文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.211819
中文引用格式: 胡長(zhǎng)征,,馬偉,,高清運(yùn),等. 一種新型自毀芯片監(jiān)測(cè)和執(zhí)行電路的設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2022,,48(2):23-27.
英文引用格式: Hu Changzheng,,Ma Wei,Gao Qingyun,,et al. Design of a new type of self-destruct chip monitoring and execution circuit[J]. Application of Electronic Technique,,2022,48(2):23-27.
0 引言
當(dāng)前自毀技術(shù)應(yīng)用廣泛,在無人機(jī)的偵察系統(tǒng),、機(jī)密數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)設(shè)備[1]以及關(guān)鍵芯片,、電子政務(wù)和金融等領(lǐng)域都有很好的應(yīng)用[2]。2016年,,Jin-Woo Han等人提出了一種自毀式鰭片觸發(fā)器驅(qū)動(dòng)的晶體管,,在需要芯片自毀時(shí),向觸發(fā)柵極施加觸發(fā)電壓,,產(chǎn)生的靜電彎曲應(yīng)力將破壞鰭片的源-漏延伸區(qū)域,,使晶體管斷開,電路失去原本功能,。2017年,,解放軍海軍醫(yī)學(xué)研究所提出一種新的自觸發(fā)方法,這種方法是在監(jiān)測(cè)電路感知到設(shè)備外殼上的螺絲被擰下時(shí)[3],,產(chǎn)生高電流信號(hào)使芯片燒毀,。2018年長(zhǎng)春聞鼓通信公司通過控制端發(fā)出自毀命令[4]時(shí),芯片保護(hù)電路內(nèi)部產(chǎn)生高壓擊毀芯片,,以此達(dá)到防止信息泄露的目的,。
在大多數(shù)自毀設(shè)計(jì)和應(yīng)用中,自毀監(jiān)測(cè)的方式一直被忽視,,導(dǎo)致自毀監(jiān)測(cè)方式單一,,準(zhǔn)確靈敏性較低。同時(shí)在監(jiān)測(cè)到自毀狀態(tài)到產(chǎn)生自毀信號(hào),,開始執(zhí)行自毀的整個(gè)過程時(shí)間較長(zhǎng),,且其自毀程度不夠徹底,,有時(shí)只能停止電路的正常工作,不能真正地破壞芯片數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)模塊,。
本設(shè)計(jì)針對(duì)自毀監(jiān)測(cè)方式和自毀信號(hào)產(chǎn)生速度的問題,,基于閾值判斷等算法[5],提出了一種新型自毀芯片監(jiān)測(cè)和執(zhí)行電路系統(tǒng),,可以通過封裝拆卸和上電時(shí)序[6],,對(duì)芯片工作環(huán)境進(jìn)行監(jiān)測(cè),同時(shí)利用閾值判斷等算法對(duì)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理,,產(chǎn)生自毀執(zhí)行信號(hào),,在較短的時(shí)間內(nèi)執(zhí)行自毀。
本文詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)下載:http://forexkbc.com/resource/share/2000003961,。
作者信息:
胡長(zhǎng)征,,馬 偉,高清運(yùn),,胡偉波
(南開大學(xué) 電子信息與光學(xué)工程學(xué)院,,天津300350)