降低環(huán)境溫度和電源電壓對芯片ID提取的影響意義重大,。表4列出環(huán)境溫度從-30 ℃變化到+70 ℃，電壓1.15 V變化到1.25 V時,，3種RO PUF的平均片內(nèi)漢明距離比例變化情況,。雖然在溫度變化時，動態(tài)可配置RO PUF在ID提取上沒有很大優(yōu)勢,，但是電源電壓改變時,可配置多輸出RO PUF在位翻轉(zhuǎn)率最低,，可更加精確地提取芯片ID。

4 結(jié)論

    本文結(jié)合針對傳統(tǒng)RO PUF和可配置RO PUF輸出位數(shù)不足,，占用芯片資源過多的現(xiàn)實情況,，在可配置RO PUF的基礎(chǔ)上改進，提出了動態(tài)可配置多輸出RO PUF,，在提高輸出位數(shù)和節(jié)約芯片資源的同時,，還提高了系統(tǒng)的唯一性和魯棒性，進而可提高提取芯片ID的精度,。對應(yīng)用RO PUF進行芯片知識產(chǎn)權(quán)（IP核）保護意義重大,。

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作者信息：

劉勇聰,，王建業(yè),，丁  浩

（空軍工程大學(xué) 防空反導(dǎo)學(xué)院，陜西 西安710051）