《電子技術(shù)應(yīng)用》
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一種低成本VPX背板總線測試設(shè)備
2020年電子技術(shù)應(yīng)用第10期
馬力科
中國電子科技集團(tuán)公司第十研究所，四川 成都610036
摘要： 分析了常見高速串行總線測試方案的優(yōu)缺點(diǎn),，針對VPX高速背板結(jié)構(gòu)和信號定義特征,，提出了一種低成本的VPX背板高速串行總線的測試方法,。該方法以FPGA為運(yùn)算核心,，通過巧妙的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和高速串行電路設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了單次同時測試最多16對高速收發(fā)通道,，且可進(jìn)行高速串行總線從物理層,、鏈路層到協(xié)議層的信號誤碼率測試和眼圖測試，每通道測試速率可大于10 Gb/s,。
中圖分類號： TN802,；TN98
文獻(xiàn)標(biāo)識碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200063
中文引用格式： 馬力科. 一種低成本VPX背板總線測試設(shè)備[J].電子技術(shù)應(yīng)用,，2020，46(10)：69-72,，78.
英文引用格式： Ma Like. A low cost test equipment for high speed bus on VPX backplane[J]. Application of Electronic Technique,，2020，46(10)：69-72,，78.
A low cost test equipment for high speed bus on VPX backplane
Ma Like
China Electronics Technology Group Corporation No.10 Research Institute,，Chengdu 610036，China
Abstract： The advantages and disadvantages of common high-speed serial bus test schemes are analyzed. Aiming at the characteristics of VPX high-speed backplane structure and signal definition, a low-cost VPX backplane high-speed serial bus test method is proposed. It takes FPGA as the operation core, with ingenious structure design and high-speed serial circuit design, it can test up to 16 pairs of high-speed transceiver channels each time, and can test the signal error rate and eye chart of high-speed serial bus from physical layer, link layer to protocol layer, and the test rate of each channel can be greater than 10 Gb/s.
Key words : VPX backplane,；high-speed bus,；signal integrity；signal error rate

0 引言

    隨著高速數(shù)據(jù)總線在嵌入式信號處理領(lǐng)域的廣泛使用,，嵌入式系統(tǒng)歷經(jīng)了從并行總線PCI,、CPCI、VME,、VXS,，到高速串行總線CPCIe、VPX的演進(jìn),。特別是自2006年VITA46系列VPX基本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范發(fā)布以來,，VITA組織此后又陸續(xù)發(fā)布了VITA48 REDI加固增強(qiáng)機(jī)械設(shè)計(jì)規(guī)范，對VPX結(jié)構(gòu)加固和散熱進(jìn)行了規(guī)范,，解決了由于模塊性能提高帶來的功耗增加問題并提供了相應(yīng)的風(fēng)冷和加固導(dǎo)冷措施,；而VITA65 OpenVPX規(guī)范進(jìn)一步對VPX的機(jī)械尺寸、供電方式,、散熱方式和通信協(xié)議進(jìn)行了規(guī)定,，并補(bǔ)充了背板、模塊等的標(biāo)準(zhǔn)架構(gòu),，真正成為了一種具有開放式架構(gòu)的信號處理平臺,。最新的VPX規(guī)范已更新至VITA65.1[1]。

    VPX由于其平臺靈活性,、更高的傳輸帶寬和靈活的交換能力,，得到了廣泛的推廣，而VPX之所以具有如此強(qiáng)大的通信帶寬和交換能力,，其核心在于其采用了高速串行數(shù)據(jù)總線,。高速串行總線以低壓差差分信號傳輸，可通過單線1x或多線2x,、4x,、8x、16x等方式傳輸,，且單線傳輸速率可覆蓋1.25 Gb/s~12.5 Gb/s以上[2],。當(dāng)數(shù)據(jù)信號傳輸速率達(dá)到Gb/s數(shù)量級以上后,，高速信號完整性設(shè)計(jì)就是不可忽略的了，而如何對高速機(jī)箱背板的信號完整性進(jìn)行測試驗(yàn)證,，將是決定系統(tǒng)和設(shè)備是否可以可靠使用的關(guān)鍵[3],。

    針對這一問題，傳統(tǒng)的信號完整性測試方法,，需要若干臺價格昂貴的儀器設(shè)備測試,，價格超過百萬元，還只能每次測試一對信號線,，測試效率低,。本文針對VPX高速背板的特征，提出了一種低成本的VPX背板高速串行總線測試方法,，可方便地一次性對多根高速信號線進(jìn)行物理層,、鏈路層、協(xié)議層測試,，更加貼近實(shí)際使用環(huán)境,，既靈活又節(jié)約了成本。




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馬力科

(中國電子科技集團(tuán)公司第十研究所,，四川 成都610036)

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