基于信號與電源完整性的有效分析優(yōu)化2.5D-3D的設(shè)計(jì) | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>731 K | |
標(biāo)簽: 2.5D/3D設(shè)計(jì) 信號完整性 電源完整性 | |
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文檔介紹:HBM(高帶寬內(nèi)存)存儲系統(tǒng)與傳統(tǒng)的DRAM接口相比,具有高速率和低功耗特性,。在2.5D/3D的設(shè)計(jì)中,隨著HBM速率的提高,,對信號與電源完整性的設(shè)計(jì)的考量越來越重要,,如何通過有效的仿真指導(dǎo)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是一個挑戰(zhàn)。首先從信號完整性的角度討論了設(shè)計(jì)的考量點(diǎn),,其次從電源完整性的角度討論電源噪聲在高速傳輸信號中的影響,,并提出了如何仿真與預(yù)測大量同步開關(guān)噪聲等電源噪聲對眼圖的影響,最后基于芯片的測試結(jié)果對比仿真,,給出結(jié)論,。 | |
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