冰箱,、洗衣機,、空調等白色家電日趨智能化，Wi-Fi等通信功能配置越來越多,，顯示器也向大型化,、多功能化發(fā)展，這都帶來了待機功耗和工作功耗的增加,。而與此同時,，對產(chǎn)品節(jié)能環(huán)保的要求在不斷提高。如針對待機功耗,，歐盟2013年規(guī)定了0.5 W的MEPS( 最低能效標準),。這對家電電源設計提出了挑戰(zhàn)，降低待機功耗成為業(yè)內不斷努力的目標,。

        白色家電的電源設計中,，過零檢測電路是重要的一部分，也是待機功耗的主要來源之一,。過去對于削減待機功耗,，主要努力方向是針對電源IC（AC/DC,DC/DC），而對電源IC以外的部分（電機應用為例：過零檢測電路和電機輸入電壓檢測）,，多年來一直沒什么改變,。

        以采用光耦過零檢測電路的電機應用方案為例,，電源部分總的待機功耗約為1.7 W，其中電源IC（AC/DC,DC/DC）約為0.7 W,，電機輸入電壓檢測部分約為0.35 W,，過零檢測電路部分約0.65 W。

        除了待機功耗,，采用光耦的過零檢測電路還有另外兩個弊端：（1）光耦利用光學器件傳輸信號時,，存在時間延遲，會造成功率損失,，轉換效率也較差,；（2）發(fā)光二極管存在樹脂等材料，會隨時間老化,，造成可靠性問題,。

        盡管光耦過零檢測電路有上述不足，但一直未有更好的替代方案,。近日,，這一問題終于找到答案，那就是來自羅姆（ROHM）的“黑科技”——過零檢測IC“BM1Z001FJ系列”,。

        ROHM半導體（北京）有限公司青島分公司經(jīng)理徐濟煒介紹道,，ROHM一直以來著眼于過零檢測部分方案改進并推出過零檢測IC，過零檢測芯片一舉解決了光耦過零檢測方案的三大不足,，對于對待機功耗有較高要求的應用場景,，將帶來突破性的改善。

        首先,，采用新方案的過零檢測電路待機功耗僅為0.01 W,，這使得采用BM1Z001FJ系列芯片方案的電源設計的待機功耗能夠降低將近一半。對于電機應用方案效果則更為顯著,，因為芯片集成了輸入電壓檢測功能,，待機功耗能夠由光耦方案的1.7 W降為0.71 W,，同時,，所需元器件數(shù)量也大幅降低，有助于減小產(chǎn)品設計尺寸,。

        徐濟煒介紹道,，新產(chǎn)品的第二個特點，就是大幅減少延遲時間,。過零檢測電路輸入AC過零的時候要給MCU一個控制信號,，延遲時間越長，控制得越不精準,，導致功率的損耗和控制誤差就會越大,。光耦檢測電路和過零檢測IC相比,，光耦的檢測電路延遲的時間要比過零檢測IC延遲的時間要大得多，而且它會隨著輸入電壓的變化而變化,。徐濟煒介紹道,，ROHM過零檢測IC方案的延遲時間可以控制到50 μs以內。

        徐濟煒介紹道,，過零檢測IC的第三個特點是可以輕松替換以前的過零檢測電路,。ROHM目前推出的多款過零檢測IC系列產(chǎn)品，既有適合用于普通的整流方式的,，也有適合于倍壓的整流方式,，在輸出方面，既有支持脈沖的觸發(fā)方式,，也有支持邊緣的觸發(fā)方式,，所以無論原來的應用方式如何，都可輕松替換,。

        此外,，BM1Z001FJ系列IC的內部還有一個電壓鉗位的功能，可以保證過零檢測IC輸出給MCU的電壓不會超過MCU最大的額定電壓,，保證整個后端的MCU不會因為輸入電壓過高而導致?lián)p壞,，這提高了整個方案的可靠性。

        對于過零檢測IC的未來發(fā)展,，徐濟煒介紹道,，ROHM正在研發(fā)過零檢測IC與AC/DC 封裝的方案，進一步提高產(chǎn)品的集成度,。