電腦現(xiàn)在已經(jīng)是我們生活,、工作中必不可少的工具，而電源作為電腦的關(guān)鍵部件,，不僅僅在性能上要符合相關(guān)的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn),，而且它的負(fù)載能力,、可靠性以及對于主板以及外設(shè)的兼容性都對整機(jī)系統(tǒng)的可靠穩(wěn)定運(yùn)行有很大的影響。

　　本文引用地址: http://www.21ic.com/np/test/201808/808508.htm

　　在電腦電源的眾多測試項(xiàng)目中,，時(shí)序特性測試以及動態(tài)測試這2項(xiàng)關(guān)鍵測試都需要有一臺功能強(qiáng)大,，測試精度高的電子負(fù)載。ITECH的明星產(chǎn)品IT8700系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載動態(tài)測試可達(dá)25KHZ,，測量分辨率可達(dá)0.1mV 0.01mA,，近期又推出了了IT8701雙路主機(jī)框，用戶可根據(jù)通道數(shù)和功率需求在8款負(fù)載模組中自由選配,，最多可滿足16通道的測試需求,，在電子元器件、ATE測試系統(tǒng),、太陽能電池,、LED,、通訊測試,、航空航天等多個測試領(lǐng)域?yàn)橛脩魩砭珳?zhǔn)的測試測量,。

　　時(shí)序特性測試

　　PC電源不僅輸出電壓，還要與主板有信號聯(lián)系,，兩者在時(shí)間次序上有一定的關(guān)系,，這就叫做時(shí)序，時(shí)序是電源與主板良好配合的重要條件,，也是導(dǎo)致電腦無法正常開關(guān)機(jī)以及電源與主板不兼容問題的最常見原因,。

　　時(shí)序中最重要的是電源輸出電壓與P.G信號和PS-ON#信號之間的關(guān)系。P.G信號由電源控制,，代表電源是否已經(jīng)準(zhǔn)備好,，PS_ON#信號則由主板控制，表示是否要開機(jī),。PC電源的電壓必須依一定時(shí)序要求響應(yīng)輸出電腦主板(如CPU,、硬盤等器件)，才能處理信息,，如下圖：

　　圖1 PC電源電壓時(shí)序圖

　　對應(yīng)的時(shí)序要求如下：

　　測試方法如下：

　　1.啟動時(shí)間：要求T1 <500mS,，滿載，正常供電電壓,，以PS/ON作開機(jī),，+12V、+5V&+3.3V上升到95%標(biāo)稱值的時(shí)間為T1,。

　　2. +5V,、+12V和+3.3V上升沿時(shí)間：要求0.1mS≤T2≤20 mS，以PS/ON作開機(jī),，分別在供電電壓下限,、正常和上限各測一次，取最差的一次,。

　　3. P.G延時(shí)：要求100mS< T3<500mS,，滿載低壓和正常電壓各測量一次，以PS/ON作為開/關(guān)機(jī),。

　　4. P.G維持時(shí)間：要求T5 ≥16mS,，滿載，正常供電電壓,，關(guān)斷AC供電測量,。

　　5.P.G跌落警告時(shí)間：要求T6≥1mS，滿載,，正常供電電壓,，關(guān)斷AC和PS/ON，各測量一次。

　　注：上升沿,、下降沿時(shí)間,，均是指標(biāo)稱值10%～95%區(qū)間的時(shí)間。

　　在進(jìn)行以上時(shí)序測試時(shí),，由于IT8700系列特有的同步拉載功能,，很好的控制負(fù)載的同步拉載(同步時(shí)間可達(dá)到小于10us)，同時(shí)配合該系列內(nèi)置的GPIB通訊接口可以實(shí)現(xiàn)同步拉載的輸出,。

　　圖2 IT8700系列電子負(fù)載

　　在實(shí)際測試時(shí)由于測試線存在阻抗,，會產(chǎn)生壓降。IT8700 系列為了保證測量精度,，自帶遠(yuǎn)端量測功能,，用戶可以用該端子來測量被測儀器的輸出端子電壓，用遠(yuǎn)端量測接線法來補(bǔ)償線上壓降,，可以大大提高測量的精度,。

　　動態(tài)測試

　　實(shí)際上一個定電壓輸出的電源，于設(shè)計(jì)中具備反饋控制回路,，能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓,。由于實(shí)際上反饋控制回路有一定的頻寬，因此限制了電源供應(yīng)器對負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng),。若控制回路輸入與輸出之相移與增益為1 時(shí),，超過180度，則電源供應(yīng)器之輸出便會呈現(xiàn)不穩(wěn)定,，失控或震蕩等現(xiàn)象,。電腦在工作時(shí)，電流是動態(tài)變化的,，而不是始終維持不變的,，因此動態(tài)負(fù)載測試對PC電源是極其重要的。

　　可編程電子負(fù)載可用來模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)最惡劣的負(fù)載情況,，如負(fù)載電流迅速上升,，下降之斜率，周期等,。 IT8700系列高達(dá)25KHZ的動態(tài)模式,，可仿真電腦各不同運(yùn)行狀態(tài)下電流的變化，以對電源的動態(tài)特性進(jìn)行測試,。

　　圖3 負(fù)載電流動態(tài)圖

　　艾德克斯電子一直致力于“功率電子”產(chǎn)品為核心的相關(guān)產(chǎn)業(yè)測試領(lǐng)域的研究,，IT8700系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載繼承了艾德克斯產(chǎn)品一貫的高性能、高品質(zhì),，采取模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),，擁有全球獨(dú)創(chuàng)動態(tài)分配功率的技術(shù),，高達(dá)100KHZ的List模式，25KHz 動態(tài)模式,，能滿足PC電源的時(shí)序特性以及動態(tài)特性的測試,，為PC電源的質(zhì)量提供保障。