DigRF準(zhǔn)備替換RF與基帶半導(dǎo)體器件之間的兩種主要形式的數(shù)據(jù)通信路徑：模擬信令" title="信令">信令,，以及針對具體設(shè)計(jì)的私有數(shù)字信令（并行或串行）,。MIPI（移動業(yè)處理器接口）聯(lián)盟正在致力于采用DigRF（數(shù)字射頻）標(biāo)準(zhǔn)，用一種基于分組的公共數(shù)字串行接口代替各種類型的I/Q（同相位/正交相位）信令接口,。一個(gè)MIPI聯(lián)盟工作小組已開發(fā)了用于2.5G和3G手機(jī)標(biāo)準(zhǔn)的DigRF規(guī)范,，預(yù)計(jì)其后版本會增加支持4G標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)流量。

　　使用DigRF這種標(biāo)準(zhǔn)接口可以使設(shè)計(jì)者在元件選擇時(shí)有更多的靈活性,。例如,，一名設(shè)計(jì)者可能準(zhǔn)備從某家供應(yīng)商采購一種高價(jià)的基帶IC（可能是手機(jī)中最貴的芯片之一），而從其它供應(yīng)商處購買RF,、電源管理和其它器件,。然而，DigRF技術(shù)在促成通用產(chǎn)品的極端靈活性時(shí)也帶來了挑戰(zhàn),，會影響到你的測試策略,。

　　在RF接收測試期間，測試工程師" title="測試工程師">測試工程師的主要目標(biāo)還與DigRF以前相同,，即捕獲I/Q信息,，對獲得的數(shù)據(jù)集執(zhí)行定制的數(shù)字信號處理算法，并記錄參數(shù)化結(jié)果，以確定設(shè)備是否合格,。但與前代RFIC相比較,，DigRF器件可能給生產(chǎn)測試" title="生產(chǎn)測試">生產(chǎn)測試增加大量開銷。尋找盡可能減少這種開銷的方式,，就成為工程師在設(shè)計(jì)自動化生產(chǎn)測試系統(tǒng)時(shí)所面臨的主要挑戰(zhàn),。

　　理解接口

　　DigRF 3G定義了實(shí)現(xiàn)接口所需要的最小信號數(shù)；一個(gè)基本的手機(jī)配置只需要6根線（圖1）,。RxData/TxData信號在一個(gè)分組協(xié)議中傳送I/Q數(shù)據(jù)以及控制與狀態(tài)消息的數(shù)字表示,。

圖1. 基本的DigRF手機(jī)配置只需要6根線。

　　以DigRF信號傳輸?shù)臄?shù)據(jù)被封裝在協(xié)議包或稱幀內(nèi),。每個(gè)幀都包括三部分：同步（sync）,，頭（header），與有效載荷（payload）（圖2）,。每個(gè)包的開始都有相同的16 bit同步序列,，數(shù)字接收電路用它對每個(gè)幀做實(shí)時(shí)選通相位的對準(zhǔn)。

　　接下來的8個(gè)位是頭,，它定義有效載荷的作用與內(nèi)容,。頭本身由三部分構(gòu)成：3位表示有效載荷的大小，4位描述LCT（邏輯信道類型）,，1位表示CTS（清除發(fā)送）信號,。

圖 2. DigRF 3G數(shù)據(jù)幀開始于一個(gè)16 bit同步序列,，后面是一個(gè)8 bit頭和I、Q數(shù)據(jù),。

　　不同數(shù)據(jù)包的有效載荷部分有大小變化,，從而產(chǎn)生不同級別的編碼開銷。LCT定義了有效載荷中包含的內(nèi)容,，以及可分類為控制數(shù)據(jù)或I/Q數(shù)據(jù)的內(nèi)容,。CTS允許在RF發(fā)射期間，由RF設(shè)備控制來自基帶的數(shù)據(jù)流,。
幀中余下的N位就包含了要傳輸?shù)膶?shí)際數(shù)據(jù),。例如，在DigRF 3G的非分集模式下,，RxData幀將使用數(shù)據(jù)信道C和256 bit有效載荷,，包含8 bit的交替I數(shù)據(jù)和Q數(shù)據(jù)。

　　DigRF 3G支持?jǐn)?shù)字傳輸下的三種時(shí)序模式,，具體取決于被傳輸RF信息的類型（表1）,。DigRF標(biāo)準(zhǔn)還支持三種公共的輸入基準(zhǔn)時(shí)鐘頻率（19.0 MHz,、26.0 MHz和38.4 MHz）；時(shí)鐘通過SysClk信號送至基帶,。與速度模式無關(guān)，DigRF處理器會用一個(gè)本地的FIFO緩沖管理數(shù)據(jù)流,，當(dāng)傳輸幀時(shí)會產(chǎn)生一個(gè)無法預(yù)測的時(shí)序,。

　　生產(chǎn)測試的挑戰(zhàn)

　　對采用DigRF協(xié)議器件作成功測試的關(guān)鍵是要找到一種方式，能在RF接收測試期間管控RxData包的不確定性狀態(tài),。在對DigRF產(chǎn)品作RF接收測試期間,，能觀察到RxData信號合成狀態(tài)的多級不確定性：

•相位時(shí)序；
•幀時(shí)序,；
•幀類型,；
•有效載荷中的數(shù)據(jù)。

　　312 Mbps的數(shù)據(jù)速率來自于一個(gè)1248 MHz主時(shí)鐘（一般由PLL生成）的1/4分頻器,。在生產(chǎn)性測試系統(tǒng)中,，考慮到影響RF前端的相位噪聲性能的重要性，器件的時(shí)鐘輸入應(yīng)由RF儀器提供,。與普通數(shù)字子系統(tǒng)相比較,，這個(gè)時(shí)鐘源的起始相位通常是不可控的。DUT（待測設(shè)備）的輸入時(shí)鐘相位未定,，PLL倍頻器/分頻器產(chǎn)生的相位也不確定,，兩者結(jié)合導(dǎo)致RxData輸出時(shí)序無法預(yù)測，包括器件各上電循環(huán)之間,，以及多地點(diǎn)并行測試配置中的不同器件之間的輸出時(shí)序,。

　　一種生產(chǎn)型測試儀應(yīng)有這種能力，即在各次測試間對測試儀硬件和DUT作必要修改時(shí),，仍保持?jǐn)?shù)字子系統(tǒng)的運(yùn)行,。它使測試儀能夠維持相對于DUT輸出的選通時(shí)序，避免在正式運(yùn)行中的選通相位重調(diào),，節(jié)省了測試時(shí)間" title="測試時(shí)間">測試時(shí)間,。
下一個(gè)重要的測試挑戰(zhàn)是尋找一個(gè)能處理多級不確定性數(shù)據(jù)包傳輸性能的方式。如圖3所示,，在DUT的每個(gè)RF接收測試期間,，測試儀都不知道每個(gè)包會在哪個(gè)測試循環(huán)中傳輸，包的類型會是什么,，或者包的類型是否符合預(yù)期（例如,，RFIC會生成一個(gè)主動的控制狀態(tài)消息）。

圖 3. 由于數(shù)據(jù)包的不確定性,，在一款器件的每次RF接收測試期間,，測試儀不知道每個(gè)包會在哪個(gè)測試循環(huán)中傳輸,，包的類型是什么，或者包的類型是否符合預(yù)期,。

 　　馬上能看出,，測試程序" title="測試程序">測試程序不能在數(shù)字測試模式中采用固定循環(huán)周期的選通隔離所需I/Q數(shù)據(jù)。同樣,，對同步或頭的數(shù)字匹配回路不能以DigRF速度,，足夠快地通過ATE儀器的流水線，儀器也不能完成對頭信息的實(shí)時(shí)識別和決策,。

　　ATE策略的比較

　　傳統(tǒng)生產(chǎn)測試系統(tǒng)有靜態(tài)的選通時(shí)序以及簡單的比較功能（例如H,、L、X,、M,、V、存儲）,，因此它們自身并不具備強(qiáng)大的校準(zhǔn)能力,，以應(yīng)對DigRF器件需要的非確定性。不過,，這類測試儀中的數(shù)字儀器有所需要的數(shù)字捕捉能力,，一般用于ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）輸出數(shù)據(jù)或DUT寄存器讀取操作。因此,，你可以保留在這臺儀器上的投資,，并且采用一種批量捕捉和后處理技術(shù)（block-capture-and-post-processing）應(yīng)對DigRF的RF接收測試挑戰(zhàn)。

　　對于RF接收測試,，一般CW（連續(xù)波）測試需要1kB至4kB的I/Q采樣,，而日益普遍的采用調(diào)制波形的系統(tǒng)級測試則使用16 kB至32 kB的I/Q采樣。注意轉(zhuǎn)換為實(shí)際的串行位：

　　1k I/Q = 1024 • [8 bits (I) + 8 bits (Q)] • 協(xié)議_開銷 = 串行位數(shù)

　　為了解決實(shí)時(shí)情況下的非確定性行為,，測試儀必須提供專為DigRF 3G DUT與數(shù)字捕捉之間編碼的數(shù)字邏輯,。其目標(biāo)是在數(shù)據(jù)到達(dá)測試儀的DSP（數(shù)字信號處理器）前，減輕捕捉時(shí)所出現(xiàn)的所有時(shí)序與數(shù)據(jù)不確定性問題,。
一種測試選擇是在DIB（器件接口板）上設(shè)計(jì)一個(gè)FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列）電路,。這種方法可以用一片廉價(jià)器件提供定制邏輯，但也有三個(gè)麻煩：

•接口以及為電路提供支持信號將會非常復(fù)雜,；
•在隔離與屏蔽能力有限情況下,，在與這些敏感RF信號如此近的地方增加一個(gè)數(shù)字噪聲發(fā)生器，存在著更多的風(fēng)險(xiǎn),；
•為每個(gè)器件負(fù)載板增加元件會使成本上升,，延長測試開發(fā)時(shí)間。

　　作為另一種選擇,，可以采用一臺提供嵌入實(shí)時(shí)功能的數(shù)字測試儀器,，它可以在降低成本的同時(shí)簡化DIB復(fù)雜性,。這種方案的缺點(diǎn)是缺乏測試工程師所需要的靈活性，因?yàn)樗麄円獪y試一組通信協(xié)議,。只針對DigRF的解決方案是不實(shí)用的,。

　　采用這種選擇時(shí)，當(dāng)測試程序知道有RF接收數(shù)據(jù)時(shí),，就能在RxData總線上捕捉到大塊數(shù)據(jù),；這個(gè)塊必須放大到能可靠地捕捉足夠的數(shù)據(jù)包，從而有足夠數(shù)量的I/Q采樣用于后處理算法,。數(shù)據(jù)從數(shù)字儀器的捕捉內(nèi)存送至DSP引擎,，在那里由一個(gè)預(yù)處理算法執(zhí)行一個(gè)三步處理：

•找到每個(gè)包的起始索引,；
•分析每個(gè)包的頭,；
•順序地對有效載荷中的I/Q采樣進(jìn)行去交錯(cuò)操作，并保存在新的獨(dú)立數(shù)組中,。

　　一旦數(shù)據(jù)完成預(yù)處理,，就可以對所需的I/Q數(shù)據(jù)集執(zhí)行用戶定制的處理算法，或?qū)?shù)據(jù)集輸出到其它ATE軟件工具,，測試EVM（誤差矢量幅度）等特性,。

　　這一方法的成功與否取決定于數(shù)據(jù)移動時(shí)間，以及所需處理步驟的效率,。盡量減少總測試時(shí)間的關(guān)鍵是避免與主控PC的不必要交互,，因?yàn)檫@種交互要求測試程序暫停DUT測試的執(zhí)行。如果測試儀具有邊做模式捕捉邊移動數(shù)據(jù)的能力,，則向DSP傳輸數(shù)據(jù)的整個(gè)時(shí)間都被隱蔽在后臺,，測試時(shí)間是零損失。

　　如果測試儀沒有此項(xiàng)功能,，則測試工程師就必須尋找能減少移動數(shù)據(jù)量的方法,。一個(gè)選擇是只捕捉失效數(shù)據(jù)，但這會在DSP中增加一個(gè)重構(gòu)原始數(shù)據(jù)的新處理步驟,；單單這個(gè)不必要的步驟就會增加數(shù)毫秒的關(guān)鍵測試時(shí)間,。

　　一個(gè)完整的DigRF解決方案需要完全在后臺執(zhí)行預(yù)處理算法和I/Q處理。因此,，第三種選擇就需要測試儀架構(gòu)能支持執(zhí)行數(shù)字信號處理算法的專用處理器,，一旦DUT信號捕捉完成，測試程序就能立即開始下一個(gè)測試的設(shè)置,。另外,，多址測試也需要這種后臺處理的并行式高效率。

　　圖4表示這三種選擇對測試時(shí)間的可能影響,。對第一種選擇,，缺乏后臺處理而產(chǎn)生了一個(gè)串行的測試流,，有最長的測試時(shí)間。第三種情況下,，采用了實(shí)時(shí)處理,，似乎最為理想，因?yàn)樗萌笈_處理,，以最高效的方式解決了測試挑戰(zhàn),。

圖 4.  這里顯示的三種測試選擇的測試時(shí)間開銷：(a) 串行執(zhí)行流，(b) 批量捕捉與后處理方案,，(c) 實(shí)時(shí)處理,。

　　不過，批量捕捉和后處理方案也可以有低的測試時(shí)間開銷,，只要數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移是在后臺完成,，并且高效地處理，沒有被浪費(fèi)的步驟,，并有獨(dú)立的多址并行處理器,。有了適當(dāng)?shù)南到y(tǒng)能力，八址程序的預(yù)處理器時(shí)間可以低至數(shù)毫秒,，足以隱藏在一個(gè)典型RF測試時(shí)間中,。