NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System
所屬分類：解決方案
上傳者：wwei
文檔大?。?span>5016 K
標簽： NI HIL測試 硬件在環(huán)測試
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文檔介紹：NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System 硬件在環(huán)測試（Hardware in the Loop, HIL），是指將真的控制器連接仿真的被控對象（用實時仿真硬件來模擬）,，以一種高效,、低成本的方式對控制器進行全面測試,。 乘著智能汽車的風口，HIL（硬件在環(huán)測試）被業(yè)界所熟知,。更早以前,，HIL測試主要用于航空航天行業(yè),，隨著醫(yī)療、消費電子行業(yè)越來越多使用嵌入式軟件,，HIL測試逐漸在這些行業(yè)普及開來,。
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