基于聚類的密碼芯片頻域側信道分析
所屬分類：技術論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>549 K
標簽： 側信道分析 頻域 機器學習
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文檔介紹：能量跡的對齊問題是影響側信道分析成功率的關鍵因素之一,，頻域側信道分析能夠有效解決能量跡在時域內(nèi)的對齊問題,，但由于頻域內(nèi)一個點對應著時域內(nèi)多個點，頻域側信道分析通常需要比時域側信道分析更多的能量跡條數(shù),。為了減少頻域側信道分析所需能量跡條數(shù),，提出基于聚類的密碼芯片頻域側信道分析方法，通過機器學習中的聚類算法分離出有效信號頻率后,，再進行側信道分析,，從而減少所需能量跡條數(shù)。實驗表明,，所提方法能夠在不同程度上減少頻域側信道分析所需能量跡條數(shù)。
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