基于GaN HEMT寬帶低噪聲放大器設(shè)計(jì) | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>671 K | |
標(biāo)簽: 低噪聲放大器 氮化鎵 高電子遷移率晶體管 | |
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文檔介紹:為了滿足不同通信標(biāo)準(zhǔn)的要求,,利用氮化鎵高電子遷移率晶體管器件設(shè)計(jì)了一個(gè)高線性度寬頻帶低噪聲放大器,。低噪聲放大器采用兩級(jí)電阻負(fù)反饋結(jié)構(gòu),,利用集總參數(shù)元件和微帶線對(duì)低噪聲放大器的輸入和輸出匹配網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行優(yōu)化,,實(shí)現(xiàn)低噪聲,、高線性度,、寬頻帶和小回波損耗,。在1~3 GHz頻率范圍內(nèi),仿真結(jié)果表明,低噪聲放大器的噪聲噪聲系數(shù)為2.39~3.21 dB,,輸入端反射系數(shù)小于-10.6 dB,,輸出端反射系數(shù)小于-17.9 dB,增益為23.74~25.68 dB,,增益平坦度小于±0.97 dB,,1 dB壓縮點(diǎn)輸出功率大于24.12 dBm,三階交調(diào)截取點(diǎn)輸出功率大于36.55 dBm,。實(shí)際測(cè)試增益為22.08~26.12 dB,,基本符合仿真結(jié)果。 | |
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