文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223702
引用格式: 袁金煥,,王艷玲,,孫麗娟,等. 基于CPS的微系統(tǒng)模塊DDR3信號(hào)PISI分析[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,,2023,,49(11):62-68.
【引言】
現(xiàn)有DDR3信號(hào)仿真方法,對(duì)簡(jiǎn)單2D結(jié)構(gòu)的PCB板來(lái)說(shuō),,板材及結(jié)構(gòu)單一,,已形成很多成熟的規(guī)范及仿真指導(dǎo)方法。QJ3103A-2011印制電路板設(shè)計(jì)要求中對(duì)過(guò)孔及電流密度均有明確合格判定標(biāo)準(zhǔn),,在Mentor公司Hyperlynx和Ansys公司的Siwave軟件中也有成熟的仿真流程,。然而,微系統(tǒng)模塊中采用新型材料以及復(fù)雜3D堆疊結(jié)構(gòu)的TSV板,、微模組,、管殼。在一個(gè)封裝內(nèi)通過(guò)基板互連成為一個(gè)完整的復(fù)雜功能芯片[1],,IC裸芯片管腳數(shù)目,、基板上集成的裸芯片和無(wú)源元件越來(lái)越多,基板層數(shù),、布線密度,、傳遞的信號(hào)頻率均迅速提升[2]。信號(hào)通路經(jīng)過(guò)TSV轉(zhuǎn)接板的走線,、TSV孔,、焊球、管殼基板的走線,、過(guò)孔,、焊球,到另一個(gè)硅轉(zhuǎn)接板,;模塊應(yīng)用時(shí)還需要對(duì)外引出到達(dá)PCB板的走線,、過(guò)孔和芯片,;信號(hào)完整性仿真是一個(gè)發(fā)送芯片-信號(hào)通道-接收芯片的系統(tǒng)概念,微系統(tǒng)內(nèi)分部件和PCB板要協(xié)同進(jìn)行PISI仿真和優(yōu)化,;并需要分析3D堆疊結(jié)構(gòu)中提取S參數(shù)方可達(dá)到仿真精度的方法以及電源直流和交流分析的合格判定標(biāo)準(zhǔn)等,。目前微系統(tǒng)模塊對(duì)PISI均無(wú)成熟的分析方法及判定標(biāo)準(zhǔn)。
本文提出基于CPS的微系統(tǒng)模塊DDR3信號(hào)電源完整性和信號(hào)完整性分析方法,,能夠進(jìn)行3D堆疊結(jié)構(gòu)TSV硅基板,、管殼、微模組分部件的仿真建模,、疊層設(shè)置,、Solder Ball參數(shù)設(shè)置;分部件電源PI的DC分析,,并指出TSV板和管殼合并集成分析的優(yōu)點(diǎn)及判定依據(jù),;分部件結(jié)合PCB板基于CPS的AC低阻抗PDN的PI分析;微系統(tǒng)中從發(fā)送芯片-信號(hào)通道-接收芯片全鏈路DDR3信號(hào)SI分析,。本案依據(jù)一款NOP微系統(tǒng)和測(cè)試PCB板進(jìn)行詳細(xì)分析說(shuō)明,。
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【作者信息】
袁金煥,王艷玲,,孫麗娟,,楊巧,殷麗麗
(西安微電子技術(shù)研究所,,陜西 西安710065)