車輛采用的電子系統(tǒng)IC復(fù)雜性逐漸提高,，希望借由執(zhí)行人工智能(AI)算法控制自駕功能,，同時也需滿足《道路車輛功能安全ISO 26262》標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱《ISO 26262》）要求,。因此,，IC設(shè)計公司也正快速采用完整性的測試解決方案,，以便達到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求,。

　　確保車輛電子能穩(wěn)定的作法之一就是在功能運轉(zhuǎn)期間執(zhí)行定期測試,，也就是在邏輯與存儲器利用內(nèi)建自我測試(Built-in Self Test,；BIST),。邏輯BIST也是ISO 26262執(zhí)行診斷測試的推薦機制,，其包含應(yīng)用在掃描鏈的芯片產(chǎn)生隨機模式，但在車用IC執(zhí)行BIST仍有挑戰(zhàn),。

　　首先是符合診斷測試時間間隔(DTI)侷限,，其次是打造邏輯BIST，以便滿足測試排程,，第三是建立應(yīng)用等級存取所有芯片邏輯BIST以及啟動市場反饋診斷,。

　　《ISO 26262》指出，DTI必須介于100至幾微秒之間,，這對于車用安全完整性等級中最嚴(yán)格的D標(biāo)準(zhǔn)是一項挑戰(zhàn),。另外，《ISO 26262》也定義當(dāng)錯誤發(fā)生到錯誤帶來有害后果的一段時間,。因此,，為了符合DTI，測試必須平行執(zhí)行,，但執(zhí)行平行測試是架構(gòu)挑戰(zhàn),，可能會打破設(shè)計的功率預(yù)算。

　　所有功能安全監(jiān)控與系統(tǒng)內(nèi)測試活動,，通常是由在專用或共享CPU上執(zhí)行的軟件驅(qū)動,，直接從軟件層存取測試機制可減緩開發(fā)流程壓力與降低測試延遲。此外,，能發(fā)現(xiàn)故障的電路相當(dāng)重要,，特別是牽涉法律責(zé)任的市場反饋。系統(tǒng)內(nèi)測試解決方案必須能夠執(zhí)行相同測試,，且收集更多與制造測試檔案類似的測試細節(jié),。如此電路便可被診斷去發(fā)現(xiàn)故障根本原因。

　　隨著裝置尺寸與復(fù)雜性不斷增加,，滿足《ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)》的質(zhì)量與可靠性要求變得更加困難,，因此，在IC設(shè)計過程的早期便應(yīng)考慮到設(shè)計測試活動,。在先進可測試性設(shè)計(DFT)流程中采用邏輯BIST,，則可幫助廠商達到質(zhì)量與可靠性指標(biāo)及產(chǎn)品差異化,。車用安全相關(guān)IC的DFT則可透過EDA供應(yīng)商提供的全面ISO 26262認證自動化給予輔助。