《電子技術(shù)應(yīng)用》
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輻射源識(shí)別技術(shù)發(fā)展研究
信息技術(shù)與網(wǎng)絡(luò)安全 10期
徐晉凱,謝 鈞
(陸軍工程大學(xué) 指揮控制工程學(xué)院,,江蘇 南京210007)
摘要: 輻射源識(shí)別作為電子偵察的一個(gè)重要研究方向,,有著廣闊的前景與應(yīng)用意義,。對(duì)國(guó)內(nèi)外輻射源識(shí)別研究成果進(jìn)行梳理,,基于通信設(shè)備與信號(hào)類(lèi)型對(duì)輻射源識(shí)別進(jìn)行分類(lèi),,其次針對(duì)輻射源識(shí)別特征提取方法進(jìn)行歸納總結(jié),最后對(duì)輻射源識(shí)別研究現(xiàn)有問(wèn)題進(jìn)行分析,。
中圖分類(lèi)號(hào): TN97
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI: 10.19358/j.issn.2096-5133.2021.10.001
引用格式: 徐晉凱,,謝鈞. 輻射源識(shí)別技術(shù)發(fā)展研究[J].信息技術(shù)與網(wǎng)絡(luò)安全,,2021,,40(10):1-7.
Research on the development of specific emitter identification
Xu Jinkai,Xie Jun
(Command & Control Engineering College,,Army Engineering University of PLA,,Nanjing 210007,China)
Abstract: As an important research direction of electronic reconnaissance, specific emitter identification has broad prospects and application significance. This paper sorts out the research results of specific emitter identification at home and abroad, classifies specific emitter identification based on communication equipment, then summarizes the specific emitter identification methods, and finally analyzes the future research of radiation source identification.
Key words : specific emitter identification,;feature extraction,;deep learning;signal processing

0 引言

20世紀(jì)60年代美國(guó)基于對(duì)移動(dòng)信號(hào)目標(biāo)追蹤與確認(rèn)的需求,,提出發(fā)展輻射源個(gè)體識(shí)別技術(shù)或稱(chēng)特定輻射源識(shí)別,。經(jīng)過(guò)多年的研究發(fā)展,2003年由Talbot等人[1]首次提出了輻射源個(gè)體識(shí)別系統(tǒng)的結(jié)構(gòu),,其主要包括三個(gè)部分:(1)信號(hào)的接收與預(yù)處理部分,,包含射頻系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng),。(2)信號(hào)的特征提取部分,,特征提取系統(tǒng)。(3)分類(lèi)與識(shí)別部分,,包含分類(lèi)器,、驗(yàn)證系統(tǒng)、類(lèi)管理系統(tǒng)和輻射源數(shù)據(jù)庫(kù),。輻射源個(gè)體識(shí)別是指對(duì)空間中傳播的信號(hào)進(jìn)行特征測(cè)量,,根據(jù)已有的先驗(yàn)信息確定產(chǎn)生信號(hào)的輻射源個(gè)體,。指紋特征是由發(fā)射機(jī)內(nèi)硬件工作時(shí)產(chǎn)生,若提取的指紋特征滿(mǎn)足普遍性,、唯一性,、穩(wěn)定性、獨(dú)立性和可測(cè)性,,將有利于個(gè)體識(shí)別的準(zhǔn)確率提高,,因此大量的學(xué)者進(jìn)行指紋提取的研究。輻射源個(gè)體識(shí)別對(duì)于頻譜資源管理和無(wú)線網(wǎng)絡(luò)安全等方面有著重大的研究意義,。本文將從三個(gè)方面進(jìn)行回顧分析輻射源個(gè)體識(shí)別現(xiàn)狀:(1)針對(duì)輻射源設(shè)備類(lèi)型進(jìn)行分析,。(2)針對(duì)接收信號(hào)類(lèi)型進(jìn)行分析。(3)針對(duì)指紋特征提取方法進(jìn)行分析,。




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作者信息:

徐晉凱,,謝  鈞

(陸軍工程大學(xué) 指揮控制工程學(xué)院,江蘇 南京210007)


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